芯片三温测试机械手分选机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片三温测试机械手分选机，其包括：高低温箱、移料装置和测试装置，高低温箱用于放置待测芯片并使待测芯片处于测试温度，高低温箱的一侧形成有一可开合的取料口；移料装置包括取料组件和移料驱动装置，取料组件在移料驱动装置的驱动下经取料口伸入高低温箱，取料组件用于拾取待测芯片，移料驱动装置用于带动取料组件移动以转移待测芯片；测试装置包括芯片测试座，芯片测试座用于接收转移的待测芯片并对待测芯片进行测试，于待测芯片完成测试后，移料装置根据测试装置的测试结果将芯片分类转移。采用本实用新型专利技术芯片三温测试机械手分选机能够使得测试良率保持稳定且提升测试效率和节省人力成本。持稳定且提升测试效率和节省人力成本。持稳定且提升测试效率和节省人力成本。

【技术实现步骤摘要】
芯片三温测试机械手分选机


[0001]本技术涉及一种芯片测试设备
，尤其涉及一种芯片三温测试机械手分选机。

技术介绍

[0002]目前对芯片的测试大多数都可以通过自动化测试设备来进行，但也有少部分芯片因为需要进行高温、低温和常温测试，而无法直接导入到自动化测试设备中。现有的对这部分芯片进行测试的方式是利用表面接触式的加热源来对芯片进行加热，然后人工手动地对芯片进行点测，但表面接触式加热只能使得芯片与加热源接触的一面达到测试温度，并不能保证整个芯片的温度都达到测试温度，并且每次手动测试的操作存在差异，两者都会影响芯片的测试结果，导致测试良率无法保持稳定，并且这样的测试方式操作步骤繁琐、测试效率低。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种测试良率稳定且测试效率高的芯片三温测试机械手分选机。
[0004]为了实现上述目的，本技术公开了一种芯片三温测试机械手分选机，其包括：高低温箱、测试装置和移料装置，所述高低温箱用于放置待测芯片并使待测芯片处于测试温度，所述高低温箱的一侧形成有一可开合的取料口；所述测试装置用于对待本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片三温测试机械手分选机，其特征在于，包括：高低温箱，所述高低温箱用于放置待测芯片并使待测芯片处于测试温度，所述高低温箱的一侧形成有一可开合的取料口；移料装置，所述移料装置包括取料组件和移料驱动装置，所述取料组件在所述移料驱动装置的驱动下经所述取料口伸入所述高低温箱，所述取料组件用于拾取待测芯片，所述移料驱动装置用于带动所述取料组件移动以转移所述待测芯片；测试装置，所述测试装置包括芯片测试座，所述芯片测试座用于接收转移的待测芯片并对待测芯片进行测试，于待测芯片完成测试后，所述移料装置根据所述测试装置的测试结果将芯片分类转移。2.根据权利要求1所述的芯片三温测试机械手分选机，其特征在于，还包括视觉识别装置，所述取料组件在所述移料驱动装置的驱动下带动待测芯片或完成测试的芯片移动至与所述视觉识别装置的拍摄端对应，所述视觉识别装置用于获取芯片的身份信息。3.根据权利要求1所述的芯片三温测试机械手分选机，其特征在于，还包括视觉检测装置，所述视觉检测装置的拍摄端朝向所述测试装置中的待测芯片，所述视觉检测装置用于检测待测芯片的标识信息。4.根据权利要求1所述的芯片三温测试机械手分选机，其特征在于，所述芯片测试座设置有用于压持待测芯片的压持机构，所述测试装置还包括压持驱动机构，所述压持机构在所述压持驱动机构的驱动下压紧或离开待测芯片。5.根据权利要求4所述的芯片三温测试机械手分选机，其特征在于，所述压持机构包括至少两压持件和连动件，所述连动件的中间位置设置有第一通孔，所述连动件的下...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈超村，郑挺，郑朝生，张亦锋，袁俊，
申请(专利权)人：东莞利扬芯片测试有限公司，
类型：新型
国别省市：