本实用新型专利技术适用于芯片检测设备领域，提供了一种用于芯片检测的自动上下料设备，包括机台，机台上设有芯片搬运组件，芯片搬运组件包括可移动的芯片吸头，芯片吸头的侧边设有定位相机，芯片吸头的下方设有芯片定位组件，芯片定位组件包括料盘固定治具和芯片固定治具，料盘固定治具和芯片固定治具相互相邻紧靠设置，芯片吸头在料盘固定治具和芯片固定治具之间往返移动，机台上还设有与芯片固定治具相适配的治具取放盖组件；芯片搬运组件和芯片定位组件配合，将芯片在料盘固定治具和芯片固定治具之间往返移动，完成芯片的自动搬运动作；其次，芯片固定治具和治具取放盖组件配合，在检测前对芯片进行有效固定定位，稳定性好，提高生产效率。效率。效率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片检测的自动上下料设备
[0001]本技术属于芯片检测设备领域，具体涉及到一种用于芯片检测的自动上下料设备。
技术介绍
[0002]集成电路制造工艺中，在安装芯片前，需要把封装好的芯片放在各种环境下测试其电气特性(如运行速度、功耗、频率等)，挑选出失效的芯片，避免其影响后续制成器件的性能。现有技术一般由人工将芯片从料盘中拿起，并放置于对应的定位组件上，并进行手动固定，再送去检测，但是由于芯片一般体积较小，人工不容易将芯片从料盘中拿起，对于手动将芯片放置于定位组件上，人为因素影响很大，稳定性差，在手动定位的过程中芯片容易出现移位，自动化程度低，效率低。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于克服上述现有技术的不足，提供了一种用于芯片检测的自动上下料设备。
[0004]本技术是这样实现的：一种用于芯片检测的自动上下料设备，包括机台，所述机台上设有芯片搬运组件，所述芯片搬运组件包括可移动的芯片吸头，所述芯片吸头的侧边设有定位相机，所述芯片吸头的下方设有芯片定位组件，所述芯片定位组件包括料盘固定治具和芯片固定治具，所述料盘固定治具和所述芯片固定治具相互相邻紧靠设置，所述芯片吸头在所述料盘固定治具和所述芯片固定治具之间往返移动，所述机台上还设有与所述芯片固定治具相适配的治具取放盖组件。
[0005]进一步的，所述芯片搬运组件包括有一设于所述芯片定位组件上方的X轴滑轨，Y轴滑轨通过一驱动板滑动连接于所述X轴滑轨上，所述Y轴滑轨上滑动连接有一连接板，所述连接板上固定有Q轴转动气缸，所述芯片吸头设于所述Q轴转动气缸的输出轴上，所述定位相机设于所述驱动板上。
[0006]进一步的，所述机台上设有大理石龙门架，所述芯片搬运组件设于所述大理石龙门架的一侧，所述治具取放盖组件设于所述大理石龙门架的另一侧，所述芯片定位组件通过一Z轴滑轨在所述芯片搬运组件和所述治具取放盖组件之间往返移动。
[0007]进一步的，所述大理石龙门架上还设有静电消除器，所述静电消除器设于所述芯片搬运组件和所述治具取放盖组件之间，并面向所述芯片吸头的方向设置
[0008]进一步的，所述芯片定位组件包括底块，所述料盘固定治具和所述芯片固定治具均可拆卸连接于所述底块上，所述料盘固定治具的表面开设有若干第一定位槽，所述第一定位槽内设有用于固定料盘的第一固定吸盘。
[0009]进一步的，所述芯片固定治具的表面设有若干第二固定吸盘，底座通过所述第二固定吸盘固定于所述芯片固定治具的表面，所述底座的一侧还设有固定于所述芯片固定治具表面的定位块，所述底座上开设有若干用于放置芯片的第二定位槽，所述底座上可拆卸
连接有上盖，所述上盖对应每一所述第二定位槽的位置均设有限位探针，每一所述限位探针伸入至所述第二定位槽内抵靠于芯片上。
[0010]进一步的，所述底座和所述上盖分别设有磁铁，固定于所述底座上的所述磁铁的磁性和固定于所述上盖上的所述磁铁的磁性相互吸引。
[0011]进一步的，所述治具取放盖组件包括往若干所述底座方向移动的挡块，所述挡块的上方设有两个分别往若干所述上盖的两侧移动的夹爪，所述夹爪在一气缸的驱动下在竖直方向上移动，以驱动每一所述上盖和对应所述底座的分离或组合。
[0012]进一步的，所述上盖的两侧均设有限位槽，所述夹爪设有若干对应每一所述限位槽的限位块，所述限位块嵌入至所述限位槽内，以实现所述夹爪与所述上盖的限位作用。
[0013]进一步的，所述机台上至少设有两组所述芯片定位组件、所述芯片搬运组件和所述治具取放盖组件相互配合。
[0014]本技术提供的一种用于芯片检测的自动上下料设备，芯片搬运组件和芯片定位组件配合，将芯片在料盘固定治具和芯片固定治具之间往返移动，完成芯片的自动搬运动作；其次，芯片固定治具和治具取放盖组件配合，在检测前对芯片进行有效固定定位，全程代替人工作业，大大减少人工干预，稳定性好，大大提高生产效率。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]以下附图仅旨在于对本技术做示意性说明和解释，并不限定本技术的范围。
[0017]图1是本技术提供的结构示意图。
[0018]图2是本技术中所述芯片搬运组件的结构示意图。
[0019]图3是本技术中所述芯片定位组件的结构示意图。
[0020]图4是本技术中所述治具取放盖组件和所述芯片固定治具相互配合的结构示意图。
