微波设备中的自检查电路制造技术

在微波设备中的自检查电路，包括：将微波信号分离和提取出一部分的定向耦合器；检测该提取信号的检测器；测量检测器温度的多个温度测量装置；放大检测信号的多个放大装置；多个模／数转换装置；将温度测量装置信号和模／数转换装置的数字数据与外部相接的接口；存储信号值的第一存储装置；存储控制程序和各种数据的第二存储装置；中央处理电路，其利用控制程序和数据比较和分析第一存储装置中的信号，并输出比较和分析结果；和显示中央处理电路输出信号的装置。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种自检查电路，用于精确地检测在微波设备中出现错误的元件，更具体地说，是涉及一种补偿每个检测器特性随温度的改变来精确地测量相关微波设备的功率、并显示微波信号功率的强度和允许在微波设备中接近观察的自检查电路，从而能容易地检查、维护和修复系统。一般地说，微波设备采用波导和同轴线作为信号传输线。波导由于外部冲击或外来物体的介入造成其形状的改变或由于环境条件如压力和温度的改变而造成其功能被干扰。对于同轴线，由于陈旧或断线也会造成其功能不能正常地实现。这些都可能影响正常操作的其它部件。在这种情况下，用肉眼难于确定在整个电路中是哪个元件的功能失效了，所以需要用功能测量设备周期性地检查。因此，检查电路应当安装在微波设备中信号传输通路上每个重要的监测点处，以检查系统中的每个元件是否工作正常。附图说明图1显示了安装在微波主信号通路上多个监测点处的一个常规自检查电路的实施例。该常规自检查电路包括一个定向耦合器7，用于分离和提取通过微波主通路的微波信号的一部分；一检测器1，其使用包线(envelop)检测方法将定向耦合器7分离和提取的那部分微波信号转换为一个低频信号；一放大器2，用于将检测器1检测到的具有弱功率的信号放大以产生一具有预定功率电平的信号；一比较单元3，用于将放大器2放大的信号的功率与预定值比较并产生比较结果值；一接口5，用于接收比较单元3来的结果信号并识别被检查元件的位置；和一个显示器4，用于以图形方式显示接口5输出的信号。现在参考图1和图2详细说明具有上述结构的常规电路的操作。图2显示了根据现有技术的检测单元10的详细结构。定向耦合器7与在微波主信号通路上要检查的监测点相连接，定向耦合器7的输出信号被加到由检测器1、放大器2和比较单元3组成的检测单元10上。在这种情况下，通过微波主信号通路上要检查的监测点的一部分微波信号被定向耦合器7所分离和提取。从定向耦合器7接收的微波信号的提取部分由检测器1用包线检测方法检测，从而去除微波信号中的高频部分并检测一个低频信号。从检测器1输出的低频信号功率非常弱。放大器2将该低频信号的电平放大为一个预定功率电平并将放大器2产生的信号加到比较电路3。比较电路3将通过放大器2后已具有足够功率的信号的电平与先前已设置的参考值比较，并将比较单元3的结果值送到处理单元20的接口5。接口5将比较单元3的结果值送到显示器4。显示器4根据该结果值显示正常或异常的值。现在参考图2详细说明确定监测点正常／异常情况的比较单元3。比较单元3包含比较器8和一个可变电阻6。耦连于比较器8一端的可变电阻6接地并设定了参考值或阈值。结果，由放大器2放大然后送入比较器8另一端的信号被识别比可变电阻6设定的阈值电平高还是低。但是，常规微波设备的这种功率测量电路只是输出“良好(GOOD)”或“失效(FAIL)”作为放大器2输出的检测信号的功率与预定值的比较结果。由于检测器对温度十分敏感，所以微波设备内部温度的改变导致检测器输出值的变化。结果，即使实际上设备操作是正常的，也可能显示为异常。鉴于此，常规的微波设备自检查电路只能够在微波设备内的元件完全失灵的情况下才检测到有故障，而不能预先检测和预测到由于每个元件性能的异常导致的整个系统性能异常。这就使得难以去修复或替换一个元件，这可能是造成整个微波设备寿命减短的一个主要原因。另一方面，还有一个问题在于可能把一个没有故障的好的元件给替换掉了。此外，由于这种常规的电路只是确定“良好”或“失效”，在检查、维护和修复系统时需要特殊的微波功率，以防止系统性能的恶化。因此，本专利技术就是针对微波设备中的一种自检查电路，其可以基本上克服现有技术中的局限和缺点。本专利技术的一个目的是提供一种自检查电路，其可以固定安装在一个微波系统中，以容易地在任何时间测量通过微波主信号通路的微波信号的功率，而不需要一个分立的微波功率测量设备，并可根据温度变化补偿每个检测器特性来精确地测量相关微波设备的功率，以及显示微波信号功率的强度，还可以在微波设备中接近观察，从而能容易地检查、维护和修复系统。