接合机构及其应用的测试设备制造技术

本发明专利技术提供一种接合机构，包含二夹持件及驱动结构，二夹持件沿夹持轴线分别设有夹持部，其中一个夹持件的夹持部朝向另一夹持件的夹持部，以供二夹持部夹持于射频电子元件的二侧面；驱动结构设置至少一驱动单元，至少一驱动单元以供驱动二夹持件的夹持部沿夹持轴线作侧向位移夹持射频电子元件，并带动二夹持件及其夹持的射频电子元件沿压接轴线向下位移，使射频电子元件的接点确实压接一电性测试器的探针执行电性测试作业，并防止屏蔽射频电子元件的天线，以利天线进行无线信号测试作业，进而提升测试品质。进而提升测试品质。进而提升测试品质。

【技术实现步骤摘要】
接合机构及其应用的测试设备


[0001]本专利技术涉及一种作侧向夹持射频电子元件，并带动射频电子元件压接电性测试器的接合机构。

技术介绍

[0002]在现今，一内建有天线的射频电子元件广泛应用于行动通讯区域无线网路系统及无线通讯区域网路系统等领域；射频电子元件于本体的底面设置复数个接点，并于本体的顶面设置天线，射频电子元件于出厂前，除了执行电性测试作业，也需执行无线信号测试作业，以确保品质。
[0003]测试装置于机台配置一具探针的电性测试器，并于电性测试器的上方配置天线测试器；当射频电子元件置入于电性测试器时，射频电子元件以接点接触电性测试器的探针而执行电性测试作业，并以天线朝向天线测试器发出无线信号，天线测试器接收无线信号而进行无线信号测试作业。
[0004]然而，由于电性测试器的探针内具有弹簧，射频电子元件的自重压力不足以使接点与探针作有效性地电性接触，以致影响射频电子元件的电性测试准确性。若以一压接器由上向下下压电子元件的顶面，虽可使射频电子元件的接点确实接触电性测试器的探针，却会导致压接器屏蔽电子元件的天线，以致影响射频电子元件的无线信号测试准确性；因此，如何在不影响天线测试器与射频电子元件的无线信号测试作业的要件下，使射频电子元件确实压接电性测试器执行电性测试作业，着实相当重要。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于：提供一种接合机构及其应用的测试设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：
[0007]一种接合机构，其特征在于，包含：
[0008]至少二夹持件：沿夹持轴线分别设有夹持部，其中一个该夹持件的该夹持部朝向另一该夹持件的该夹持部，以供二该夹持部夹持于射频电子元件的二侧面；
[0009]驱动结构：设置至少一驱动单元，以供驱动至少一该夹持件的该夹持部沿该夹持轴线作侧向位移夹持该电子元件，并带动二该夹持件及其夹持的该电子元件沿压接轴线位移，以供驱动该电子元件压接动作。
[0010]所述的接合机构，其中，该驱动结构包含第一驱动单元及第二驱动单元，该第一驱动单元以供带动该第二驱动单元、二该夹持件及该电子元件沿该压接轴线位移，该第二驱动单元以供驱动至少一该夹持件沿该夹持轴线作侧向位移。
[0011]所述的接合机构，其中，该第一驱动单元设有传动具及第一驱动源，该传动具供装配二该夹持件及该第二驱动单元，该第一驱动源驱动该传动具沿该压接轴线位移。
[0012]所述的接合机构，其中，该传动具包含架置框及至少一连动件，该架置框供架置该
第二驱动单元，该连动件供连接二该夹持件、该架置框及该第一驱动源。
[0013]所述的接合机构，其中，该架置框装配第一连动件及第二连动件，该第一连动件供连接该夹持件，该第二连动件供连接该第一驱动源。
[0014]所述的接合机构，其中，该第二驱动单元包含第二驱动源及至少一第二传动组，该第二驱动源驱动该第二传动组位移，该第二传动组带动该夹持件沿该夹持轴线位移，以夹持或释放该电子元件。
[0015]所述的接合机构，其中，该第二传动组包含传动件及偏心轮，该传动件由该第二驱动源驱动沿第二轴向位移，以供传动该偏心轮转动，该偏心轮带动该夹持件沿该夹持轴线位移。
[0016]所述的接合机构，其中，该传动件与该偏心轮间设有相互配合的第一导移部及第二导移部。
[0017]所述的接合机构，其中，还包含承置件，该承置件设有具有通孔的承槽，以供承置该电子元件，该承置件由该第一驱动单元带动沿该压接轴线位移。
[0018]一种测试设备，其特征在于，包含：
[0019]机台；
[0020]供料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳待测电子元件的供料承置器；
[0021]收料装置：配置于该机台上，并设有至少一容纳已测电子元件的收料承置器；
