一种多用途型激光微电测试检测机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种多用途型激光微电测试检测机构，包括底座主体和滑动测试机构；其中，底座主体包括，底板和负极测试头组件；滑动测试机构包括，导轨滑块组件和正极探针测试头；导轨滑块组件固定连接在底板上；负极测试头组件固定安装在底板上，正极探针测试头固定安装在滑动测试机构上；底板上设置有待测产品安装部，用于放置待测产品，待测产品位于负极测试头组件和正极探针测试头之间。本实用新型专利技术通过机构连接待测产品的正负极进行半成品过程中电性能检测，以替代产品正负极直接连接外置电源，避免了虚接打火产生的瞬时大电流导致激光芯片被击穿。激光芯片被击穿。激光芯片被击穿。

【技术实现步骤摘要】
一种多用途型激光微电测试检测机构


[0001]本技术属于半导体激光行业领域，具体涉及一种多用途型激光微电测试检测机构。

技术介绍

[0002]半导体激光器具备体积小、价格低、效率高、寿命长等优点，广泛应用于材料加工、医疗美容、国防军事、工业泵浦及科学研究等领域。
[0003]半导体激光产品的生产过程中，需要在没有连接电路及引线的情况下，对半成品进行过程中的电性能检测，测试合格后才能进行下一工序，目的是提前发现产品问题，保证产品质量，节省加工成本，提升生产效率。
[0004]然而现有技术中的激光测试均为手动测试，使用外置电源直接搭接至产品正负极，容易导致电源虚接，瞬间形成大电流从而使芯片发生击穿，影响了产品的性能。

