集成光电二极管的微波探针测试装置制造方法及图纸

集成光电二极管的微波探针测试装置是一种用于光纤通信系统中接收机前端集成电路测试的微波探针测试装置，该装置由探针体（１）、光电转换器（６）所组成，在探针体（１）的上表面设有光纤连接器（４）、电连接器（５），光纤连接器（４）的下端通过光纤（８）和其保护管（７）与光电转换器（６）中金属腔体（２２）侧面的光信号输入端（Ｌｉｇｈｔ　　ｉｎ）相接，电连接器（５）通过偏置电压导线（１４）和金属管（２）与光电转换器（６）中金属腔体（２２）的偏置电压输入端（Ｖｂｉａｓ）相接，光电转换器（６）中金属腔体（２２）的信号电流输出端（Ｉｏｕｔ）通过微型传输线与探针头（３）相接。采用本装置操作简便，极大的缩短从光探测器输出端到芯片焊盘的电气距离得到可靠的测试效果。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种集成光电二极管的微波探针测试装置，其特征是该装置由探针体（１）、光电转换器（６）所组成，在探针体（１）的上表面设有光纤连接器（４）、电连接器（５），光纤连接器（４）的下端通过光纤（８）和其保护管（７）与光电转换器（６）中金属腔体（２２）侧面的光信号输入端（Ｌｉｇｈｔｉｎ）相接，电连接器（５）通过偏置电压导线（１４）和金属管（２）与光电转换器（６）中金属腔体（２２）的偏置电压输入端（Ｖｂｉａｓ）相接，光电转换器（６）中金属腔体（２２）的信号电流输出端（Ｉｏｕｔ）通过微型传输线与探针头（３）相接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王志功，韩鹏，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]