本发明专利技术属于光谱检测分析技术领域，尤其涉及一种高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置。该高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置包括：样品池、刚玉炉和载台；刚玉炉上设置样品池以加热样品池，载台的中部设置刚玉炉以将刚玉炉与外界隔开；样品池包括样品放置室以及分别与样品放置室连通的进气管和出气管，进气管、样品放置室和出气管形成U型结构，进气管用于与带有气阀的进气管道连接，出气管用于与带有气阀的出气管道连接。由此，该高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置设置了与气体进气管道和出气管道密封连接的样品池，实现了原位Raman光谱检测过程中样品池内具有一定的真空度或通入特定气体，也可以避免熔盐挥发分逸出样品池进而损害Raman光谱仪的目的。样品池进而损害Raman光谱仪的目的。样品池进而损害Raman光谱仪的目的。
【技术实现步骤摘要】
一种高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置
[0001]本专利技术属于光谱检测分析
，尤其涉及一种高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置。
技术介绍
[0002]在熔盐电解制备金属及其合金时，熔盐结构与其物理化学性质和电化学过程机理密切相关，因此研究高温熔盐结构对于电解参数的控制及其预测熔盐物理化学性质具有重大意义。高温熔盐结构的研究方法有多种，如中子衍射检测、X射线衍射检测、核磁共振检测和Raman光谱检测等。其中因Raman光谱检测时间短、对检测样品的形貌无特殊要求以及在检测过程中对样品干扰较小等优点，在熔盐结构检测领域被广泛使用。
[0003]然而由于样品的特性，部分熔盐在加热过程中易与空气中的氧气发生反应，达不到实验要求，还有部分熔盐在加热过程中极易挥发冷凝后影响入射光射入或者挥发后分逸出样品池进而损害Raman光谱仪，给高温熔盐的Raman光谱检测造成极大的影响。
技术实现思路
[0004](一)要解决的技术问题
[0005]为了解决现有技术的上述问题，本专利技术提供一种高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，设置了与气体进气管道和出气管道密封连接的样品池，从而解决了达不到实验要求，影响入射光射入以及Raman光谱仪受损，影响高温熔盐的Raman光谱检测的技术问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为了达到上述目的，本专利技术采用的主要技术方案包括：
[0008]本专利技术提供了一种高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，包括：样品池、刚玉炉和载台；刚玉炉上设置样品池以加热样品池，载台的中部设置刚玉炉以将刚玉炉与外界隔开；样品池包括样品放置室以及分别与样品放置室连通的进气管和出气管，进气管、样品放置室和出气管形成U型结构，进气管用于与带有气阀的进气管道连接，出气管用于与带有气阀的出气管道连接。
[0009]进一步，刚玉炉包括刚玉炉膛和刚玉炉支架，刚玉炉支架设置在载台的内部，刚玉炉膛设置在刚玉炉支架的上方且与刚玉炉支架螺纹连接。
[0010]进一步，进气管和出气管分别与样品放置室两端可拆卸连接。
[0011]进一步，刚玉炉膛的侧壁设有贯穿的第一通孔，样品放置室穿过第一通孔。
[0012]进一步，进气管和出气管与样品放置室一体成型，样品放置室上方为敞口结构；样品池还设置有与敞口结构配合的第一盖体。
[0013]进一步，刚玉炉膛的侧壁内侧对称开有两个定位槽，进气管和出气管分别与定位槽配合。
[0014]进一步，刚玉炉膛开设有容纳腔；刚玉炉支架顶部中心设置有凹槽，刚玉炉膛的底部伸入凹槽且与凹槽螺纹连接；
[0015]进一步，刚玉炉支架与载台的内腔底部通过螺栓固定。
[0016]进一步，刚玉炉膛的外壁上开有螺旋上升的螺旋槽，螺旋槽内缠绕有铂加热丝，刚玉炉支架两侧设置有接线柱，铂加热丝的两端分别与两侧的接线柱连接。
[0017]进一步，载台的侧壁为中空结构，载台的侧壁上设置有循环水进口和循环水出口，循环水进口和循环水出口均与中空结构连通。
[0018](三)有益效果
[0019]本专利技术的有益效果是：
[0020]本专利技术提供的一种高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，设置了与气体进气管道和出气管道密封连接的样品池，防止了熔盐挥发分逸出样品池损害Raman光谱仪。同时便于为高温熔盐原位Raman光谱检测提供反应气氛，为样品特定气氛条件下的高温原位Raman光谱检测提供基础；提供保护气氛，减少样品在进行高温原位Raman光谱检测过程中空气对样品的影响；营造真空度，为样品在特定真空度下的高温原位Raman光谱检测提供真空环境。实现了原位Raman光谱检测过程中样品池内具有一定的真空度或通入特定气体，避免熔盐挥发分逸出样品池进而损害Raman光谱仪的目的。
附图说明
[0021]图1为高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置实施例一的剖面结构示意图；
