本发明专利技术提供了一种光学尺寸测量方法、装置及系统，其中，该方法包括：获取飞行时间相机采集的待测目标的图像信息；对所述图像信息进行处理，获得对应的点云数据；基于所述点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建所述待测目标的近似模型；根据所述待测目标的近似模型，计算所述待测目标的尺寸。本发明专利技术提供的光学尺寸测量方法可以保证对物体测量的精度，并且可以适用于对不同形状的物体进行测量。且可以适用于对不同形状的物体进行测量。且可以适用于对不同形状的物体进行测量。
【技术实现步骤摘要】
一种光学尺寸测量方法、装置及系统
[0001]本专利技术涉及尺寸测量
，尤其涉及一种光学尺寸测量方法、装置及系统。
技术介绍
[0002]近年来，物流行业随着移动互联网和人工智能信息技术的兴起而快速发展，获取物品的体积属性影响物流作业中的收货、拣选、包装、运输等各个环节，可有效控制物流的成本和提升物流效率。因此，测量仪器成为获取物品的体积不可或缺的工具。
[0003]常见的体积测量仪器包括直尺、游标卡尺、卷尺等。
[0004]上述测量仪器在测量物体体积时存在一些局限：如测量精度差、对于不同形状的物体测量缺乏普遍适用性等，这些局限导致在测量过程中需要耗费较大的人力、物力和时间。
技术实现思路
[0005]本专利技术提供一种光学尺寸测量方法、装置及系统，用以解决现有技术中测量仪器精确度差以及测量形状存在局限的缺陷，可以保证对物体测量的精度，并且可以适用于对不同形状的物体进行测量。
[0006]第一方面，本专利技术提供了一种光学尺寸的测量方法，包括：获取飞行时间相机采集的待测目标的图像信息；对所述图像信息进行处理，获得对应的点云数据；基于所述点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建所述待测目标的近似模型；根据所述待测目标的近似模型，计算所述待测目标的尺寸。
[0007]根据本专利技术提供的光学尺寸的测量方法，对所述图像信息进行处理，获得对应的点云数据之前，还包括：在所述图像信息中确定所述待测目标的轮廓线和感兴趣区域；其中，所述待测目标的轮廓线以内为待测目标区域，所述待测目标区域包含在所述感兴趣区域内；基于所述点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建所述待测目标的近似模型之前，还包括：根据所述待测目标的轮廓线对所述感兴趣区域内的点云数据进行分割，确定所述待测目标点云和所述参考地点云。
[0008]根据本专利技术提供的光学尺寸的测量方法，基于所述点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建所述待测目标的近似模型，包括：对所述参考地点云进行平面拟合，确定第一参考平面；对所述待测目标点云进行网络化处理，得到所述待测目标的三维模型；根据所述第一参考平面和所述待测目标的三维模型，确定所述待测目标的第一体边界和所述待测目标的第二体边界；根据所述第一体边界和所述第二体边界，拟合所述待测目标的近似模型。
[0009]根据本专利技术提供的光学尺寸测量方法，确定所述待测目标的第一体边界，包括：将所述待测目标的三维模型投影至所述第一参考平面，得到第一封闭图形；对所述第一封闭图形在所述第一参考平面上进行拟合，得到所述第一体边界。
[0010]根据本专利技术提供的光学尺寸测量方法，确定所述待测目标的第二体边界，包括：选
取所述待测目标的三维模型距离所述第一参考平面最远的一点，作为参考点；根据所述参考点和所述第一参考平面，确定第二参考平面；其中，所述第二参考平面通过所述参考点与所述第一参考平面垂直，且通过或平行于所述第一体边界的最大轴线；将所述待测目标的三维模型投影至所述第二参考平面，得到第二封闭图形；对所述第二封闭图形在所述第二参考平面上进行拟合，得到所述第二体边界。
[0011]根据本专利技术提供的光学尺寸测量方法，所述图像信息包括红外图像和深度图像；在所述图像信息中确定所述待测目标的轮廓线和感兴趣区域，包括：在所述红外图像中确定所述待测目标的轮廓线和感兴趣区域；对所述图像信息进行处理，获得对应的点云数据，包括：对所述深度图像中的所述感兴趣区域进行处理，获得对应的点云数据。
[0012]根据本专利技术提供的光学尺寸测量方法，在所述红外图像中确定所述待测目标的轮廓线和感兴趣区域，包括：对所述红外图像进行边缘检测，确定所述待测目标的轮廓线；从所述轮廓线向外扩展预设的偏移阈值，确定所述感兴趣区域。
[0013]根据本专利技术提供的光学尺寸测量方法，对所述红外图像进行边缘检测，确定所述待测目标的轮廓线之后，还包括：根据所述轮廓线，判断所述待测目标是否完全存在于所述红外图像中；若所述待测目标完全存在于所述红外图像中，从所述轮廓线向外扩展预设的偏移阈值，确定所述感兴趣区域。
[0014]第二方面，本专利技术还提供了一种光学尺寸测量装置，包括:获取模块，用于获取飞行时间相机采集的待测目标的图像信息；处理模块，用于对所述图像信息进行处理，获得对应的点云数据；建模模块，用于基于所述点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建所述待测目标的近似模型；计算模块，用于根据所述待测目标的近似模型，计算所述待测目标的尺寸。
