一种物料管理方法及系统技术方案

本申请公开了一种物料管理方法及系统，用以提升半导体领域内的RMA案件办理效率。本申请提供的一种物料管理方法，包括：获取退料审查RMA案件的登记信息，并根据所述登记信息，提取所述RMA案件涉及的半导体产品的测试记录数据；根据所述登记信息中的失效信息，选择所述RMA案件涉及的分析技术领域，并采用所述RMA案件涉及的分析技术领域所对应的分析方法，对所述RMA案件进行分析。述RMA案件进行分析。述RMA案件进行分析。

【技术实现步骤摘要】
一种物料管理方法及系统


[0001]本申请涉及半导体
，尤其涉及一种物料管理方法及系统。

技术介绍

[0002]半导体领域内，发送给客户的IC颗粒(内存条上的RAM芯片)、DIMM(Dual
‑
Inline
‑
Memory
‑
Modules，即双列直插式存储模块)条不可避免会出现缺陷，客户会将问题反馈给公司的退料审查(Return Material Authorization，RMA)案件管理部门。面对不同RMA案件，需要不同部门协作完成案件分析、解决，其中，案件追踪成为了难题，信息同步不及时、责任不明确、案件信息丢失、物料盘点困难等情况均存在，导致RMA案件办理效率低下。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种物料管理方法及系统，用以提升半导体领域内的RMA案件办理效率。
[0004]本申请实施例提供的一种物料管理方法，包括：
[0005]获取退料审查RMA案件的登记信息，并根据所述登记信息，提取所述RMA案件涉及的半导体产品的测试记录数据；
[0006]根据所述RMA案件的登记信息中的失效信息，选择所述RMA案件涉及的分析
，并采用所述RMA案件涉及的分析
所对应的分析方法，对所述RMA案件进行分析；其中，在对所述RMA案件进行分析的过程中，动态计时并输出显示给用户，使得用户获知该过程的办理时效。
[0007]通过所述方法，获取退料审查RMA案件的登记信息，并根据所述登记信息，提取所述RMA案件涉及的半导体产品的测试记录数据；根据所述RMA案件的登记信息中的失效信息，选择所述RMA案件涉及的分析
，并采用所述RMA案件涉及的分析
所对应的分析方法，对所述RMA案件进行分析；从而提升了半导体领域内的RMA案件办理效率。其中，在对所述RMA案件进行分析的过程中，动态计时并输出显示给用户，使得用户获知该过程的办理时效。
[0008]在一些实施方式中，所述登记信息，还包括：
[0009]被客户退回的IC颗粒的条码和/或DIMM的条码。
[0010]在一些实施方式中，所述失效信息，包括：
[0011]所述RMA案件涉及的半导体产品的失效条件；
[0012]所述RMA案件涉及的半导体产品的失效类型。
[0013]在一些实施方式中，所述采用所述RMA案件涉及的分析
所对应的分析方法包括下列方法之一或组合：
[0014]系统级测试分析；自动测试设备分析；终端测试分析；老化测试分析；电信失效分析。
[0015]在一些实施方式中，所述测试记录数据，包括：
[0016]晶圆测试、终端测试、老化测试、系统级测试的测试结果数据。
[0017]在一些实施方式中，在对所述RMA案件进行分析的过程中，将根据所述登记信息提取到的所述RMA案件涉及的半导体产品的测试记录数据作为参考。
[0018]在一些实施方式中，对所述RMA案件进行分析，包括：
[0019]判断是否找到所述RMA案件涉及的半导体产品的不合格的根本原因，如果是，则生成分析报告；否则，转给其他部门对所述RMA案件继续进行分析。
[0020]在一些实施方式中，生成所述分析报告后，所述方法还包括：
[0021]判断是否需要修改所述RMA案件涉及的半导体产品的机台测试程序，如果需要，则修改所述RMA案件涉及的半导体产品的机台测试程序；否则，结束处理。
[0022]在一些实施方式中，修改所述RMA案件涉及的半导体产品的机台测试程序后，所述方法还包括：
[0023]判断所述RMA案件是否涉及其他半导体产品，如果是，则修改所述RMA案件涉及的其他半导体产品的机台测试程序；否则，结束处理。
[0024]本申请实施例提供的一种物料管理系统，包括：
[0025]数据存储模块，用于存储产品的测试记录数据；
[0026]信息录入模块，用于获取退料审查RMA案件的登记信息；
[0027]数据提取模块，用于根据所述登记信息，从所述数据存储模块中提取所述RMA案件涉及的半导体产品的测试记录数据；
[0028]分析模块，用于根据所述RMA案件的登记信息中的失效信息，选择所述RMA案件涉及的分析
，并采用所述RMA案件涉及的分析
所对应的分析方法，对所述RMA案件进行分析。
[0029]在一些实施方式中，所述分析模块还用于：
[0030]将所述RMA案件的登记信息、案件流转过程、分析结论、结案报告进行统一归档，并输出呈现给用户。
[0031]在一些实施方式中，所述分析模块还用于：