[0022]图2为图1中刚玉炉的剖面结构示意图；
[0023]图3为图1中样品池的结构示意图；
[0024]图4为高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置实施例二的剖面结构示意图；
[0025]图5为图4中刚玉炉的剖面结构示意图；
[0026]图6为图4中样品池的结构示意图。
[0027]【附图标记说明】
[0028]1：样品池；11：样品放置室；12：进气管；13：出气管；14：第一盖体；
[0029]2：刚玉炉；21：刚玉炉膛；211：第一通孔；212：定位槽；213：螺旋槽；214：第二通孔；22：刚玉炉支架；221：凹槽；222：第三通孔；
[0030]3：载台；31：循环水进口；32：循环水出口；33：第二盖体；
[0031]4：接线柱；5：铂加热丝。
具体实施方式
[0032]为了更好的理解上述技术方案，下面将参照附图更详细地描述本专利技术的示例性实施例。虽然附图中显示了本专利技术的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更清楚、透彻地理解本专利技术，并且能够将本专利技术的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0033]Raman光谱是一种散射光谱，Raman散射效应是由印度科学家C.V.拉曼(Raman)所发现的，由分子振动、固体中光学声子等激发与激光相互作用产生的非弹性散射。Raman光谱分析法是基于Raman散射效应，对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息，并应用于分子结构研究的一种分析方法。
[0034]电化学原位Raman光谱法是基于物质分子对入射光产生的频率发生较大变化的散
射现象，利用单色入射光激发受电极电位调制的电极表面，继而测定散射回来的Raman光谱信号强度和偏振性能的变化与电极电位或电流强度等的变化关系的检测方法。原位Raman可以监测中间产物，反应进程。电化学原位Raman光谱法的检测装置主要包括Raman光谱仪和原位电化学Raman池两个部分。
[0035]如图1
‑
6所示，本专利技术提供一种高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，包括样品池1、刚玉炉2和载台3。如图3、6所示，样品池1包括样品放置室11以及分别与样品放置室11连通的进气管12和出气管13，进气管12、样品放置室11和出气管13形成U型结构，样品放置室11用于放置样品，进气管12用于与带有气阀的进气管道连接，出气管13用于与带有气阀的出气管道连接。
[0036]样品池1设置刚玉炉2上，刚玉炉2用于加热样品池1，如图3、4所示，刚玉炉2包括刚玉炉膛21和刚玉炉支架22，刚玉炉膛21开设有容纳腔，样品池1位于容纳腔内。刚玉炉膛21的底部表面设置有螺纹，刚玉炉支架22顶部中心设置有凹槽221，凹槽221内设置有内螺纹，刚玉炉膛21设置在刚玉炉支架22的上方，通过将刚玉炉膛21的底部伸入凹槽221与凹槽221螺本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，其特征在于，包括：样品池(1)、刚玉炉(2)和载台(3)；所述刚玉炉(2)上设置所述样品池(1)以加热所述样品池(1)，所述载台(3)的中部设置所述刚玉炉(2)以将所述刚玉炉(2)与外界隔开；所述样品池(1)包括样品放置室(11)以及分别与所述样品放置室(11)连通的进气管(12)和出气管(13)，所述进气管(12)、所述样品放置室(11)和所述出气管(13)形成U型结构，所述进气管(12)用于与带有气阀的进气管道连接，所述出气管(13)用于与带有气阀的出气管道连接。2.根据权利要求1所述的高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，其特征在于，所述刚玉炉(2)包括刚玉炉膛(21)和刚玉炉支架(22)，所述刚玉炉支架(22)设置在所述载台(3)的内部，所述刚玉炉膛(21)设置在所述刚玉炉支架(22)的上方且与所述刚玉炉支架(22)螺纹连接。3.根据权利要求2所述的高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，其特征在于，所述进气管(12)和所述出气管(13)分别与所述样品放置室(11)两端可拆卸连接。4.根据权利要求3所述的高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，其特征在于，所述刚玉炉膛(21)的侧壁设有贯穿的第一通孔(211)，所述样品放置室(11)穿过所述第一通孔(211)。5.根据权利要求2所述的高温熔盐原位Raman光谱检测用热台装置，其特征在于，所述进气管(12)和所述出气管(13)与所述样...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡宪伟，汤帅，康红光，张一帆，于江玉，石忠宁，王兆文，
申请(专利权)人：东北大学，
类型：发明
国别省市：
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