[0015]第三方面，本专利技术还提供了一种光学尺寸测量系统，包括：飞行时间相机，用于采集待测目标的图像信息；根据第二方面所述的光学尺寸测量装置。
[0016]第四方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现所述光学尺寸测量方法的步骤。
[0017]第五方面，本专利技术提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述光学尺寸测量方法的步骤。
[0018]本专利技术提供了一种光学尺寸测量方法、装置及系统，通过获取飞行时间相机采集的待测目标的图像信息；对图像信息进行处理，获得对应的点云数据；基于点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建待测目标的近似模型；根据待测目标的近似模型，计算待测目标的尺寸。利用飞行时间相机采集的图像信息构建物体的近似模型，基于物体的近似模型实现对物体尺寸的测量，其测量的稳定性好，可以保证对物体测量的精度，并且测量范围广，可以适用于对不同形状的物体进行测量，同时其测量操作便捷，可以节约人力、物力和时间。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些
实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1是本专利技术实施例提供的一种光学尺寸测量方法的流程示意图；
[0021]图2是本专利技术实施例提供的构建待测目标的近似模型的流程示意图；
[0022]图3是本专利技术实施例提供的确定待测目标的第一体边界的流程示意图；
[0023]图4是本专利技术实施例提供的对近似圆形进行拟合得到体边界的示意图；
[0024]图5是本专利技术实施例提供的对近似多边形进行拟合得到体边界的示意图；
[0025]图6是本专利技术实施例提供的确定待测目标的第二体边界的流程示意图；
[0026]图7是本专利技术实施例提供的待测目标为箱体的点云效果示意图；
[0027]图8是本专利技术实施例提供的红外图像和深度图像的示意图；
[0028]图9是本专利技术实施例提供的各区域位置关系的示意图；
[0029]图10是本专利技术实施例提供的光学尺寸测量装置的示意图；
[0030]图11是本专利技术实施例提供的光学尺寸测量系统的示意本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光学尺寸测量方法，其特征在于，包括：获取飞行时间相机采集的待测目标的图像信息；对所述图像信息进行处理，获得对应的点云数据；基于所述点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建所述待测目标的近似模型；根据所述待测目标的近似模型，计算所述待测目标的尺寸。2.根据权利要求1所述的光学尺寸测量方法，其特征在于，对所述图像信息进行处理，获得对应的点云数据之前，还包括：在所述图像信息中确定所述待测目标的轮廓线和感兴趣区域；其中，所述待测目标的轮廓线以内为待测目标区域，所述待测目标区域包含在所述感兴趣区域内；基于所述点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建所述待测目标的近似模型之前，还包括：根据所述待测目标的轮廓线对所述感兴趣区域内的点云数据进行分割，确定所述待测目标点云和所述参考地点云。3.根据权利要求1或2所述的光学尺寸测量方法，其特征在于，基于所述点云数据中的待测目标点云和参考地点云，构建所述待测目标的近似模型，包括：对所述参考地点云进行平面拟合，确定第一参考平面；对所述待测目标点云进行网络化处理，得到所述待测目标的三维模型；根据所述第一参考平面和所述待测目标的三维模型，确定所述待测目标的第一体边界和所述待测目标的第二体边界；根据所述第一体边界和所述第二体边界，拟合所述待测目标的近似模型。4.根据权利要求3所述的光学尺寸测量方法，其特征在于，确定所述待测目标的第一体边界，包括：将所述待测目标的三维模型投影至所述第一参考平面，得到第一封闭图形；对所述第一封闭图形在所述第一参考平面上进行拟合，得到所述第一体边界；或者，确定所述待测目标的第二体边界，包括：选取所述待测目标的三维模型距离所述第一参考平面最远的一点，作为参考点；根据所述参考点和所述第一参考平面，确定第二参考平面；其中，所述第二参考平面通过所述参考点与所述第一参考平面垂直，且通过或平行于所述第一体边界的最大轴线；将所述待测目标的三维模型投影至所述第二参考平面，得到第...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄欢，全世红，邓明育，史伟兰，
申请(专利权)人：深圳荆虹科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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