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一种太阳能多晶硅片检测系统技术方案

技术编号:35021606 阅读:26 留言:0更新日期:2022-09-24 22:51
本发明专利技术属于太阳能多晶硅片技术领域,具体的说是一种太阳能多晶硅片检测系统,该系统包括传送单元、检测单元和分选单元,传送单元通过传送机将硅片传送至检测单元内进行检测,传送单元包括传送机,传送机包括主体、传送辊、电机、检测单元和收集机构;通过设置收集机构,当检测出隐裂硅片时,主体通过内部设置的控制器控制挤压组件运行,挤压组件接触并挤压夹持板,从而将夹持板中的隐裂硅片完整取下,减少检测人员清理检测单元内碎片所花费的时间,提高检测单元的检测效率,避免隐裂硅片碎裂成小碎片而造成难以清理的现象。碎片而造成难以清理的现象。碎片而造成难以清理的现象。

【技术实现步骤摘要】
一种太阳能多晶硅片检测系统


[0001]本专利技术属于太阳能多晶硅片
,具体的说是一种太阳能多晶硅片检测系统。

技术介绍

[0002]太阳能多晶硅片是太阳能电池片的载体,由于太阳能发电板厚度通常是1

2厘米不等,因为包含了铝合金框架,从而迫使组成太阳能板的硅片只有1

10毫米厚度。硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低,因此需要对硅片进行专业的检测。太阳能多晶硅片检测系统的应用不仅提高了工作效率,还反映了每一张硅片的质量,为后续制造出更高发电效率的光伏组件提供了有力保障。太阳能多晶硅片检测系统主要是由传送单元、检测单元和分选单元3个部分组成;其中太阳能多晶硅片检测系统在对硅片进行检测前,需要利用传送单元将硅片传送至检测单元中,现有技术中运用在太阳能多晶硅片检测系统内的传送单元普遍使用传送机。
[0003]在利用传送机将硅片传动至检测单元内时,检测人员首先将硅片从进料端放置在夹板中,控制器控制传送机运行,电机带动传送辊转动,传送辊带动传送带运转,传送带带动夹板移动,夹板带动硅片向检测单元内传送;但在对较厚的硅片检测过程中,首先对硅片的外观进行检测,而隐裂是硅片外观上较大的缺陷,如果不能及时阻止隐裂硅片进入检测单元内,那么硅片在检测单元内部进行传送时,传送带在传送过程中的震动传导至夹板上,进而再传导至硅片自身,导致硅片在传送过程中受传送带震动影响而碎裂,硅片的碎片掉落在检测单元内的各个模组或者器件内,使得检测单元发生误判或者报警,检测人员需要频繁的停止检测来收集隐裂硅片,从而影响检测单元对硅片的检测效率。
[0004]鉴于此,本专利技术提出了一种太阳能多晶硅片检测系统,解决了在检测单元内,隐裂硅片在传送过程中受传送带震动影响而碎裂,硅片的碎片掉落在检测单元内的各个模组或者器件内,检测人员需要频繁的停止检测来收集隐裂硅片,从而影响检测单元对硅片的检测效率的问题。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种太阳能多晶硅片检测系统,解决了在检测单元内,隐裂硅片在传送过程中受传送带震动影响而碎裂,硅片的碎片掉落在检测单元内的各个模组或者器件内,检测人员需要频繁的停止检测来收集隐裂硅片,从而影响检测单元对硅片的检测效率的技术问题;
[0006]为实现以上目的,本专利技术通过以下技术方案实现:
[0007]本专利技术提出一种太阳能多晶硅片检测系统,该系统包括传送单元、检测单元和分选单元,传送单元通过传送机将硅片传送至检测单元内进行检测,传送单元包括传送机,传送机包括:
[0008]主体;
[0009]传送辊,传送辊均匀转动连接于主体内,且传送辊上套设有传送带,传送带用于带动硅片移动并通过检测单元;
[0010]电机,电机安装于主体一侧,且电机的输出端与传送辊的一端固连;
[0011]检测单元,检测单元安装于主体顶部,检测单元用于对传送带上的硅片进行检测;
[0012]收集机构,收集机构安装于检测单元内,且收集机构用于对检测出隐裂的硅片进行收集;收集机构包括:
[0013]夹持板,夹持板均匀固连于传送带上,夹持板用于夹持并带动硅片移动;
[0014]挤压组件,挤压组件安装于检测单元内。
[0015]优选的,夹持板包括:
[0016]一号板,一号板均匀固连于传送带上;
[0017]二号板,二号板安装于一号板一侧,且二号板底部与一号板底部为铰接设置,二号板与一号板通过扭簧连接;二号板靠近一号板的一侧开设有一号槽,一号槽用于放置硅片;
[0018]挤压组件包括:
[0019]一号块,一号块安装于检测单元内,且一号块位于检测单元中隐裂模组后方位置;
[0020]凹槽,凹槽开设于一号块对应夹持板的位置;
[0021]滑槽,滑槽开设于一号块上靠近传送带进料端的位置;
[0022]挤压杆,挤压杆滑动连接于滑槽内,且挤压杆一端位于凹槽内,另一端位置一号块上方;