[0022]测试装置：配置于该机台上，并设有电性测试器及至少一所述的接合机构，该电性测试器配置于该接合机构的下方，以供对该电子元件执行电性测试作业；
[0023]输送装置：配置于该机台上，并设有至少一输送器，用以输送电子元件；
[0024]中央控制装置：以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。
[0025]本专利技术的优点一，提供一种接合机构，包含夹持件及驱动结构，二夹持件沿夹持轴线分别设有夹持部，其中一个夹持件的夹持部朝向另一夹持件的夹持部，以供二夹持部夹持于射频电子元件的二侧面；驱动结构设置至少一驱动单元，驱动单元以供驱动至少一夹持件的夹持部沿夹持轴线作侧向位移夹持射频电子元件，并带动二夹持件及其夹持的射频电子元件沿压接轴线向下位移，借以使射频电子元件的接点确实压接一电性测试器的探针执行电性测试作业进而提升测试品质。
[0026]本专利技术的优点二，提供一种接合机构，其二夹持件作侧向夹持射频电子元件，可防止屏蔽射频电子元件顶面的天线，以利天线与一天线测试器进行无线信号测试作业，进而提升测试品质。
[0027]本专利技术的优点三，提供一种接合机构，更包含承置件，承置件供承置射频电子元件及二夹持件，并由驱动结构带动沿压接轴线向下位移，使承置件承置的射频电子元件压接电性测试器的探针执行电性测试作业，进而提升测试作业便利性。
[0028]本专利技术的优点四，提供一种测试设备，包含机台、供料装置、收料装置、具本专利技术接合机构的测试装置、输送装置及中央控制装置；供料装置配置于机台上，并设有至少一容纳待测电子元件的供料承置器；收料装置配置于机台上，并设有至少一容纳已测电子元件的收料承置器；测试装置配置于机台上，包含电性测试器及本专利技术接合机构，以供测试电子元件；输送装置配置于机台上，并设有至少一输送器，以输送电子元件；中央控制装置以供控制及整合各装置动作，而执行自动化作业。
附图说明
[0029]图1是本专利技术接合机构的外观图。
[0030]图2是本专利技术接合机构的俯视图。
[0031]图3是图2的局部放大示意图。
[0032]图4是本专利技术接合机构的剖视图。
[0033]图5是图4的局部放大示意图。
[0034]图6是本专利技术接合机构应用于测试装置的示意图。
[0035]图7是图6的局部放大示意图。
[0036]图8是本专利技术接合机构的使用示意图(一)。
[0037]图9是图8的局部放大示意图。
[0038]图10是本专利技术接合机构的使用示意图(二)。
[0039]图11是图10的局部放大示意图。
[0040]图12是本专利技术接合机构的使用示意图(二)。
[0041]图13是本专利技术接合机构应用于测试设备的示意图。
[0042]附图标记说明：夹持件11；夹持部111；第一板体121；第二板体122；第三板体123；第一连动件124；第二连动件125；第一压缸126；支撑架127；第一滑轨组128；第二压缸131；传动件132；第一导销1321；偏心轮133；延伸片13本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种接合机构，其特征在于，包含：至少二夹持件：沿夹持轴线分别设有夹持部，其中一个该夹持件的该夹持部朝向另一该夹持件的该夹持部，以供二该夹持部夹持于射频电子元件的二侧面；驱动结构：设置至少一驱动单元，以供驱动至少一该夹持件的该夹持部沿该夹持轴线作侧向位移夹持该电子元件，并带动二该夹持件及其夹持的该电子元件沿压接轴线位移，以供驱动该电子元件压接动作。2.如权利要求1所述的接合机构，其特征在于，该驱动结构包含第一驱动单元及第二驱动单元，该第一驱动单元以供带动该第二驱动单元、二该夹持件及该电子元件沿该压接轴线位移，该第二驱动单元以供驱动至少一该夹持件沿该夹持轴线作侧向位移。3.如权利要求2所述的接合机构，其特征在于，该第一驱动单元设有传动具及第一驱动源，该传动具供装配二该夹持件及该第二驱动单元，该第一驱动源驱动该传动具沿该压接轴线位移。4.如权利要求3所述的接合机构，其特征在于，该传动具包含架置框及至少一连动件，该架置框供架置该第二驱动单元，该连动件供连接二该夹持件、该架置框及该第一驱动源。5.如权利要求4所述的接合机构，其特征在于，该架置框装配第一连动件及第二连动件，该第一连动件供连接该夹持件，该第二连动件供连接该第一驱动源。6.如权利要求2所述的接合机...

【专利技术属性】
技术研发人员：李子玮，
申请(专利权)人：鸿劲精密股份有限公司，
类型：发明
国别省市：