【技术实现步骤摘要】
输送机构、测试装置、检知方法及其应用的作业机
[0001]本专利技术涉及一种可提高输送使用效能的输送机构。
技术介绍
[0002]在现今，电子元件测试装置以移料器于输送机构的入料载台取出待测的电子元件，并移入测试座而执行电性测试作业。然，入料载台以容置部承置电子元件，并输送电子元件至测试座的侧方，移料器由皮带轮组及移载臂等带动作Y方向位移，由测试区位移至入料载台上方以取出电子元件，再直接将电子元件移入测试座，令电子元件的接点与测试座的探针相接触而执行电性测试作业。
[0003]然而，入料载台的容置部尺寸大于电子元件的尺寸，入料载台输送电子元件的过程中，电子元件易于容置部内滑移，以致移料器拾取的电子元件的位置发生偏移问题；又移料器于移载电子元件的过程中，易因移动误差或本身结构组装误差等因素，也会发生移料器拾取的电子元件的位置偏移问题，基于前述问题，均无法使电子元件的接点与测试座的探针精准接触，以致影响测试品质；尤其电子元件日趋精密微小，精准度要求相当高，若移料器移载的电子元件稍有偏移，即无法使电子元件准确执行测试作业而
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种输送机构，其特征在于，包含：至少一第一输送器：设有第一驱动源及第一载台，该第一驱动源驱动该第一载台沿第一路径位移于第一作业区及第二作业区，该第一载台供承载电子元件；至少一取像器：装配于该第一载台，以供该第一载台载送该取像器同步位移于该第一作业区及该第二作业区，该取像器能够取像该第二作业区的移料器拾取的电子元件，以检知电子元件是否偏移。2.如权利要求1所述的输送机构，其特征在于：还包含至少一该移料器，该移料器能够沿第二路径位移至该第二作业区移载电子元件，以供该取像器取像电子元件。3.如权利要求2所述的输送机构，其特征在于：该移料器还包含温控单元，该温控单元于该移料器设置至少一温控件，以供温控电子元件。4.如权利要求1所述的输送机构，其特征在于：该第一驱动源为线性马达或包含马达及至少一传动组。5.如权利要求1所述的输送机构，其特征在于：该第一载台设有容置部，以供承置电子元件。6.如权利要求1所述的输送机构，其特征在于：该取像器能够装配于该第一载台的非承置电子元件的任一部位。7.如权利要求1所述的输送机构，其特征在于：该取像器为CCD。8.如权利要求1所述的输送机构，其特征在于：还包含第二输送器，该第二输送器设有第二驱动源及第二载台，该第二驱动源驱动该第二载台沿该第一路径位移于第三作业区及该第二作业区，该第二载台供承载电子元件。9.一种测试装置，其特征在于，包含：至少一测试器：设有电性连接的传输件及电路板，以供测试电子元件；至少一如权利要求1所述的输送机构：该移料器在该第一输送器及该测试器间移载电子元件，该第一输送器输...
【专利技术属性】
技术研发人员：张原龙，
申请(专利权)人：鸿劲精密股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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