[0032]在采用所述RMA案件涉及的分析
所对应的分析方法，对所述RMA案件进行分析的过程中，动态计时并输出显示给用户，使得用户获知该过程的办理时效。
[0033]在一些实施方式中，所述分析模块还用于：
[0034]通过统计各个所述分析
对应的案件处理周期，数据化展示各个所述分析
对应的办理任务量，以及统计并输出显示各个所述分析
的案件办理效率。
[0035]本申请另一实施例提供了一种计算设备，其包括存储器和处理器，其中，所述存储器用于存储程序指令，所述处理器用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序执行上述任一种方法。
[0036]此外，根据实施例，例如提供了一种用于计算机的计算机程序产品，其包括软件代码部分，当所述产品在计算机上运行时，这些软件代码部分用于执行上述所定义的方法的步骤。该计算机程序产品可以包括在其上存储有软件代码部分的计算机可读介质。此外，该计算机程序产品可以通过上传过程、下载过程和推送过程中的至少一个经由网络直接加载到计算机的内部存储器中和/或发送。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本申请的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1为本申请实施例提供的一种物料管理方法的总体流程示意图；
[0039]图2为本申请实施例提供的一种物料管理方法的具体流程示意图；
[0040]图3为本申请实施例提供的一种物料管理系统的结构示意图；
[0041]图4为本申请实施例提供的一种计算设备的结构示意图。
具体实施方式
[0042]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，并不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0043]本申请实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等(如果存在)是用于区别类本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物料管理方法，其特征在于，该方法包括：获取退料审查RMA案件的登记信息，并根据所述登记信息，提取所述RMA案件涉及的半导体产品的测试记录数据；根据所述RMA案件的登记信息中的失效信息，选择所述RMA案件涉及的分析技术领域，并采用所述RMA案件涉及的分析技术领域所对应的分析方法，对所述RMA案件进行分析；其中，在对所述RMA案件进行分析的过程中，动态计时并输出显示给用户，使得用户获知该过程的办理时效。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述登记信息，还包括：被客户退回的IC颗粒的条码和/或DIMM的条码。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述失效信息，包括：所述RMA案件涉及的半导体产品的失效条件；所述RMA案件涉及的半导体产品的失效类型。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用所述RMA案件涉及的分析技术领域所对应的分析方法包括下列方法之一或组合：系统级测试分析；自动测试设备分析；终端测试分析；老化测试分析；电信失效分析。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试记录数据，包括：晶圆测试、终端测试、老化测试、系统级测试的测试结果数据。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在对所述RMA案件进行分析的过程中，将根据所述登记信息提取到的所述RMA案件涉及的半导体产品的测试记录数据作为参考。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述RMA案件进行分析，包括：判断是否找到所述RMA案件涉及的半导体产品的不合格的根本原因，如果是，则生成分析报告；否则，转给其他部门对所述RMA案件继续进行分析。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，生成所述分析报告后，所述方法还包括：判断是否需要修改所述RMA案件涉及的半导体产品的机台测试程序，如果需要，则修改所述RMA案件涉及的半导体产品的机台测试程序；否则，结束处理。9.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：张正旺，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：