双端口微波元器件测试夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及双端口微波元器件测试夹具，包括底架，定夹具，动夹具与测试载体，定夹具，动夹具及测试载体均安装在底架上，定夹具与动夹具分别设置在测试载体的两侧，定夹具与底架固定连接，底架内设置两条平行的导向柱，两条导向柱位于同一水平面上，动夹具及测试载体活动安装在导向柱上，底架与动夹具相邻一侧设置有螺杆，螺杆贯穿底架与动夹具连接，定夹具及动夹具相邻一侧设置有连接器。本实用新型专利技术使用定夹具与动夹具配合夹持测试载体，动夹具与定夹具上的连接器的位置与测试载体上的测试件相匹配，不会出现误差，错位，测试件与连接器中心针的良好接触，保证测试结果的精确，实现了无焊接测试，降低测试成本。降低测试成本。降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
双端口微波元器件测试夹具


[0001]本技术涉及微波测试夹具
，特别是涉及双端口微波元器件测试夹具。

技术介绍

[0002]微波测量（microwave measurement），是对工作于微波波段的元器件、天线、馈线、电路、整机、系统、传播媒质及链路的性能与参量的测量。微波测量与微波通信的科研、生产、施工、维修等工作密切相关。其中，S参数为微波测量中一个极为重要的参数，S12为反向传输系数，也就是隔离。S21为正向传输系数，也就是增益。S11为输入反射系数，也就是输入回波损耗，S22为输出反射系数，也就是输出回波损耗。在对双端口的微波元器件进行测试时，因为双端口微波元器件体积越来越小，引脚间距有限，应用面也越来越广泛，如何在运用中提取该类微小器件的微波参数成为了一大难点，现有的方式一般采用微带电路与金丝球焊接进行测试，但是此方法测试后产品无法再次使用和出售。

