一种OLED老化测试夹具制造技术

本实用新型专利技术提出了一种OLED老化测试夹具，包括电路板、模组、探针和盖板，所述模组放置于电路板上，所述模组设置有多个阶梯槽，所述阶梯槽包括工位槽和探针槽，所述工位槽用于放置OLED产品，所述探针槽中放置有一组探针；所述探针一端连接所述电路板，另一端用于连接所述OLED产品；所述盖板与所述模组可拆卸地连接，以将所述OLED产品固定于所述模组中。本实用新型专利技术提出的一种OLED老化测试夹具，通过在所述模组设置多个用于放置OLED产品的工位槽，所述盖板与所述模组连接，将所述OLED产品固定于所述模组中，该夹具可以同时实现多个OLED产品的老化测试，且通过盖板对多个OLED产品进行固定，结构更加小巧紧凑，且实现了OLED产品的批量化测试，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种OLED老化测试夹具


[0001]本技术涉及电子显示器件测试设备
，特别涉及一种OLED老化测试夹具。

技术介绍

[0002]OLED(Organic Light
‑
Emitting Diode)又称有机发光半导体，是一种电流型的有机发光器件。OLED显示屏具有轻薄、亮度高、功耗低、响应快、清晰度高、柔性好、发光效率高等优点，能满足消费者对显示技术的新需求。
[0003]为提高产品的出厂良率并降低产品在使用中的故障率，在OLED生产的终端环节会进行一些可靠性试验。其中长时间点亮OLED进行老化试验是其中一个环节。此环节具有同一时间待测试产品数量多及老化时间长等特点。

