物体体积测量方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本公开实施例中提供物体体积测量方法、装置及存储介质，通过对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图，根据所述深度图计算物体高度并识别所述物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标，基于顶点坐标获得所述物体顶面的边长，根据所述物体高度与边长计算所述物体的体积。本方法只需要一次放置被测量物体，并基于深度图一次性成功测量物体的体积，步骤简单且效率高。效率高。效率高。

【技术实现步骤摘要】
物体体积测量方法、装置及存储介质


[0001]本公开涉及图像处理
，尤其涉及物体体积测量方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]快速的测量长方体(譬如包装盒)的体积在现实生活中具有很大的应用。
[0003]在相关技术中，很多基于3D视觉的体积测量方法，大致原理是利用3D视觉进行物体重建，然后查找长方体的对应顶点，测量顶点之间的长度，得到长方体的长宽高，从而得到体积。相关技术是在自由的环境下进行体积的测量。由于图像的遮挡，那么不可避免地需要采用多个视角进行重建。
[0004]相关技术的物体体积测量方法步骤繁琐，效率低。
[0005]专利技术消息
[0006]鉴于以上相关技术的缺点，本公开的目的在于提供物体体积测量方法、装置及存储介质，以解决相关技术中物体体积测量方法步骤繁琐而效率低的问题。
[0007]本公开第一方面提供一种物体体积测量方法，
[0008]对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图；
[0009]根据深度图计算物体高度并识别物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标；
[0010]基于顶点坐标获得物体顶面的边长，根据物体高度与边长计算物体的体积。
[0011]在第一方面的实施例中，识别物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标，包括：
[0012]将深度图映射到RGB图像，得到物体顶面顶点在RGB图像中的二维坐标；
[0013]根据RGB图像与世界坐标系之间的转换矩阵，根据二维坐标计算物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标。/>[0014]在第一方面的实施例中，在对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图之前，物体体积测量方法还包括：
[0015]根据相机的内参外参得到RGB图像与世界坐标系之间的转换矩阵，相机用于采集深度图。
[0016]在第一方面的实施例中，在根据深度图计算物体高度并识别物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标之前，物体体积测量方法还包括：
[0017]利用边缘检测算法，在深度图上识别物体顶面顶点。
[0018]在第一方面的实施例中，根据深度图计算物体高度，包括：
[0019]在载体上未放置物体的情况下，采集载体的深度图并根据载体的深度图得到相机距离载体的高度；
[0020]在载体上放置物体的情况下，根据物体的深度图得到相机距离物体顶面的高度；
[0021]根据相机距离载体的高度以及相机距离物体顶面的高度计算物体高度。
[0022]在第一方面的实施例中，对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图，包括：
[0023]通过相机对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图；
[0024]相机为结构光深度相机、时间飞行法深度相机或双目立体深度相机。
[0025]本公开第二方面还提供一种物体体积测量装置，其包括：
[0026]采集模块，对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图；
[0027]顶点识别模块，根据深度图计算物体高度并识别物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标；
[0028]计算模块，基于顶点坐标获得物体顶面的边长，根据物体高度与边长计算物体的体积。
[0029]在第二方面的实施例中，顶点识别模块具体用于：
[0030]将深度图映射到RGB图像，得到物体顶面顶点在RGB图像中的二维坐标；
[0031]根据RGB图像与世界坐标系之间的转换矩阵，根据二维坐标计算物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标。
[0032]本公开第三方面提供一种计算机装置，包括：通信器、存储器及处理器；通信器用于与外部通信；存储器存储有程序指令；处理器用于运行程序指令以执行如第一方面任一项的物体体积测量方法。
[0033]本公开第四方面提供一种计算机可读存储介质，存储有程序指令，程序指令被运行以执行如第一方面任一项的物体体积测量方法。
[0034]如上，本公开实施例中提供物体体积测量方法、装置及存储介质，通过对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图，根据深度图计算物体高度并识别物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标，基于顶点坐标获得物体顶面的边长，根据物体高度与边长计算物体的体积。本方法只需要一次放置被测量物体，并基于深度图一次性成功测量物体的体积，步骤简单且效率高。
附图说明
[0035]图1展示本公开一种实施例的物体体积测量方法的流程示意图。
[0036]图2展示本公开实施例的物体体积测量方法的原理示意图。
[0037]图3展示本公开另一种实施例的物体体积测量方法的流程示意图。
[0038]图4展示本公开实施例的物体体积测量方法中未放置物体时得到的深度图。
[0039]图5展示本公开实施例的物体体积测量方法中放置物体时得到的深度图。
[0040]图6展示本公开实施例的物体体积测量装置的模块示意图。
[0041]图7展示本公开另一实施例的物体体积测量装置的模块示意图。
[0042]图8展示本公开一种实施例中物体体积测量系统的结构示意图。
[0043]图9展示本公开一实施例中计算机装置的结构示意图。
具体实施方式
[0044]以下通过特定的具体实例说明本公开的实施方式，本领域技术人员可由本公开所揭露的消息轻易地了解本公开的其他优点与功效。本公开还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用系统，本公开中的各项细节也可以根据不同观点与应用系统，在没有背离本公开的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0045]下面以附图为参考，针对本公开的实施例进行详细说明，以便本公开所属技术领
域的技术人员能够容易地实施。本公开可以以多种不同形态体现，并不限定于此处说明的实施例。
[0046]在本公开的表示中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的表示意指结合该实施例或示例表示的具体特征、结构、材料或者特点包括于本公开的至少一个实施例或示例中。而且，表示的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本公开中表示的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
[0047]此外，术语“第一”、“第二”仅用于表示目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或隐含地包括至少一个该特征。在本公开的表示中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0048]为了明确说明本公开，省略与说明无关的器件，对于通篇说明书中相同或类似的构成要素，赋予了相同的参照符号。
[0049]在通篇说明书中，当说某器件与另一器件“连接”时，这不仅包括“直接连接”的情形，也包括在其中间把其它元件置于其间而“间接连接”的情形。另外，当说某种器件“包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物体体积测量方法，其特征在于，包括：对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图；根据所述深度图计算物体高度并识别所述物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标；基于顶点坐标获得所述物体顶面的边长，根据所述物体高度与边长计算所述物体的体积。2.根据权利要求1所述的物体体积测量方法，其特征在于，识别所述物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标，包括：将所述深度图映射到RGB图像，得到所述物体顶面顶点在所述RGB图像中的二维坐标；根据所述RGB图像与世界坐标系之间的转换矩阵，根据所述二维坐标计算所述物体顶面顶点在所述世界坐标系中的坐标。3.根据权利要求2所述的物体体积测量方法，其特征在于，在对平放于载体上的物体采集竖直方向上的深度图之前，所述物体体积测量方法还包括：根据相机的内参外参得到所述RGB图像与所述世界坐标系之间的转换矩阵，所述相机用于采集所述深度图。4.根据权利要求2所述的物体体积测量方法，其特征在于，在根据所述深度图计算物体高度并识别所述物体顶面顶点在世界坐标系中的坐标之前，所述物体体积测量方法还包括：利用边缘检测算法，在所述深度图上识别所述物体顶面顶点。5.根据权利要求1所述的物体体积测量方法，其特征在于，根据所述深度图计算物体高度，包括：在所述载体上未放置所述物体的情况下，采集所述载体的深度图并根据所述载体的深度图得到相机距离所述载体的高度；在所述载体上放置所述物体的情况下，根据所述物体的深度图得到...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵明喜，钱哲弘，
申请(专利权)人：银牛微电子无锡有限责任公司，
类型：发明
国别省市：