一种数码雷管批量测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种数码雷管批量测试电路，包括测试板卡、多个呈矩阵排列的测试位、处理器以及通讯模块；每行测试位对应设置有一个行继电器，每列测试位对应设置有一个列继电器；位于同一行的测试位的第一连接端通过对应行继电器的触点端连接至测试板卡的第一连接端；位于同一列的测试位的第二连接端通过对应列继电器的触点端连接至测试板卡的第二连接端；通讯模块、每个行继电器和列继电器均与处理器串行连接；本实用新型专利技术能够对批量数码雷管进行测试，有效提高测试效率、降低人力成本。降低人力成本。降低人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种数码雷管批量测试电路


[0001]本技术涉及一种数码雷管批量测试电路，属于火工品


技术介绍

[0002]随着微电子技术、物联网技术的不断发展，数码雷管在工程作业中得到了快速的发展和应用。相较于传统的雷管，数码雷管的延时精度高，且起爆器能够与数码雷管进行通信，可以对数码雷管进行识别、检测、充电、放电、起爆等操作；目前的电路设计过程中，为防止电路短路等原因造成电流过大引起雷管起爆的问题，采用具有过流保护的雷管电阻测试装置进行测试；但是现有的雷管电阻测试装置仅能对单个雷管电阻进行测试，效率较低，人力成本高。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服现有技术中的不足，提供一种数码雷管批量测试电路，解决现有技术手段对数码雷管测试效率低、成本高的技术问题。
[0004]为达到上述目的，本技术是采用下述技术方案实现的：
[0005]一种数码雷管批量测试电路，包括测试板卡、多个呈矩阵排列的测试位、处理器以及通讯模块；每行所述测试位对应设置有一个行继电器，每列所述测试位对应设置有一个列继电器；位于同一行的所述测试位的第一连接端通过对应行继电器的触点端连接至测试板卡的第一连接端；位于同一列的所述测试位的第二连接端通过对应列继电器的触点端连接至测试板卡的第二连接端；所述通讯模块、每个所述行继电器和列继电器均与处理器串行连接。
[0006]可选的，所述处理器为单片机。
[0007]可选的，所述通讯模块为RS232或RS485通信接口，所述通讯模块用于向处理器烧录程序。
[0008]可选的，所述测试板卡包括恒流源模块和阻抗测试模块；所述恒流源模块和阻抗测试模块的第一连接端和第二连接端相连并作为测试板卡的第一连接端和第二连接端。
[0009]可选的，所述阻抗测试模块包括放大模块和电阻测量模块，所述放大模块为仪表放大器，所述仪表放大器的差分输入端作为阻抗测试模块的第一连接端和第二连接端，所述仪表放大器的参考输出端与阻抗测试模块连接。
[0010]可选的，所述阻抗测试模块上还连接有存储模块，所述存储模块用于记录测试结果。
[0011]与现有技术相比，本技术所达到的有益效果：
[0012]本技术提供的一种数码雷管批量测试电路，通过设置矩阵排列的测试位，同时连接多个待测数码雷管；通过处理器控制行继电器和列继电器依次使得每个待测数码雷管与测试板卡连接实现测试；本技术能够对批量数码雷管进行测试，有效提高测试效率、降低人力成本。
附图说明
[0013]图1是本技术实施例提供的一种数码雷管批量测试电路；
[0014]图2是本技术实施例提供的测试板卡连接示意图。
具体实施方式
[0015]下面结合附图对本技术作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，而不能以此来限制本技术的保护范围。
[0016]实施例一：
[0017]如图1所示，本技术实施例提供了一种数码雷管批量测试电路，包括测试板卡1、多个呈矩阵排列的测试位2、处理器3以及通讯模块4。
[0018]每行测试位2对应设置有一个行继电器5，每列测试位2对应设置有一个列继电器6。行继电器5和列继电器6均采用电磁继电器。
[0019]位于同一行的测试位2的第一连接端通过对应行继电器5的触点端连接至测试板卡1的第一连接端。位于同一列的测试位2的第二连接端通过对应列继电器6的触点端连接至测试板卡1的第二连接端。
[0020]通讯模块4、每个行继电器5和列继电器6均与处理器3串行连接。
[0021]处理器3可选用单片机，通讯模块4为RS232或RS485通信接口，通讯模块4用于向处理器烧录程序。
[0022]如图2所示，测试板卡1选用用于数码雷管电阻测试的测试板卡1，该测试板卡1包括恒流源模块和阻抗测试模块；恒流源模块和阻抗测试模块的第一连接端和第二连接端相连并作为测试板卡1的第一连接端和第二连接端；阻抗测试模块包括放大模块和电阻测量模块，放大模块为仪表放大器，仪表放大器的差分输入端作为阻抗测试模块的第一连接端和第二连接端，仪表放大器的参考输出端与阻抗测试模块连接；阻抗测试模块上还连接有存储模块，存储模块用于记录测试结果。
[0023]在实施过程中，通过采用四行五列的测试位2矩阵，并将每个待测数码雷管7连接于测试位2上，可以同时对二十个待测数码雷管7进行测试，在测试之前通过通讯模块4将程序烧录至处理器3中，通过处理器3控制行继电器5 和列继电器6进行动作，每次驱动一个待测数码雷管7与测试板卡1形成回路进行测试，将测试结果保存在存储模块中；通过循环执行直至二十个待测数码雷管7全部测试完成，从存储模块获取测试结果。
[0024]以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数码雷管批量测试电路，其特征在于，包括测试板卡、多个呈矩阵排列的测试位、处理器以及通讯模块；每行所述测试位对应设置有一个行继电器，每列所述测试位对应设置有一个列继电器；位于同一行的所述测试位的第一连接端通过对应行继电器的触点端连接至测试板卡的第一连接端；位于同一列的所述测试位的第二连接端通过对应列继电器的触点端连接至测试板卡的第二连接端；所述通讯模块、每个所述行继电器和列继电器均与处理器串行连接。2.根据权利要求1所述的一种数码雷管批量测试电路，其特征在于，所述处理器为单片机。3.根据权利要求1所述的一种数码雷管批量测试电路，其特征在于，所述通讯模块为RS232或RS485通信接口，所述通讯模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓闯，卢灿，高慧，杨琼楠，陈晨，孙帮东，仇晨光，薛海英，张彬，吴逸洲，祝现染，姜晓道，傅旭东，
申请(专利权)人：华东光电集成器件研究所，
类型：新型
国别省市：