本申请提供了一种多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置，包括工控机、PXI卡、配套电缆以及控制单元，中转测试装置可以与相控阵天线的波控器及工控机进行通信，对天线的方向图进行自动化测试，降低测试复杂度和成本，提高测试效率；所述PXI卡包括：FPGA电路、PXI接口控制电路、串行EEPROM电路、隔离PCM激励和接收通道、时钟电路和电源模块；所述隔离PCM激励和接收通道的数据信号输入输出端与外部接口和FPGA电路相连，所述FPGA电路的数据信号输入输出端与PXI总线接口电路的本地输入输出端相连，PXI总线接口控制电路的数据信号输入输出端与PXI总线相连，串行EEPROM电路的数据信号输入输出端与PXI总线接口控制电路相连，时钟电路的输出端与FPGA电路相连。电路的输出端与FPGA电路相连。电路的输出端与FPGA电路相连。
【技术实现步骤摘要】
一种多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置
[0001]本专利技术涉及天线
，具体涉及一种多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置。
技术介绍
[0002]应用于火箭的相控阵天线可以精确对准中继卫星，将火箭产生的大容量遥测数据实时回传。随着新一代运载领域的发展，航天、军事领域对相控阵天线的需求剧增，对相控阵天线自动化测试系统提出了更高的可靠性、便捷性、通用性要求。
技术实现思路
[0003]基于上述问题，本专利技术提供了一种多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置，包括工控机、PXI卡、配套电缆以及控制单元；
[0004]所述PXI卡包括：FPGA电路、PXI接口控制电路、串行EEPROM电路、隔离PCM激励和接收通道、时钟电路和电源模块；
[0005]所述隔离PCM激励和接收通道的数据信号输入输出端与外部接口和FPGA电路相连，所述FPGA电路的数据信号输入输出端与PXI总线接口电路的本地输入输出端相连，PXI总线接口控制电路的数据信号输入输出端与PXI总线相连，串行EEPROM电路的数据信号输入输出端与PXI总线接口控制电路相连，时钟电路的输出端与FPGA电路相连。
[0006]在一个可能的实现方式中，所述隔离PCM激励和接收通道由电源隔离电路、光耦隔离电路、PCM激励接口电路和PCM接收接口电路组成，实现隔离PCM激励和接收功能。
[0007]在一个可能的实现方式中，所述FPGA电路由接口控制单元、总线读写控制单元、时钟同步单元、PCM激励单元、PCM接收单元、中断处理单元和缓存单元组成，产生总线控制逻辑时序。
[0008]在一个可能的实现方式中，中央处理器模块使用通用型FPGA。
[0009]在一个可能的实现方式中，RTC实时控制器通过RS422接口向PXI卡发送控制指令，PXI卡收到指令后向箭载相控阵天线发送波位转换指令。
[0010]在一个可能的实现方式中，PXI卡通过RS422接口接收箭载相控阵天线发送遥测数据帧。
[0011]在一个可能的实现方式中，隔离PCM激励和接收通道包括多个，组合成多通道实现并行PCM激励和接收；采用隔离电路，各个隔离PCM激励和接收通道电气隔离。
[0012]由于上述技术方案的运用，本专利技术与现有技术相比具有下列有益效果：本申请提供的多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置，采用通用测试设备测试多种箭载相控阵天线，协议涵盖不同相控阵天线，可支持现役多型相控阵天线的自动化测试。
[0013]本申请采用中转测试装置，通过协议转换、信号控制，可使通用测试设备测试多种自研箭载相控阵天线。可以降低天线测试成本，简化天线测试系统复杂度，提高天线测试的可靠性和通用性。
[0014]该中转测试装置可以与相控阵天线的波控器及工控机进行通信，对天线的方向图进行自动化测试。确保采用通用测试设备测试多种箭载相控阵天线，在降低测试复杂度、降低测试成本与提高测试相控阵天线效率等方面均优于传统相控阵天线测试系统。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本申请一示例性实施例的各个模块连接示意图；
[0017]图2为本申请一示例性实施例的RTC实时控制器和PXI卡信号时序图；
[0018]图3为本申请一示例性实施例的PXI卡原理结构框图；
[0019]图4是本申请一示例性实施例的PXI卡FPGA电路功能组成框图。
具体实施方式
[0020]下面结合具体实施例对本专利技术进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本专利技术，但不以任何形式限制本专利技术。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变化和改进。这些都属于本专利技术的保护范围。
[0021]为了更好的说明本专利技术，下方结合附图对本专利技术进行详细的描述。
[0022]如图1至图4所示，一种多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置，包括工控机、PXI卡、若干配套电缆以及控制软件等组成。其中PXI卡包括FPGA电路、PXI接口控制电路、串行EEPROM电路、隔离PCM激励和接收通道、时钟电路和电源模块。
[0023]所述隔离PCM激励和接收通道的数据信号输入输出端与外部接口和FPGA电路相连，FPGA电路的数据信号输入输出端与PXI总线接口电路的本地输入输出端相连，PXI总线接口控制电路的数据信号输入输出端(地址信号、数据信号和控制信号)与PXI总线相连，串行EEPROM电路的数据信号输入输出端与PXI总线接口控制电路相连，时钟电路的输出端与FPGA电路相连，其中电源模块为其他单元供电。
[0024]RTC实时控制器通过RS422接口向PXI卡发送控制指令，PXI卡通过RS422接口向箭载相控阵天线发送波位转换指令，相控阵天线通过RS422接口向PXI卡返回遥测数据帧。本专利技术测试相控阵天线的64个波位，当从1号至64号波位循环一圈后，再从1号波位开始测试。
[0025]使用通用型FPGA进行信息处理、PXI总线通信；使用局域网LAN通信进行RTC实时控制器与测试设备工控机的信息交互。
[0026]综上所述，本专利技术采用上述方案。隔离PCM激励和接收通道可以是N个组合成多通道实现并行PCM激励和接收功能，扩展性强；并且采用隔离电路，将各个隔离PCM激励和接收通道进行电气隔离，提高可靠性，后期可以增加同时对多个相控阵天线的测试。
[0027]本文中应用了具体个例对专利技术构思进行了详细阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本专利技术的核心思想。应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离该专利技术构思的前提下，所做的任何显而易见的修改、等同替换或其他改进，均应包含在本专利技术
的保护范围之内。
[0028]本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的专利技术后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本
中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性地，本申请的真正范围和精神由上述的权利要求指出。
[0029]应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。
[0030]应当理解的是，在本文中提及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0031]本领域普通技术人员可以理解实现本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置，其特征在于，包括工控机、PXI卡、配套电缆以及控制单元；所述PXI卡包括：FPGA电路、PXI接口控制电路、串行EEPROM电路、隔离PCM激励和接收通道、时钟电路和电源模块；所述隔离PCM激励和接收通道的数据信号输入输出端与外部接口和FPGA电路相连，所述FPGA电路的数据信号输入输出端与PXI总线接口电路的本地输入输出端相连，PXI总线接口控制电路的数据信号输入输出端与PXI总线相连，串行EEPROM电路的数据信号输入输出端与PXI总线接口控制电路相连，时钟电路的输出端与FPGA电路相连。2.根据权利要求1所述一种多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置，其特征在于，所述隔离PCM激励和接收通道由电源隔离电路、光耦隔离电路、PCM激励接口电路和PCM接收接口电路组成，实现隔离PCM激励和接收功能。3.根据权利要求1所述一种多探头球面近场自动化测试系统中转测试装置，...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙重希，郭颖，徐建萍，熊伟，李晓龙，
申请(专利权)人：上海航天测控通信研究所，
类型：发明
国别省市：
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