技术实现思路

[0003]基于此，有必要针对双端口微波元器件参数测量不易的情况，提供双端口微波元器件测试夹具。
[0004]双端口微波元器件测试夹具，包括底架，定夹具，动夹具与测试载体，所述定夹具，动夹具及测试载体均安装在所述底架上，所述定夹具与动夹具分别设置在所述测试载体的两侧，所述定夹具与所述底架固定连接，所述底架内设置两条平行的导向柱，两条所述导向柱位于同一水平面上，所述动夹具及所述测试载体活动安装在所述导向柱上，所述底架与所述动夹具相邻一侧设置有螺杆，所述螺杆贯穿所述底架与所述动夹具连接，所述定夹具及所述动夹具相邻一侧设置有连接器。
[0005]优选的，所述测试载体包括载台，背架，曲柄组件与压块组件，所述载台活动安装在两条导向柱上，所述背架下端与所述载台侧部垂直连接，所述背架上端与所述曲柄组件活动连接，所述压块组件活动安装在所述背架上，所述曲柄组件的输出端与所述压块组件活动连接。
[0006]优选的，所述曲柄组件包括有转接块，曲柄，旋转块与手柄，所述转接块一端与背架连接，所述转接块另一端与所述旋转块活动连接，所述曲柄上端与所述旋转块连接，所述曲柄下端与所述压块组件活动连接，所述手柄与所述旋转块连接。
[0007]优选的，所述压块组件包括有滑块，连接块与压块，所述背架沿竖直方向设置有滑轨，所述滑块与所述滑轨活动连接，所述连接块通过所述滑块与所述滑轨连接，所述连接块上端与所述曲柄活动连接，所述压块设置在所述连接块下方。
[0008]优选的，所述定夹具与动夹具相邻一侧还设置有缓冲柱与定位锥，所述载台对应所述定位锥处设置有凹陷区。
[0009]本技术的有益之处在于：使用定夹具与动夹具配合夹持测试载体，动夹具与
定夹具上的连接器的位置与测试载体上的测试件相匹配，不会出现误差，错位现象，测试件与连接器中心针的良好接触，保证测试结果的精确，实现了无焊接测试，降低测试成本。
附图说明
[0010]图1为其中一实施例双端口微波元器件测试夹具立体示意图；
[0011]图2为双端口微波元器件测试夹具爆炸示意图。
具体实施方式
[0012]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0013]需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0014]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0015]如图1~2所示，双端口微波元器件测试夹具，包括底架1，定夹具2，动夹具3与测试载体4，所述定夹具2，动夹具3及测试载体4均安装在所述底架1上，所述定夹具2与动夹具3分别设置在所述测试载体4的两侧，所述定夹具2与所述底架1固定连接，所述底架1内设置两条平行的导向柱5，两条所述导向柱5位于同一水平面上，所述动夹具3及所述测试载体4活动安装在所述导向柱5上，所述底架1与所述动夹具3相邻一侧设置有螺杆11，所述螺杆11贯穿所述底架1与所述动夹具3连接，所述定夹具2及所述动夹具3相邻一侧设置有连接器21。具体的，在本实施例中，底架1呈方框状，上部设置有凹槽，用于填充安装定夹具2，动夹具3与测试载体4，降低夹具整体高度。定夹具2是通过螺栓固定安装在底架1左侧的，动夹具3及测试载体4是活动安装在底架1内的。测试时，将测试件安装在测试载体4上，操作员转动螺杆11，即可驱动动夹具3向定夹具2一侧靠拢，可以理解的是，当动夹具3移动时，与测试载体4抵接，带动测试载体4同步位移，安放在测试载体4上方的测试件即可被定夹具2配合动夹具3夹持住，因为动夹具3及测试载体4是沿着底架1内的导向柱5位移的，精度高，使得测试件与定夹具2及动夹具3上的连接器21搭接时，不容易出现偏差，保持良好的电连接性能。
[0016]如图1~2所示，所述测试载体4包括载台41，背架42，曲柄组件43与压块组件44，所述载台41活动安装在两条导向柱5上，所述背架42下端与所述载台41侧部垂直连接，所述背架42上端与所述曲柄组件43活动连接，所述压块组件44活动安装在所述背架42上，所述曲柄组件43的输出端与所述压块组件44活动连接。具体的，测试时，将测试件安放在载台41上，定夹具2配合动夹具3夹持时，测试件受到挤压，有一个向上微抬的过程，为了使得测试
件与两侧的连接器21电连接良好，在载台41侧部设置有背架42，用于安装曲柄组件43及压块组件44，测试时，操作人员转动曲柄组件43，使得压块组件44沿着背架42下压，作用在测试件上，从而保证了测试件微与连接器21中心针的良好接触，保证测试结果的精确。
[0017]如图1~2所示，所述曲柄组件43包括有转接块431，曲柄432，旋转块433与手柄434，所述转接块431一端与背架42连接，所述转接块431另一端与所述旋转块433活动连接，所述曲柄432上端与所述旋转块433连接，所述曲柄432下端与所述压块组件44活动连接，所述手柄434与所述旋转块433连接。具体的，手柄434为球形手柄，握感更佳，操作人员握住手柄434，即可通过旋转块433带动曲柄432上下位移，进而使得压块组件44上下位移，与测试件抵接或者分离开来。
[0018]如图1~2所示，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.双端口微波元器件测试夹具，其特征在于：包括底架，定夹具，动夹具与测试载体，所述定夹具，动夹具及测试载体均安装在所述底架上，所述定夹具与动夹具分别设置在所述测试载体的两侧，所述定夹具与所述底架固定连接，所述底架内设置两条平行的导向柱，两条所述导向柱位于同一水平面上，所述动夹具及所述测试载体活动安装在所述导向柱上，所述底架与所述动夹具相邻一侧设置有螺杆，所述螺杆贯穿所述底架与所述动夹具连接，所述定夹具及所述动夹具相邻一侧设置有连接器。2.如权利要求1所述的双端口微波元器件测试夹具，其特征在于：所述测试载体包括载台，背架，曲柄组件与压块组件，所述载台活动安装在两条导向柱上，所述背架下端与所述载台侧部垂直连接，所述背架上端与所述曲柄组件活动连接，所述压块组件活动安装在所述背架上，所述曲柄组件的输出端...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘强，董江，廖强，
申请(专利权)人：成都国强裕兴电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：