【技术实现步骤摘要】
一种PIN二极管的制备方法
[0001]本专利技术属于半导体生产
,具体的说是一种PIN二极管的制备方法。
技术介绍
[0002]PIN二极管是以后总在传统的P型半导体与N型半导体之间加入一薄层低掺杂的本征半导体层,使其具有低极间电容的特性,由于其可流畅的导通关断,因此其常被应用于高频电子线路中的天线切换器中,且其也逐渐用于低频电路中。
[0003]公开号为CN109103094B的一项中国专利公开了一种混合PIN/肖特基快恢复二极管的制备方法,在设计二极管耐压时根据二极管的击穿电压1300V,通过控制n基区的厚度为107μm,宽度为25μm,浓度为1
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1014cm
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3,使二极管的反向击穿电压接近耐压指标,再通过控制P+区域肖特基接触区域的宽度为6.25μm,使二极管的反向击穿电压为要求的耐压值1300V。
[0004]在对PIN二极管上的光刻胶进行去胶处理时,经常出现光刻胶去除不完全的情况,当光刻胶的去除不完全时,容易对后续PIN二极管各层的生长造成影响,导致生产出的PIN二极管质量较差,甚至会出现PIN二极管无法使用的情况出现。
[0005]为此,本专利技术提供一种PIN二极管的制备方法。
技术实现思路
[0006]为了弥补现有技术的不足,解决
技术介绍
中所提出的至少一个技术问题。
[0007]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:本专利技术所述的一种PIN二极管的制备方法,该制备方法步骤如下:
[0008] ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种PIN二极管的制备方法,其特征在于:该制备方法步骤如下:S1:将SiC衬底放置在真空的反应釜内部,进而将反应釜内部加热到1600
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1700℃,并通过化学气相沉积法,在SiC衬底表面上生成外延层;S2:对SiC衬底生成外延层进行初步氧化,进而向氧化层表面涂上光刻胶,进而对涂胶位置进行曝光定义,以确定N+区的图形;S3:将SiC衬底放置入湿法腐蚀溶液的内部,将未涂抹光刻胶位置处的氧化层去除;S4:将去除氧化层完毕的SiC衬底放置入除胶装置的处理机体处理机体(1)的内部,通过湿法除胶的方式将SiC表面的光刻胶去除;S5:将光刻胶去除完毕的SiC衬底放置入真空的反应釜内部,进而在SiC表面依次生长出N+底层、本征半导体层和P+帽层,该本征半导体层可以是Si、Ge或GaAs的单质层;S6:待最后的P帽层生长完毕后,可对成品进行退火以及降温操作,进而可在成品的外界包括SiO2的保护层,以及将Al质的导体固定在SiO2的内部,且与P+帽层连接,即可得到PIN二极管成品。2.根据权利要求1所述的一种PIN二极管的制备方法,其特征在于:所述除胶装置的工作步骤如下:T1:将搅拌筒(2)侧面的开合门(3)打开,进而向搅拌筒(2)的内部加入适当的有机溶剂后,将粘附有光刻胶的SiC衬底投入搅拌筒(2)的内部,其后将开合门(3)关闭;T2:启动抽风机,使得抽风机从气体通道(4)的一端向另一端抽风,进而可促进搅拌筒(2)内部反应的反应溶解的同时,可对反应过程中产生的尾气进行集中收集;T3:当光刻胶反应溶解完毕后,可通过弹簧带动插杆(9)插入搅拌筒(2)内部的出料孔内部,进而使得搅拌筒(2)内部的SiC衬底与废液通过第一出料道(10)与第二出料道(11)排出搅拌筒(2)的内部,从而可实现光刻胶的去除。3.根据权利要求1所述的一种PIN二极管的制备方法,其特征在于:其中S4中所述的除胶装置包括处理机体(1);所述处理机体(1)的内部转动连接有搅拌筒(2);所述搅拌筒(2)的内部开设有搅拌腔,且搅拌筒(2)的侧壁上安装有开合门(3);所述处理机体(1)的内部开设有气体通道(4);所述搅拌筒(2)的外侧壁上呈环形规律性设有受风叶片(5),且受风叶片(5)设置在对应气体通道(4)的位置处;所述搅拌筒(2)的侧壁上开设有出气孔(201),且出气孔(201)的内部固接有呼吸纸(202)。4.根据权利要求3所述的一种PIN二极管的制备方法,其特征在于:所述处理机体(1)的内部通过扭簧转动连接有偏转板(6);所述偏转板(6)设置在对应气体通道(4)的位置...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄传伟,李健,吕民娟,诸建周,
申请(专利权)人:江苏东海半导体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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