本实用新型专利技术属于硅片生产设备技术领域，公开了一种多晶硅棒生长直径测量装置，包括卷尺，所述卷尺的外壁固定连接有定位标，所述卷尺的尺条活动贯穿定位标，所述卷尺的尺条下端固定连接有束缚夹，所述束缚夹的内端夹有硅棒，所述卷尺包括壳架和弹力座，所述弹力座的内端开设有卡槽，所述定位标包括标座和导罩，所述导罩与标座固定连接为一体，所述定位标还包括指针，所述指针对称固定连接在导罩的下部，所述束缚夹包括滚轮、弹力条、固定座和把手。本实用新型专利技术通过将束缚夹夹在硅棒的下部，然后抽拉卷尺进行测量，直到定位标指在硅棒的上部，再读取卷尺的尺条数据，相对于常规测量工具而言，方便了单人测量。方便了单人测量。方便了单人测量。
【技术实现步骤摘要】
一种多晶硅棒生长直径测量装置
[0001]本技术属于硅片生产设备
，尤其涉及一种多晶硅棒生长直径测量装置。
技术介绍
[0002]硅片生产时，需要先生产多晶硅棒，多晶硅棒的上部和下部呈锥形，主要采用中部柱形部分制成硅片。
[0003]由于多晶硅棒成柱形，且比较长，采用常规的卷尺单人操作时，需要一只手按压尺的一端，再用另一只手拉开进行测量，而两端距离差比较大，操作比较费事，从而造成常规的能量装置不方便测量多晶硅棒的问题。
[0004]为此，我们提出来一种多晶硅棒生长直径测量装置解决上述问题。
技术实现思路
[0005]本技术的目的是为了解决现有技术中，常规的能量装置不方便测量多晶硅棒的问题，而提出的一种多晶硅棒生长直径测量装置。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种多晶硅棒生长直径测量装置，包括卷尺，所述卷尺的外壁固定连接有定位标，所述卷尺的尺条活动贯穿定位标，所述卷尺的尺条下端固定连接有束缚夹，所述束缚夹的内端夹有硅棒。
[0007]通过将束缚夹夹在硅棒的下部，然后抽拉卷尺进行测量，直到定位标指在硅棒的上部，再读取卷尺的尺条数据，相对于常规测量工具而言，方便了单人测量。
[0008]优选的，所述卷尺包括壳架和弹力座，所述弹力座的内端开设有卡槽。
[0009]通过卷尺的尺条收起后，再将弹力座与束缚夹卡合，通过束缚夹稳定弹力座，提高了卷尺收起后，与束缚夹之间状态的稳定性。
[0010]优选的，所述定位标包括标座和导罩，所述导罩与标座固定连接为一体。
[0011]通过标座方便了测量时对准测量终点。
[0012]优选的，所述定位标还包括指针，所述指针对称固定连接在导罩的下部。
[0013]通过指针方便了使用者观察卷尺尺条的刻度。
[0014]优选的，所述束缚夹包括滚轮、弹力条、固定座和把手，所述弹力条对称固定连接在固定座的外端，所述滚轮设置有一对，所述滚轮与弹力条转动连接，所述把手的一端与固定座固定连接。
[0015]通过滚轮减小束缚夹与硅棒对接阻力，同时保障卷尺拉力方向阻力，通过把手方便了手动操作束缚夹。
[0016]优选的，所述束缚夹还包括皮块，所述皮块固定连接在固定座背向把手的一端。
[0017]利用皮块增加固定座与硅棒对接的摩擦力。
[0018]优选的，所述束缚夹还包括挡环，所述挡环固定连接在把手的外端。
[0019]通过挡环稳定固定座与把手的位置。
[0020]综上所述，本技术的技术效果和优点：1、通过将束缚夹夹在硅棒的下部，然后抽拉卷尺进行测量，直到定位标指在硅棒的上部，再读取卷尺的尺条数据，相对于常规测量工具而言，方便了单人测量。
[0021]2、通过滚轮减小束缚夹与硅棒对接阻力，同时保障卷尺拉力方向阻力，通过把手方便了手动操作束缚夹。
附图说明
[0022]图1为本技术的整体结构示意图；
[0023]图2为本技术的卷尺结构示意图；
[0024]图3为本技术的定位标结构示意图；
[0025]图4为本技术的束缚夹结构示意图。
