一种偏光膜缺点汇整标记系统技术方案

技术编号:34712554 阅读:20 留言:0更新日期:2022-08-31 17:53
本发明专利技术公开了一种偏光膜缺点汇整标记系统,系统在前制程延伸站、涂布站和保护膜贴合站设置多组自动光学检查机,用于检测偏光膜各层缺点,自动生成缺点档案并上传至数据库;延伸站设激光喷印机,喷印二维码,各站设置读取装置读取二维码记录的生产管理号和米数信息;涂布站和保护膜贴附站设置汇整标记系统和喷墨机进行偏光膜缺点数据的汇整喷印。本发明专利技术提供的缺点汇整标记系统,通过喷印二维码记录卷料信息,扫码载入二维码信息、汇整缺点档案,自由选择缺点汇整站别,按不同类型或通道分类、选择喷印,实现偏光膜缺点喷印的可调整性和准确性,有效地防止了缺点的遗失,适合各偏光膜厂量产。厂量产。厂量产。

【技术实现步骤摘要】
一种偏光膜缺点汇整标记系统


[0001]本专利技术涉及一种偏光膜缺点汇整标记系统,属于偏光膜光学检测


技术介绍

[0002]偏光膜生产前制程主要有延伸站(PVA站)、涂布站(PSA站)和保护膜贴合站(PK站),由于多层膜材在无尘室贴合时,经常会遇到滚轮或膜材上粘附异物,就会产生异物、气泡、捏痕或凹凸等缺点。现有技术中,在各生产站别的各层膜材设置各种类型的自动光学检查机(AOI,Automated Optical Inspection)对缺点进行监控,在涂布站贴合前后设置自动光学检查机检出缺点后利用喷墨机对该缺点位置进行标记,再经过熟成后到后制程利用自动裁切机裁切成不同尺寸的片状偏光板,由人工或机器检验被标记的不良品,统计缺点类型和良率,或直接以卷料的方式送到面板厂进行卷料到液晶面板的贴合,再统计良率。
[0003]这种偏光膜缺点喷印方式会带来至少两个问题:1.膜材层数越少,自动光学检查机构检出效果越好,越到后续站别,如PSA站和RK站,PVA站内层缺点越不易检出;2.需要在涂布站设置多类型检测通道的AOI才能保证缺点有效被检出并标记。由于单台自动光学检查机的价格偏贵,且受到主机台安装空间限制,各偏光板企业逐步开始评估缺点汇整标记系统,各站别只需要设置当站易出现缺点的自动光学检查机通道,节约成本的同时保证了偏光膜缺点的检出。另外汇整系统不受膜材状态的限制,当前制程缺点喷印设备异常时,可利用缺点汇整系统再次进行缺点标记,提高后制程检查效率,防止缺点漏失到客户家。
[0004]缺点汇整系统涉及膜材生产系统,自动光学检查系统,二维码/条形码选型喷印和读取系统,缺点标记系统,缺点数据格式和上传系统等多系统集成,且二维码多存在喷印不良或读取率不高的问题。早期的缺点汇整系统等多作为缺点即检即喷系统的补充扩展,如3M创新有限公司在专利CN102007367B幅材上的优先缺陷标记中探讨了膜材各层缺陷在不同位置如何根据缺点数据库在各委外加工厂被标记的可能。
[0005]从2004年到2014年,主流的偏光板生产厂商均开始研究如何设置偏光膜缺点汇整系统,此时多采用热熔式喷墨机式在偏光膜边缘喷印条形码进行缺点信息管理,热熔式喷墨机在白边喷印存在翘曲和飞墨现象,带来了很多异常问题,直到后来开发出激光喷印二维码,极大地提高了二维码喷印率和读取率,才将缺点汇整系统用于偏光膜量产成为可能。但是现有技术采用的是单边喷印的方式,也会存在偶尔喷印异常或偏光膜卷料异常复卷换边问题影响缺点汇整,因此需开发一种新的偏光膜缺点汇整标记系统。