本专利技术另外的特征和优点将在下面的说明中阐明，其部分将从说明书中显而易见，或是从本专利技术的实践中得到了解。本专利技术目的和其它优点将通过在本说明书和权利要求书以及附图中所述的结构得以实现。为了实现这些和其它的优点，并根据本专利技术所体现和大致说明的目的，这种微波设备中的自检查电路包括安装在微波主信号通路上每个监测点处的定向耦合器，用于分离和提取微波信号的一部分；分别用于将所分离和提取的微波信号部分用一种包线检测方法转换为低频信号的检测器；分别用于测量微波设备的温度并将测量结果信号送到一个接口上的温度测量装置；分别用于放大由检测器检测到的弱功率的信号以产生一预定功率电平信号的放大装置；分别用于将放大装置放大的模拟信号转换为数字信号的模／数转换装置；一用于将相关监测点的唯一的编号加到来自温度测量装置的信号上和来自模／数转换装置的信号上并与一外部处理单元相接的接口；一作为第一存储装置的RAM，其用于存储通过该接口传送的信号值；一作为第二存储装置的ROM，其用于存储每个检测器的温度特性值和电气特性值、每个放大装置的增益、每个信号的改变值、多个监测点位置上的相互关系、每个监测点的优先级和重要性权值，以及中央处理电路根据其进行操作的数据和程序；一中央处理电路，用于根据存储在RAM中的信号值搜索在ROM中的各种所需数据并运行一控制程序，从而根据该程序的执行结果产生显示控制信号；以及一显示器，用于根据从中央处理电路接收的显示控制信号显示系统的操作状态。应当理解上述的一般性说明和下面的详细说明是示例性和解释性的，其意图是提供对本专利技术权利要求的进一步解释。附图用于提供对本专利技术进一步的理解，并作为说明书的一部分，其描述了本专利技术的实施例，并与文字说明一起解释本专利技术的原理。附图中图1是根据现有技术的微波设备中功率测量设备的方框图；图2所示是根据现有技术的检测单元的详细结构；图3是根据本专利技术在微波设备中的自检查电路的方框图；图4所示是根据本专利技术的温度测量装置的详细结构；和图5是根据本专利技术测量微波设备功率的流程图。现在将详细说明本专利技术的优选实施例，这些例子示于附图中。现在参考附图详细说明本专利技术。根据本专利技术的在微波设备中的自检查电路包括安装在微波主信号通路上每个监测点处的定向耦合器109，用于分离和提取微波信号的一部分；一检测器101，用于将所分离和提取的微波信号部分用一种包线检测方法转换为低频信号；一温度测量装置110，用于测量微波设备的温度并将测量结果信号送到一个接口104上；一放大装置102，用于放大由检测器101检测到的弱功率的信号以产生一预定功率电平的信号；一模／数转换装置103，用于将放大装置102放大的模拟信号转换为数字信号；一接口104，用于将相关监测点的唯一的编号加到来自温度测量装置的信号上和来自模／数转换装置的信号上，并与一外部处理单元120相接；和一中央处理电路120，用于处理和显示由接口104发送的数字信号。温度测量装置110包括一测量传感器111、一放大器112和一模／数转换器114。温度测量装置110测量有关监测点的环境温度，将测量结果信号转换为一个数字信号，并将该数字信号送到接口104。处理单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微波设备中的自检查电路，包括： 分别用于将来自微波主信号通路上每个监测点处的微波信号分离和提取出一部分的多个定向耦合器； 分别用于检测来自所述定向耦合器的提取信号的多个检测器； 分别用于测量所述检测器温度的多个温度测量装置； 分别用于放大来自所述检测器的检测信号的多个放大装置； 分别用于将所述放大装置的输出信号转换为数字数据的多个模／数转换装置； 用于将所述温度测量装置信号和所述模／数转换装置的数字数据与外部相接的接口； 第一存储装置，用于存储通过所述接口传送的信号值； 第二存储装置，用于存储控制程序和各种数据； 中央处理电路，其利用存储在所述第二存储装置中的控制程序和数据，比较和分析存储在所述第一存储装置中的信号，并输出比较和分析的结果；和 用于显示所述中央处理电路的输出信号的装置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：李宰均，
申请(专利权)人：LG情报通信株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]