[0026]图中：1、硅棒；2、卷尺；3、定位标；4、束缚夹；21、壳架；22、弹力座；23、卡槽；31、标座；32、导罩；33、指针；41、滚轮；42、弹力条；43、皮块；44、固定座；45、把手；46、挡环。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0028]请参阅图1，一种多晶硅棒生长直径测量装置，包括卷尺2，卷尺2的外壁固定连接有定位标3，卷尺2的尺条活动贯穿定位标3，卷尺2的尺条下端固定连接有束缚夹4，束缚夹4的内端夹有硅棒1。使用时，先将束缚夹4夹在硅棒1的下部，然后抽拉卷尺2进行测量，直到定位标3指在硅棒1的上部，再读取卷尺2的尺条数据。
[0029]请参阅图2，卷尺2包括壳架21和弹力座22，弹力座22的内端开设有卡槽23。需要收起卷尺2时，将卷尺2的尺条收起后，再将弹力座22与束缚夹4卡合，通过束缚夹4稳定弹力座22，保持壳架21状态。
[0030]请参阅图2和3，定位标3包括标座31和导罩32，标座31和导罩32的上端固定连接在壳架21固定连接，导罩32活动套在卷尺2的尺条上，导罩32与标座31固定连接为一体。标座31的下端用于指向硅棒1的测量终点。
[0031]请参阅图3，定位标3还包括指针33，指针33对称固定连接在导罩32的下部，指针33与卷尺2的尺条活动接触。指针33用于指向卷尺2尺条的刻度。
[0032]请参阅图1和4，束缚夹4包括滚轮41、弹力条42、固定座44和把手45，卷尺2的尺条下端固定连接在固定座44的上端，滚轮41滚动支撑在硅棒1的外端，弹力条42对称固定连接在固定座44的外端，滚轮41设置有一对，滚轮41与弹力条42转动连接，把手45的一端与固定座44固定连接。需要夹紧时，手动操作把手45，将滚轮41抵在硅棒1外壁，然后利用滚轮41沿硅棒1滚动使弹力条42罩在硅棒1的外侧，利用滚轮41与硅棒1夹紧，同时利用固定座44压在硅棒1外壁，稳定束缚夹4的位置。
[0033]请参阅图4，束缚夹4还包括皮块43，皮块43固定连接在固定座44背向把手45的一端。固定座44通过皮块43与硅棒1接触。
[0034]请参阅图2和4，束缚夹4还包括挡环46，挡环46固定连接在把手45的外端。当弹力
座22套在把手45外端后，使卡槽23卡在把手45的外壁，利用挡环46稳定固定座44与把手45的位置。
[0035]工作原理：操作时，手动操作把手45，将滚轮41抵在硅棒1外壁，然后利用滚轮41沿硅棒1滚动使弹力条42罩在硅棒1的外侧，利用滚轮41与硅棒1夹紧，同时利用固定座44压在硅棒1外壁，稳定束缚夹4的位置，利用皮块43增加固定座44与硅棒1之间的摩擦力，然后操作壳架21进行测量，测量时，将标座31的下端抵在硅棒1上，读取指针33所指的刻度。
[0036]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多晶硅棒生长直径测量装置，包括卷尺（2），其特征在于：所述卷尺（2）的外壁固定连接有定位标（3），所述卷尺（2）的尺条活动贯穿定位标（3），所述卷尺（2）的尺条下端固定连接有束缚夹（4），所述束缚夹（4）的内端夹有硅棒（1）。2.根据权利要求1所述的一种多晶硅棒生长直径测量装置，其特征在于：所述卷尺（2）包括壳架（21）和弹力座（22），所述弹力座（22）的内端开设有卡槽（23）。3.根据权利要求1所述的一种多晶硅棒生长直径测量装置，其特征在于：所述定位标（3）包括标座（31）和导罩（32），所述导罩（32）与标座（31）固定连接为一体。4.根据权利要求3所述的一种多晶硅棒生长直径测量装置，其特征在于：所述定位标（3）还包括指针（33），所述指针（33）对称...
【专利技术属性】
技术研发人员：柴等朋，叶慧慧，张银平，张紫坪，
申请(专利权)人：新疆贤安新材料有限公司，
类型：新型
国别省市：
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