X射线诊断设备制造技术

一种Ｘ射线诊断设备，包括：一个Ｘ射线发生器（１），用于向物体辐射Ｘ射线；一个平面型Ｘ射线探测仪（１４），用于探测从Ｘ射线发生器辅射出来并穿过该物体的射线；传热介质（５），用于吸收Ｘ射线发生器和平面型Ｘ射线探测仪中产生的热量；冷却装置（１３），用来冷却因吸收热量而被加热了的传热介质；和用于在Ｘ射线发生器和平面型Ｘ射线探测仪以及冷却装置之间移动传热介质的装置。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种X射线诊断设备或者称X射线检查装置(此后通称为“X射线诊断设备”)，更具体地说，涉及冷却用于产生X射线的X射线发生器和探测X射线的平面型X射线探测仪的

技术介绍
X射线诊断设备通过拍摄物体的X射线相片来对物体进行诊断等事宜，X射线相片是这样拍摄的利用X射线发生器产生的X射线辅射该物体，并用穿过该物体的X射线曝光胶片。此外，X射线诊断设备还可以利用由多个二维水平设置的X射线探测元件构成的平面型X射线探测仪探测穿过物体的X射线，并通过在监视器而不是胶片上绘制具有探测到的X射线强度和密度分布的X射线图像来进行诊断等事宜。由于X射线诊断设备等中的平面型X射线探测仪在操作过程中会产生热量，这时，探测到的X射线的特性就会由于产生的热量引起的温度变化而发生改变，因此X射线图像的质量也可能改变。为了解决这个问题，可以使用带有珀尔帖元件的冷却器来防止平面型X射线探测仪的温度变化，这种珀尔帖元件在例如日本未审查公开No.11-271456中公布。也就是说，将包含如镓、砷等半导体材料的平面型X射线探测仪气密地密封在玻璃罩等的容器内，这样探测仪就不会受到潮湿等因素的不利影响，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Ｘ射线诊断设备，它包括：　　　　一个Ｘ射线发生器，用来产生辐射物体的Ｘ射线；　　　　一个平面型Ｘ射线探测仪，用于探测从Ｘ射线发生器辅射出来并穿过物体的Ｘ射线；　　　　传热介质，用于吸收Ｘ射线发生器和平面型Ｘ射线探测仪产生的热量；　　　　冷却装置，用来冷却因吸收热量而被加热的传热介质；　　　　用于在Ｘ射线发生器、平面型Ｘ射线探测仪和冷却装置之间移动传热介质的装置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：冈村秀文，土肥元达，
申请(专利权)人：株式会社日立医药，
类型：发明
国别省市：JP[日本]