技术实现思路

[0004]本技术申请人发现：现有的OLED老化测试夹具一般为扳手式垂直夹钳压紧结构，这种结构体积较大，且不能实现批量化测试，测试的效率较低。鉴于上述问题，有必要提出一种OLED老化测试夹具以解决或部分解决上述问题，本技术提出的技术方案如下：
[0005]本技术提出了一种OLED老化测试夹具，包括电路板、模组、探针和盖板，其中：
[0006]所述模组放置于电路板上，所述模组设置有多个阶梯槽，所述阶梯槽包括工位槽和探针槽，所述工位槽用于放置OLED产品，所述探针槽中放置有一组探针；
[0007]所述探针一端连接所述电路板，另一端用于连接所述OLED产品；
[0008]所述盖板与所述模组可拆卸地连接，以将所述OLED产品固定于所述模组中。
[0009]进一步的，所述工位槽中开有多个阶梯孔，所述阶梯孔中间部位的直径大于两端部位的直径；
[0010]所述探针放置于所述阶梯孔中，所述探针的形状与所述阶梯孔相对应。
[0011]进一步的，所述探针采用高频双头测试探针，所述探针中部设置有弹簧伸缩结构，以使得所述探针的两端能伸缩。
[0012]进一步的，所述工位槽的尺寸大于所述OLED产品的外形尺寸。
[0013]进一步的，所述工位槽的侧壁设置有第一缺口，所述探针槽的侧壁设置有第二缺口。
[0014]进一步的，所述模组包括自上而下依次放置的上层板、中层板和下层板，所述上层板上设置有第一通孔，所述中层板上设置有第二通孔，所述下层板设置有第三通孔，所述第二通孔的直径大于所述第一通孔和第三通孔的直径，所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔形成所述阶梯孔，所述工位槽贯穿于所述上层板、中层板和下层板。
[0015]进一步的，所述上层板设置有至少两个第一卡槽，所述盖板的侧面设置有与所述第一卡槽对应的挂钩，所述盖板与所述模组装配为一体时所述挂钩与所述第一卡槽配合，以使得所述OLED产品固定于所述模组中。
[0016]进一步的，所述模组还包括中框，所述中框设置于所述上层板上方，所述中框设置有至少两个第二卡槽，所述盖板的侧面设置有与所述第二卡槽对应的挂钩，所述盖板与所述模组装配为一体时所述挂钩与所述第二卡槽配合。
[0017]进一步的，所述挂钩与所述盖板通过销轴连接，所述挂钩与所述盖板之间还设置有弹簧。
[0018]进一步的，所述盖板设置有凸起，所述盖板与所述模组装配为一体时，所述凸起穿过所述中框的容纳空间且抵压所述OLED产品。
[0019]进一步的，所述凸起采用非导电树脂材料。
[0020]进一步的，所述盖板上设置有与所述工位槽对应的观察窗。
[0021]基于上述技术方案，本技术较现有技术而言的有益效果为：
[0022]本技术提出了一种OLED老化测试夹具，通过在所述模组设置多个用于放置OLED产品的工位槽，所述盖板与所述模组连接，将所述OLED产品固定于所述模组中，该夹具可以同时实现多个OLED产品的老化测试，且通过盖板对多个OLED产品进行固定，结构更加小巧紧凑，且实现了OLED产品的批量化测试，提高了测试效率。
附图说明
[0023]图1是本技术实施例中，OLED老化测试夹具的结构示意图；
[0024]图2是本技术实施例中，OLED老化测试夹具去掉盖板的结构示意图；
[0025]图3是本技术实施例中，盖板和挂钩的结构示意图；
[0026]图4是本技术实施例中，探针的结构示意图；
[0027]图5是本技术实施例中，盖板和挂钩的局部视图的剖视图。
具体实施方式
[0028]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0029]本技术实施例提出了一种OLED老化测试夹具，参照图1
‑
图5所示，包括电路板1、模组2、探针3和盖板4，其中：
[0030]所述模组2放置于电路板1上且与所述电路板1连接，所述模组2设置有多个阶梯槽21，所述阶梯槽21包括工位槽211和探针槽212，所述工位槽211用于放置OLED产品，所述探针槽212中放置有一组探针3；
[0031]所述探针3一端连接所述电路板1，另一端用于连接所述OLED产品；
[0032]所述盖板4与所述模组2连接，以将所述OLED产品固定于所述模组2中。
[0033]具体的，本实施例中，根据OLED产品的外形尺寸设计了一款3
×
3布局的9宫格夹具，工位槽211有9个，通过探针3连接所述电路板1和所述OLED产品，以形成测试线路，盖板4将所述OLED产品固定于所述模组2中，可进行老化测试。工位槽211还可以按2
×
3或者4
×
4的宫格布置。当然，工位槽211的数量和放置方式不限于本实施例中显示的一种，可以根据实际的OLED产品尺寸和测效率需求进行设置。
[0034]本技术实施例提出的OLED老化测试夹具，通过在所述模组2设置多个用于放
置OLED产品的工位槽211，所述盖板4与所述模组2连接，将所述OLED产品固定于所述模组2中，该夹具可以同时实现多个OLED产品的老化测试，且通过盖板4对多个OLED产品进行固定，结构更加小巧紧凑，且实现了OLED产品的批量化测试，提高了测试效率。
[0035]在一个具体实施例中，所述工位槽211中开有多个阶梯孔，所述阶梯孔中间部位的直径大于两端部位的直径；所述探针3放置于所述阶梯孔中，所述探针3为阶梯状，中间部位的直径大于两端的直径，所述探针3中间部位的直径等于所述阶梯孔中间部位的直径，以避免所述探针3从所述阶梯孔中脱出。具体的，所述阶梯孔中间部位的直径设置为0.5
‑
0.6mm，两端部位的直径设置为0.3
‑
0.5mm；探针3中间部位的直径为0.4
‑
0.6mm，两端的直径为0.2
‑
0.4mm，如此设置，探针3中间部分卡在阶梯孔的中间部位中，探针3不会从阶本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OLED老化测试夹具，其特征在于，包括电路板、模组、探针和盖板，其中：所述模组放置于电路板上，所述模组设置有多个阶梯槽，所述阶梯槽包括工位槽和探针槽，所述工位槽用于放置OLED产品，所述探针槽中放置有一组探针；所述探针一端连接所述电路板，另一端用于连接所述OLED产品；所述盖板与所述模组可拆卸地连接，以将所述OLED产品固定于所述模组中。2.如权利要求1所述的OLED老化测试夹具，其特征在于，所述工位槽中开有多个阶梯孔，所述阶梯孔中间部位的直径大于两端部位的直径；所述探针放置于所述阶梯孔中，所述探针的形状与所述阶梯孔相对应。3.如权利要求2所述的OLED老化测试夹具，其特征在于，所述探针采用高频双头测试探针，所述探针中部设置有弹簧伸缩结构，以使得所述探针的两端能伸缩。4.如权利要求3所述的OLED老化测试夹具，其特征在于，所述工位槽的尺寸大于所述OLED产品的外形尺寸。5.如权利要求4所述的OLED老化测试夹具，其特征在于，所述工位槽的侧壁设置有第一缺口，所述探针槽的侧壁设置有第二缺口。6.如权利要求5所述的OLED老化测试夹具，其特征在于，所述模组包括自上而下依次放置的上层板、中层板和下层板，所述上层板上设置有第一通孔，所述中层板上设置有第二通孔，所述下层板设置有第三通孔，所述第二通孔的直径大于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱月，粘为进，
申请(专利权)人：无锡美科微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：