[0021]图5是本技术中所述底座的结构示意图。
[0022]图6是本技术中所述上盖的结构示意图。
[0023]图7是本技术中所述底座和所述上盖配合的结构示意图。
[0024]附图标号说明：1、机台；2、芯片搬运组件；21、芯片吸头；22、定位相机；23、X轴滑轨；24、Y轴滑轨；25、驱动板；26、Q轴转动气缸；3、芯片定位组件；31、料盘固定治具；311、第一定位槽；32、芯片固定治具；321、底座；322、定位块；323、第二定位槽；324、上盖；325、限位探针；326、磁铁；327、限位槽；33、Z轴滑轨；34、底块；4、治具取放盖组件；41、挡块； 42、夹爪；421、限位块；5、大理石龙门架；51、静电消除器。
具体实施方式
[0025]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施
例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0026]请参阅图1
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图7，为技术公开的一种用于芯片检测的自动上下料设备，包括机台1，所述机台1上设有芯片搬运组件2，所述芯片搬运组件2包括可移动的芯片吸头21，所述芯片吸头21优选用真空吸附的方式搬运芯片，在搬运的过程中能进一步减少对芯片的损伤，所述芯片吸头21的侧边设有定位相机 22。具体的，所述芯片搬运组件2包括有X轴滑轨23，Y轴滑轨24通过一驱动板25滑动连接于所述X轴滑轨23上，所述Y轴滑轨24上滑动连接有一连接板，所述连接板上固定有Q轴转动气缸26，所述芯片吸头21设于所述Q轴转动气缸26的输出轴上，即所述芯片吸头21在所述X轴滑轨23，Y轴滑轨24和Q 轴转动气缸26的驱动下可在X轴方向，Y轴方向和Q轴方向进行多角度位置移动，所述定位相机22设于所述驱动板25上，所述定位相机22也会随着所述芯片吸头21的移动而作相对应的位置变化，便于实施对所述芯片吸头21的作业位置进行拍照定位，并传输至后端设备，以使得所述芯片吸头21能做出准确的位置判断。
[0027]所述芯片吸头21的下方设有芯片定位组件3，所述芯片定位组件本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于芯片检测的自动上下料设备，包括机台(1)，其特征在于：所述机台(1)上设有芯片搬运组件(2)，所述芯片搬运组件(2)包括可移动的芯片吸头(21)，所述芯片吸头(21)的侧边设有定位相机(22)，所述芯片吸头(21)的下方设有芯片定位组件(3)，所述芯片定位组件(3)包括料盘固定治具(31)和芯片固定治具(32)，所述料盘固定治具(31)和所述芯片固定治具(32)相互相邻紧靠设置，所述芯片吸头(21)在所述料盘固定治具(31)和所述芯片固定治具(32)之间往返移动，所述机台(1)上还设有与所述芯片固定治具(32)相适配的治具取放盖组件(4)。2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的自动上下料设备，其特征在于：所述芯片搬运组件(2)包括有一设于所述芯片定位组件(3)上方的X轴滑轨(23)，Y轴滑轨(24)通过一驱动板(25)滑动连接于所述X轴滑轨(23)上，所述Y轴滑轨(24)上滑动连接有一连接板，所述连接板上固定有Q轴转动气缸(26)，所述芯片吸头(21)设于所述Q轴转动气缸(26)的输出轴上，所述定位相机(22)设于所述驱动板(25)上。3.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的自动上下料设备，其特征在于：所述机台(1)上设有大理石龙门架(5)，所述芯片搬运组件(2)设于所述大理石龙门架(5)的一侧，所述治具取放盖组件(4)设于所述大理石龙门架(5)的另一侧，所述芯片定位组件(3)通过一Z轴滑轨(33)在所述芯片搬运组件(2)和所述治具取放盖组件(4)之间往返移动。4.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的自动上下料设备，其特征在于：所述大理石龙门架(5)上还设有静电消除器(51)，所述静电消除器(51)设于所述芯片搬运组件(2)和所述治具取放盖组件(4)之间，并面向所述芯片吸头(21)的方向设置。5.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的自动上下料设备，其特征在于：所述芯片定位组件(3)包括底块(34)，所述料盘固定治具(31)和所述芯片固定治具(32)均可拆卸连接于所述底块(34)上，所述料盘固定治具...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏剑平，刘梦轩，张胜豪，
申请(专利权)人：深圳市华卓实业有限公司，
类型：新型
国别省市：
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