[0023]电动推杆,电动推杆固连于一号块顶部,且电动推杆的输出端与挤压杆的一端固连。
[0024]优选的,挤压杆横截面为三角形。
[0025]一号板和二号板靠近一号块的一端倒角设置,且一号板和二号板的倒角相互接触形成V形口。
[0026]优选的,一号槽内滑动连接有推板,且推板与一号槽通过复位弹簧连接,未工作时,推板位于一号槽底部位置。
[0027]一号板对应推板的位置开设有二号槽,推板靠近一号板的一侧固连有限位板,未工作时,限位板位于二号槽内。
[0028]优选的,夹持板上均安装有信号接发组件,电动推杆上安装有信号感应组件,信号感应组件用于接收信号接发组件发出的信号。
[0029]优选的,传送带外表面为弧形,且主体对应一号块的位置开设有收集孔,且收集孔位于主体靠近二号板的一侧,主体外表面对应收集孔的位置固连有收集盒。
[0030]传送带上固连有一号膜。
[0031]一号膜为易滑材料。
[0032]本专利技术的有益效果如下:
[0033]1.本专利技术所述一种太阳能多晶硅片检测系统,通过设置收集机构,当检测出隐裂硅片时,主体通过内部设置的控制器控制挤压组件运行,挤压组件接触并挤压夹持板,从而将夹持板中的隐裂硅片完整取下,减少检测人员清理检测单元内碎片所花费的时间,提高检测单元的检测效率,避免隐裂硅片碎裂成小碎片而造成难以清理的现象。
[0034]2.本专利技术所述一种太阳能多晶硅片检测系统,通过设置推板,挤压杆挤入一号板
与二号板之间并将一号板与二号板分离后,二号板以铰接处转动,二号板转动带动推板转动,推板转动带动限位板转动离开二号槽,由于硅片放置在限位板和二号板之间,且由推板所支撑,限位板转动带动硅片进行倾倒,提高硅片的收集效率,进而提高检测机构的检测效率。
附图说明
[0035]下面结合附图对本专利技术作进一步说明。
[0036]图1是本专利技术的立体图;
[0037]图2是本专利技术的剖视图;
[0038]图3是图2中A处的局部放大图;
[0039]图4是图2中B处的局部放大图;
[0040]图5是本专利技术中夹持板打开时的工作示意图;
[0041]图6是本专利技术中夹持板的结构示意图;
[0042]图中:主体1、传送辊11、传送带12、电机13、检测单元14、收集机构15、夹持板2、一号板21、二号板22、一号槽23、推板24、二号槽25、限位板26、挤压组件3、一号块31、凹槽32、滑槽33、挤压杆34、电动推杆35、收集孔4、收集盒5、一号膜6。
具体实施方式
[0043]为使本专利技术实施例的目的、技术手段和优点更加清楚,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种太阳能多晶硅片检测系统,该系统包括传送单元、检测单元(14)和分选单元,传送单元通过传送机将硅片传送至检测单元(14)内进行检测,传送单元包括传送机,其特征在于:传送机包括:主体(1);传送辊(11),传送辊(11)均匀转动连接于主体(1)内,且传送辊(11)上套设有传送带(12),传送带(12)用于带动硅片移动并通过检测单元(14);电机(13),电机(13)安装于主体(1)一侧,且电机(13)的输出端与传送辊(11)的一端固连;检测单元(14),检测单元(14)安装于主体(1)顶部,检测单元(14)用于对传送带(12)上的硅片进行检测;收集机构(15),收集机构(15)安装于检测单元(14)内,且收集机构(15)用于对检测出隐裂的硅片进行收集;收集机构(15)包括:夹持板(2),夹持板(2)均匀固连于传送带(12)上,夹持板(2)用于夹持并带动硅片移动;挤压组件(3),挤压组件(3)安装于检测单元(14)内。2.根据权利要求1所述的一种太阳能多晶硅片检测系统,其特征在于:夹持板(2)包括:一号板(21),一号板(21)均匀固连于传送带(12)上;二号板(22),二号板(22)安装于一号板(21)一侧,且二号板(22)底部与一号板(21)底部为铰接设置,二号板(22)与一号板(21)通过扭簧连接;二号板(22)靠近一号板(21)的一侧开设有一号槽(23),一号槽(23)用于放置硅片;挤压组件(3)包括:一号块(31),一号块(31)安装于检测单元(14)内,且一号块(31)位于检测单元(14)中隐裂模组后方位置;凹槽(32),凹槽(32)开设于一号块(31)对应夹持板(2)的位置;滑槽(33),滑槽(33)开设于一号块(31)上靠近传送带(12)进料端的位置;挤压杆(34),挤压杆(34)滑动连接于滑槽(33)内,...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐刚吴峻
申请(专利权)人:徐刚
类型:发明
国别省市:

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