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本实用新型公开了一种芯片三温测试机械手分选机，其包括：高低温箱、移料装置和测试装置，高低温箱用于放置待测芯片并使待测芯片处于测试温度，高低温箱的一侧形成有一可开合的取料口；移料装置包括取料组件和移料驱动装置，取料组件在移料驱动装置的驱动下经...
该专利属于东莞利扬芯片测试有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞利扬芯片测试有限公司授权不得商用。

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