【技术实现步骤摘要】
一种电磁驱动旋转探针及固定插座结构
[0001]本专利技术一种电磁驱动旋转探针及固定插座结构属于半导体测试
技术介绍
[0002]芯片在封装前要进行测试。早期的方式是将探针与裸芯的焊盘或凸块相接触实现电连接,这种方式,对探针的平面度要求极高,否则,就会出现一些探针接触到裸芯,而另外一些探针与裸芯断路,无法测试的问题。
[0003]申请号为201711115635.6的专利技术专利《垂直式探针卡之探针装置》,涉及到了一种装针方法,该方法通过移动中间导板,使探针弯曲,利用弯曲程度可以不同,来确保探针与裸芯有效接触。然而,由于缺少对中间导板进行精密定位的结构,因此在移动中间导板时,非常容易造成探针弯曲程度超出弹性变形范围,即探针塑性变形不可恢复,进而出现装针拆针不可逆,无法反复拆装测试的问题。
[0004]为了不让探针弯曲,可以利用探针插入插座的结构来代替直接接触裸芯,而且,由于探针可以在侧面实现与插座的电连接,因此对平面度要求大幅降低。然而,随着MEMS技术的发展,探针尺寸已经达到微米级甚至亚微米级,在 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电磁驱动旋转探针及固定插座结构,包括相互匹配的电磁驱动旋转探针结构和固定插座结构,其特征在于,所述电磁驱动旋转探针结构包括限位板(1
‑
1),贯穿限位板(1
‑
1)并成阵列分布的探针(1
‑
2);所述探针(1
‑
2)与限位板(1
‑
1)之间设置有轴承(1
‑
3),所述轴承(1
‑
3)的外圈与限位板(1
‑
1)过盈配合,所述轴承(1
‑
3)的内圈与探针(1
‑
2)过盈配合,探针(1
‑
2)能够以自身为轴旋转;探针(1
‑
2)下方设置有用于与插座结构电连的凸起结构(1
‑
4),在初始位置,所有探针(1
‑
2)的凸起结构(1
‑
4)均指向同一方向;探针(1
‑
2)在限位板(1
‑
1)上方设置有齿A(1
‑
5),在与齿A(1
‑
5)同平面上,设置有双侧齿条(1
‑
6),所述双侧齿条(1
‑
6)的两侧均设置有齿B(1
‑
7),所述齿B(1
‑
7)缠绕有线圈;所述固定插座结构包括基板(2
‑
1),设置在基板(2
‑
1)上的侧板(2
‑
2)和挡板(2
‑
3),所述侧板(2
‑
2)的侧壁设置有导电层(2
‑
4),所述导电层(2
‑
4)通过导线(2
‑
5)穿过基板(2
‑
1)连接外部;在所述初始位置,电磁驱动旋转探针向固定插座插入,探针(1
‑
2)与侧板(2
‑
2)和挡板(2
‑
3)均无接触。2.根据权利要求1所述的一种电磁驱动旋转探针及固定插座结构,其特征在于,每个探针(1
‑
2)的齿A(1
‑
5)均匀分布有四个,与每个探针(1
‑
2)相对应的齿B(1
‑
7)有六个,以2行3列的阵列形式分布,分别为齿B
‑
1、齿B
‑
2、齿B
‑
3、齿B
‑
4、齿B
‑
5和齿B
‑
6;其中,齿B
‑
1和齿B
‑
3对称分布在齿B
‑
2两侧,齿B
‑
4和齿B
‑
6对称分布在齿B
‑
...
【专利技术属性】
技术研发人员:金永斌,贺涛,丁宁,朱伟,
申请(专利权)人:法特迪精密科技苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:
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