技术实现思路

[0006]目的:为了解决现有技术中单边喷印中由于喷印异常或偏光膜卷料异常复卷换边导致的缺点汇整遗失的问题,提供了一种偏光膜缺点汇整标记系统。
[0007]技术方案:为解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案为:一种偏光膜缺点汇整标记系统,用于偏光膜前制程生产时的缺点汇整及标记,所述前制程生产包括延伸站、涂布站和保护膜贴合站,
汇整标记系统包括自动光学检查机,用于检测偏光膜各层缺点,自动生成缺点档案,并将缺点档案上传至数据库;激光喷印机,用于喷印二维码,记录偏光膜生产管理信息和米数信息;读取装置,读取二维码的信息,并上传至数据库;数据库,用于数据的存储,并提供上传和下载功能;汇整标记系统,从数据库下载缺点档案和二维码信息,对各站缺点进行分类汇整,并将分类汇整后的缺点信息上传至数据库;喷墨机,从数据库下载分类汇整后的缺点信息和二维码米数信息,使用喷墨机在偏光膜上进行缺点标记喷印。
[0008]进一步地,所述自动光学检查机的设置位置包括延伸站三层贴合后、涂布站贴合前和贴合后、保护膜贴合站贴合前和贴合后。
[0009]进一步地,延伸站设置读取装置,用于确认二维码喷印完整度和测试读取率,读取二维码信息后再由自动光学检查机将缺点坐标转换为以二维码为基准的坐标;涂布站设置读取装置,读取二维码信息,获得偏光膜卷料生产管理号,调用延伸站缺点档案,校正米数生成用于缺点汇整的缺点坐标档案;保护膜贴合站均设置读取装置,读取二维码信息,获得偏光膜卷料生产管理号,调用延伸站和涂布站缺点档案。
[0010]进一步地,延伸站设置激光喷印机,在偏光膜两侧、沿着偏光膜长度延伸方向每隔1米喷印一颗二维码,二维码记录偏光膜卷料管理号和当前米数信息,米数信息用于缺点位置的米数校正;涂布站设置喷墨机,用于涂布站自动光学检查机检出缺点喷印标记,或用于延伸站与涂布站缺点汇整后的缺点喷印标记;保护膜贴合站设置喷墨机,用于保护膜贴合站自动光学检查机检出缺点喷印标记,或用于延伸站、涂布站与保护膜贴合站缺点汇整后的缺点喷印标记。
[0011]进一步地,在涂布站或保护膜贴合站启用汇整标记系统,读取装置连续读取至少三颗二维码信息后,若米数信息逐渐增大,确认缺点位置为顺序,若米数信息逐渐减小,确认缺点位置为逆序;汇整标记系统根据缺点位置顺序或逆序,进行缺点坐标转换。
[0012]进一步地,在涂布站启用汇整标记系统,在涂布站使用喷墨机对二维码进行二次喷印,通过比对第二次喷印的标记与二维码是否重合,确认缺点喷印位置是否准确,选择进行二次喷印的二维码间距为1~10m,进一步地,在保护膜贴合站启动数据处理模块,在保护膜贴合站使用喷墨机对二维码进行二次喷印,通过比对第二次喷印的标记与二维码是否重合,确认缺点喷印位置是否准确,选择进行二次喷印的二维码间距为1~10m。
[0013]进一步地,自动光学检查机对各层偏光膜以线性扫描方式检出缺点;自动光学检查机设置的检测通道为直交、反射、斜透过、散乱透过、穿透中的一种或多种,可检出的缺点类型包括异物、气泡、凹凸和刮伤。
[0014]进一步地,汇整标记系统将缺点档案信息分割成每米内的缺点信息,按检测通道或缺点类型进行分类,然后按照确认的顺序或逆序进行缺点标记喷印。
[0015]进一步地,以延伸站喷印的二维码的一侧顶点,作为涂布站和保护膜贴合站缺点标记的横向和纵向坐标的喷印原点。
[0016]有益效果:本专利技术提供的一种偏光膜缺点汇整标记系统,主要是在PVA站偏光膜两侧喷印二维码,带出卷料缺点信息,在PSA站和RK站两侧读取,以操作侧为基准输出缺点坐标档案,扫码载入二维码信息来汇整缺点;自由选择缺点汇整站别,按不同类型或通道分类、选择喷印,实现偏光膜缺点喷印的可调整性和准确性,有效地防止了缺点的遗失,适合各偏光膜厂量产。
附图说明
[0017]图1为实施例1在PSA站进行汇整标记的生产流程示意图;图2为实施例1汇整标记系统的数据流程示意图;图3为实施例2在RK站进行汇整标记的生产流程示意图;图4为实施例2汇整标记系统的数据流程示意图;图5为图1、图3中自动光学检查机、激光喷印机、读取装置的示意图标;图6为整除生产中各站边缘二维码与缺点位置对应关系图。
具体实施方式
[0018]下面结合实施例和附图对本专利技术作更进一步的说明。
[0019]偏光膜主要的生产站别包括PVA站、PSA站和RK站,在不同的生产站别和制本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种偏光膜缺点汇整标记系统,用于偏光膜前制程生产时的缺点汇整及标记,所述前制程生产包括延伸站、涂布站和保护膜贴合站,其特征在于:系统包括自动光学检查机,用于检测偏光膜各层缺点,自动生成缺点档案,并将缺点档案上传;激光喷印机,用于向所述偏光膜上喷印二维码,所述二维码用于记录偏光膜生产管理信息和米数信息;读取装置,读取所述二维码的信息,并上传;数据库,用于接收并存储所述自动光学检查机上传的缺点档案信息、读取装置读取的二维码信息,并提供上传和下载功能;汇整标记系统,从所述数据库下载缺点档案信息和二维码信息,对各站缺点进行分类汇整,并将分类汇整后的缺点信息存储至所述数据库;喷墨机,从数据库下载分类汇整后的缺点信息和二维码米数信息,使用喷墨机在偏光膜上进行缺点标记喷印。2.根据权利要求1所述的一种偏光膜缺点汇整标记系统,其特征在于:所述自动光学检查机的设置位置包括延伸站三层贴合后、涂布站贴合前和贴合后、保护膜贴合站贴合前和贴合后。3.根据权利要求1所述的一种偏光膜缺点汇整标记系统,其特征在于:延伸站设置读取装置,用于确认二维码喷印完整度和测试读取率,读取二维码信息后再由自动光学检查机将缺点坐标转换为以二维码为基准的坐标;涂布站设置读取装置,读取二维码信息,获得偏光膜卷料生产管理号,调用延伸站缺点档案,校正米数生成用于缺点汇整的缺点坐标档案;保护膜贴合站均设置读取装置,读取二维码信息,获得偏光膜卷料生产管理号,调用延伸站和涂布站缺点档案。4.根据权利要求1所述的一种偏光膜缺点汇整标记系统,其特征在于:延伸站设置激光喷印机,在偏光膜两侧、沿着偏光膜长度延伸方向每隔1米喷印一颗二维码,二维码记录偏光膜卷料管理号和当前米数信息,米数信息用于缺点位置的米数校正;涂布站设置喷墨机,用于涂布站自动光学检查机检出缺点喷印标记,或用于延伸站...

【专利技术属性】
技术研发人员:严兵华谢佳施明志余镇宇郭育诚张均铭
申请(专利权)人:恒美光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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