一种功耗测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于半导体封装与测量技术领域，特别涉及一种功耗测量装置，用于测取芯片的功耗，其包括：包括测量板，所述测量板通过数据线、第一控制线及供电线与被测芯片电性连接，所述数据线上设置有需在所述测量板测取所述被测芯片的功耗时断开的继电器；在数据线上设置有继电器，当测量板测取被测芯片的功耗时，继电器断开，数据线断开，从而避免在测量板测取被测芯片的功耗时，数据线产生负载的情况，测量板测取的功耗即为被测芯片自身的功耗，从而有效地提高测量板测取被测芯片的功耗的准确度。的准确度。的准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种功耗测量装置


[0001]本技术属于半导体封装与测量
，特别涉及一种功耗测量装置。

技术介绍

[0002]在芯片参数测试中，时常会使用自动测试机台（ATE）对芯片的功耗进行测试，芯片的功耗包括静态功耗和动态功耗。静态功耗包括待机功耗、休眠模式功耗等，测试静态功耗的流程为：让芯片进入待机或者休眠状态，然后测量芯片的供电电压和电流，将供电电压与电流相乘即可得到静态功耗。动态功耗是指芯片在某种工作状态（例如编程状态、擦除状态等）下的功耗，动态功耗往往随着时间和芯片引脚上的负载变化而变化。理想的动态功耗测试条件为：IO引脚断开和没有负载。在现实的动态功耗测试流程中，由于动态功耗需要芯片在某个工作状态，因此测试机需要通过数据线与芯片的IO引脚交互，交互过程中数据线会产生一定的负载，从而导致测试机测取的芯片的功耗包括了数据线的功耗。传统的做法是用EDA工具仿真得出的值作为规格参数，或者利用IO连接情况下的实测值通过百分比系数计算得到，上述的两种方法都不能真实地反映芯片的动态功耗。
[0003]因此，现有技术有待改进和发展。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功耗测量装置，用于测取芯片的功耗，包括测量板（1），所述测量板（1）通过数据线（4）、第一控制线（5）及供电线（7）与被测芯片（2）电性连接，其特征在于，所述数据线（4）上设置有需在所述测量板（1）测取所述被测芯片（2）的功耗时断开的继电器（3）。2.根据权利要求1所述的功耗测量装置，其特征在于，所述测量板（1）包括：供电模块（11），通过所述供电线（7）与所述被测芯片（2）电性连接；功耗检测模块（12），与所述被测芯片（2）电性连接，用于测量所述被测芯片（2）的功耗；数据发送模块（13），通过所述数据线（4）与所述被测芯片（2）电性连接；控制模块（14），通过所述第一控制线（5）与所述被测芯片（2）电性连接。3.根据权利要求2所述的功耗测量装置，其特征在于，所述控制模块（14）包括：片选信号控制器（141），通过所述第一控制线（5）与所述被测芯片（2）电性连接；时钟信号控制器（142），通过所述第一控制线（5）与所述被测芯片（2）电性连接。4.根据权利要求3所述的功耗测量装置，其特征在于，所述控制模块（14）还包括：继电器控制器（143），所述继电器控制器（143）通过第二控制线...

【专利技术属性】
技术研发人员：柴辽源，温靖康，
申请(专利权)人：芯天下技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：