技术实现思路

[0005]为了解决现有技术中存在的上述问题，本技术提供了一种多用途型激光微电测试检测机构。本技术要解决的技术问题通过以下技术方案实现：
[0006]本技术提供了一种多用途型激光微电测试检测机构，包括，底座主体和滑动测试机构。
[0007]其中，所述底座主体包括，底板和负极测试头组件；所述滑动测试机构包括，导轨滑块组件和正极探针测试头。
[0008]所述导轨滑块组件固定连接在所述底板上。所述负极测试头组件固定安装在所述底板上，所述正极探针测试头固定安装在所述滑动测试机构上。
[0009]所述底板上设置有待测产品安装部，用于放置待测产品，所述待测产品位于所述负极测试头组件和所述正极探针测试头之间。
[0010]在本技术的一个实施例中，所述底板上表面的两端面位于不同水平面，形成一台阶，较高的一端台面上开设有凹槽，作为待测产品安装部。
[0011]在本技术的一个实施例中，所述负极测试头组件包括，负极测试头和固定块。
[0012]其中，所述固定块置于所述底板较高的一端台面上的凹槽内并与所述底板固定连接；所述负极测试头水平贯穿所述固定块。
[0013]在本技术的一个实施例中，所述导轨滑块组件包括导轨和滑块。
[0014]其中，所述导轨置于所述底板较低的一端台面上，并与所述底板固定连接；所述滑块与所述导轨滑动连接。
[0015]在本技术的一个实施例中，所述滑动测试机构还包括，塑胶连接块、限位螺丝、操作杆和限位螺丝固定片。
[0016]其中，所述塑胶连接块置于所述滑块上表面，并与所述滑块固定连接；所述正极探针测试头水平贯穿所述塑胶连接块。
[0017]所述操作杆位于所述塑胶连接块上表面，并与所述塑胶连接块固定连接；所述限位螺丝固定片一端与所述塑胶连接块连接，另一端位于所述滑块一侧；所述限位螺丝固定片位于所述滑块一侧的端面上贯穿设置有所述限位螺丝，所述限位螺丝用于对所述滑块限位。
[0018]在本技术的一个实施例中，所述负极测试头的头部为球形头。
[0019]在本技术的一个实施例中，所述正极探针测试头为镀金弹性探针，内置有弹簧。
[0020]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0021]1.通过本技术的多用途型激光微电测试检测机构连接待测产品的正负极进行半成品过程中电性能检测，以替代产品正负极直接连接外置电源，避免了虚接打火产生的瞬时大电流导致激光芯片被击穿。
[0022]2.本技术的多用途型激光微电测试检测机构，整体结构可拆卸，通用性高，实用性强，可以适用于多种产品的测试。
[0023]3.本技术的多用途型激光微电测试检测机构，实现了电路隔离，使用绝缘材料使电路与产品主体为绝缘状态，增加了机构使用的安全可靠性。
[0024]上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
[0025]图1是本技术实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的三维结构示意图；
[0026]图2是本技术实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的底座主体结构示意图；
[0027]图3是本技术实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的滑动测试机构结构示意图。
[0028]图标：100
‑
底座主体；101
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底板；102
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负极测试头；103
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固定块；104
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待测产品；200
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滑动测试机构；201
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导轨滑块组件；201
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1导轨；201
‑
2滑块；202
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塑胶连接块；203
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正极探针测试头；204
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限位螺丝；205
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操作杆；206
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限位螺丝固定片。
具体实施方式
[0029]为了进一步阐述本技术为达成预定技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及具体实施方式，对依据本技术提出的一种多用途型激光微电测试检测机构进行详细说明。
[0030]有关本技术的前述及其他
技术实现思路
、特点及功效，在以下配合附图的具体实施方式详细说明中即可清楚地呈现。通过具体实施方式的说明，可对本技术为达成预定目的所采取的技术手段及功效进行更加深入且具体地了解，然而所附附图仅是提供参考与说明之用，并非用来对本技术的技术方案加以限制。
[0031]实施例一
[0032]请参见图1，图1是本技术实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的三维结构示意图。
[0033]如图所示，本实施例的多用途型激光微电测试检测机构包括底座主体100和滑动测试机构200。其中，底座主体100包括，底板101和负极测试头组件。
[0034]在具体实施例中，负极测试头组件包括负极测试头102和固定块103；滑动测试机构200包括导轨滑块组件201和正极探针测试头203。
[0035]具体地，导轨滑块组件201固定连接在底板101上；负极测试头组件固定安装在底板101上，正极探针测试头203固定安装在滑动测试机构200上，待测产品104位于负极测试头组件和正极探针测试头203之间。
[0036]图2是本技术实施例提供的一种多用途型激光微电测试检测机构的底座主体结构示意图。
[0037]如图所示，在具体实施例中，底板101上表面的两端面位于不同水平面，形成一台阶，较高的一端台面上开设有凹槽，作为待测产品安装部，用于放置待测产品104。
[0038]在具体实施例中，固定块103置于底板101较高的一端台面上的凹槽内并与底板101固定连接；负极测试头102水平贯穿固定块103。
[0039]具体地，底板101和固定块103均采用塑胶材质，在满足轻量化的同时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，包括，底座主体(100)和滑动测试机构(200)；其中，所述底座主体(100)包括，底板(101)和负极测试头组件；所述滑动测试机构(200)包括，导轨滑块组件(201)和正极探针测试头(203)；所述导轨滑块组件(201)固定连接在所述底板(101)上；所述负极测试头组件固定安装在所述底板(101)上，所述正极探针测试头(203)固定安装在所述滑动测试机构(200)上；所述底板(101)上设置有待测产品安装部，用于放置待测产品(104)，所述待测产品(104)位于所述负极测试头组件和所述正极探针测试头(203)之间。2.根据权利要求1所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述底板(101)上表面的两端面位于不同水平面，形成一台阶，较高的一端台面上开设有凹槽，作为待测产品安装部。3.根据权利要求1所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述负极测试头组件包括，负极测试头(102)和固定块(103)；其中，所述固定块(103)置于所述底板(101)较高的一端台面上的凹槽内并与所述底板(101)固定连接；所述负极测试头(102)水平贯穿所述固定块(103)。4.根据权利要求1所述的多用途型激光微电测试检测机构，其特征在于，所述导轨滑块组件(201)包括导轨(201
‑
1)和滑块(201
‑
2)；其中，所述导轨(201
‑

【专利技术属性】
技术研发人员：常征，侯友良，宋庆学，李晨，张滨，
申请(专利权)人：西安镭特电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：