一种测试装置制造方法及图纸

技术编号:3458355 阅读:209 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种测试光接口单板的装置,该装置将光接口单板的专用测试仪器、光开关、光功率计、光衰减器等仪器资源集中起来,根据需要通过光开关切换完成调度,可以实现仪器资源与被测板端口的对接、经过可调光衰的对接,被测板端口自环、交叉环、经过可调光衰的自环、经过可调光衰的交叉环等测试状态。本实用新型专利技术能提高测试资源的共享度,降低测试过程中的手工干预,降低测试成本。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试装置,其特征在于,包括被测板接口(10)、第一光开关(201)、第二光开关(202)、光功率计(30)、光衰减器(40)、测试仪器(50),被测板接口(10)、第一光开关(201)、测试仪器(50)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;被测板接口(10)通过第一光开关(201)与光功率计(30)连接;被测板接口(10)、第一光开关(201)、光衰减器(40)依次连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王爱伟
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:94[中国|深圳]

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