【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及成像系统,更具体地说,涉及检测斑块(plaque)成分的方法和系统。
技术介绍
计算机断层照相(CT)技术的最近进展使得扫描速度更快、多检测器排的覆盖面积更大以及切片更薄。然而,用这些系统来测量能量分辨率仍然是空白。由X线源输出的宽的X射线光子能谱和来自CT检测系统的能量分辨率的缺乏妨碍了能量辨别CT。通过给定物体的X线的衰减很强地依赖于入射X射线的光子能量。这个物理现象在图像中表现为束硬化后生现象(beam-hardening artifact),如不均匀性、阴影和条纹。某些束硬化后生现象易于纠正,另一些束硬化后生现象的纠正则较困难。通常,己知的、用于纠正光束硬化后生现象的方法包括水校准,其包括对每个CT机器进行校准,以便从类似于水的材料中除去束硬化;还包括迭代骨骼校正,其中在初次通过(first pass)的图像重建中将骨骼分开,然后在二次通过的图像重建中校正由骨骼而引起的光束硬化的测量。然而,如果不对测量数据进行追加处理,就难于校正来自除水和骨骼以外的材料的束硬化现象,这些材料如像金属和对比剂(contrast agent)。此外,即便用了 ...
【技术保护点】
一种方法,包括:用多能量的计算机断层照相(MECT)系统来检测斑块成分。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:玛丽亚艾特鲁,里卡多S阿维拉,彼得M埃迪克,谢江,詹姆斯W利布兰克,吴晓叶,
申请(专利权)人:GE医药系统环球科技公司,
类型:发明
国别省市:US[美国]
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