【技术实现步骤摘要】
铀同位素比值测量方法、装置、设备及计算机存储介质
[0001]本申请属于物质性质测定
，尤其涉及一种铀同位素比值测量方法、装置、设备及计算机存储介质。
技术介绍
[0002]铀同位素比值测量在核工业、地质年代学和环境科学等领域内起着重要作用。
[0003]目前，常用的铀同位素比值测量方式主要为热表面电离质谱法(TIMS)，其主要通过热电离质谱仪来实现。通常，在测量时将铀样品涂于热电离质谱仪的样品带上，铀样品从样品带蒸发(故样品带又称为蒸发带)，在电离带电离，然后通过信号接收器对铀同位素信号进行数据采集，进而根据采集的数据即可计算铀同位素比值。
[0004]但是由于采用热表面电离质谱法进行测量时，往往存在系统偏差，这导致测量到的同位素比值与样品中实际的同位素比值不一致，测量误差较大。
技术实现思路
[0005]本申请实施例提供一种在铀同位素比值测量方法、装置、设备及计算机存储介质，能够对测量得到的铀同位素比值的误差进行有效校正，从而提升铀同位素比值测量精度。
[0006]第一方面，...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种铀同位素比值测量方法，其特征在于，包括：通过热电离质谱仪采集铀样品的至少一组原始数据，其中，每组所述原始数据均包括所述铀样品中待测量铀同位素的信号强度、铀238的信号强度和所述待测量铀同位素的邻近原子质量处的信号强度；针对每组所述原始数据，根据所述原始数据中待测量铀同位素的信号强度和铀238的信号强度计算所述原始数据对应的待测量铀同位素比值的测量值；根据所述原始数据中待测量铀同位素的邻近原子质量处的信号强度对所述测量值进行拖尾校正，得到所述原始数据对应的第一校正值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测量铀同位素的邻近原子质量包括第一原子质量和第二原子质量，其中，所述第一原子质量为所述待测量铀同位素的原子质量与第一设定值的差值，所述第二原子质量为所述待测量铀同位素的原子质量与所述第一设定值的和值，所述根据所述原始数据中待测量铀同位素的邻近原子质量处的信号强度对所述测量值进行拖尾校正，得到所述原始数据对应的第一校正值，包括：计算所述原始数据中的第一原子质量处的信号强度与铀238的信号强度的第一比值；计算所述原始数据中的第二原子质量处的信号强度与铀238的信号强度的第二比值；计算所述第一比值和所述第二比值的平均值；将所述测量值减去所述平均值，得到所述原始数据对应的第一校正值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在得到所述原始数据对应的第一校正值之后，对所述第一校正值进行质量歧视校正，得到所述原始数据对应的第二校正值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述待测量铀同位素为铀236，且在采集所述原始数据时所述待测量铀同位素由二次电子倍增器接收的情况下，所述方法还包括：在得到所述原始数据对应的第二校正值之后，对所述第二校正值进行二次电子倍增器与法拉第杯的效率差校正，得到所述原始数据对应的第三校正值。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在通过热电离质谱仪采集了铀样品的多组所述原始数据，且所述待测量铀同位素为铀234的情况下，所述方法还包括：在得到多组所述原始数据对应的第二校正值之后，计算多组所述原始数据对应的第二校正值的平均值；针对每组所述原始数据，计算所述原始数据对应的测量值与所述平均值之间的偏差率；将偏差率大于第二设定值的原始数据对应的第二校正值剔除。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在通过热电离质谱仪采集铀样品的多组所述原始数据，且所述待测量铀同位素为铀236的情况下，所述方法还包括：在得到多组所述原始数据对应的第三校正值之后，计算多组所述原始数据对应的第三校正值的平均值；针对每组所述原始数据，计算所述原始数据对应的测量值与所述平均值之间的偏差率；将偏差率大于第二设定值的原始数据对应的第三校正值剔除。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过热电离质谱仪采集铀样品的至少
一组原始数据，包括：调节所述热电离质谱仪中电离带的加热电流，以使所述电...
【专利技术属性】
技术研发人员：张继龙，纪建臣，骆无瑕，王岚，黎春，武朝辉，韩叶良，高雪梅，
申请(专利权)人：国家核安保技术中心，
类型：发明
国别省市：
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