一种异常像素识别方法、装置、设备以及计算机存储介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种异常像素识别方法、装置、设备以及计算机存储介质，该方法包括：获取待识别图像；确定待识别图像中最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系；其中，映射关系根据至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图分析得到；根据映射关系确定待识别图像中若干个像素点各自对应的最小融合误差阈值；根据最小融合误差阈值对待识别图像中若干个像素点进行异常像素识别，确定待识别图像中的异常像素点。这样，通过待识别图像中最小融合误差阈值和测量特征值之间的映射关系确定对应的最小融合误差阈值，并根据最小融合误差阈值识别待识别图像中的像素点是否为异常像素点，实现待识别图像中的异常像素点的识别。素点的识别。素点的识别。

【技术实现步骤摘要】
一种异常像素识别方法、装置、设备以及计算机存储介质


[0001]本申请涉及像素识别
，尤其涉及一种异常像素识别方法、装置、设备以及计算机存储介质。

技术介绍

[0002]目前，时间飞行相机（Time of Flight，TOF）多采用双频融合的方法，提升TOF相机的测量精度和范围，同时解决单频情况下的距离模糊现象。该方法通过获取多种频率下的深度测量距离，对上述所有测量距离分别进行周期扩展以求得测量误差最小值，此时主频率对应的周期扩展后距离即为最终距离值。
[0003]在相关技术中，ToF相机采用双频工作，通过双频融合的方法实现不降低测距精度的同时，扩展测量范围。但是不同频率下的深度图像不是在一个积分时间内完成的，两个单频下的成像很难做到一一对应，较易受到随机噪声、目标运动等因素的影响，造成最终的融合结果异常。

技术实现思路

[0004]本申请提出一种异常像素识别方法、装置、设备以及计算机存储介质，能够实现待识别图像中异常像素点的识别。
[0005]本申请的技术方案是这样实现的：第一方面，本申请实施例提供了一种异常像素识别方法，所述方法包括：获取待识别图像；确定所述待识别图像中最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系；其中，所述映射关系根据至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图分析得到；根据所述映射关系确定所述待识别图像中若干个像素点各自对应的最小融合误差阈值；根据所述最小融合误差阈值对所述待识别图像中若干个像素点进行异常像素识别，确定所述待识别图像中的异常像素点。/>[0006]在一些实施例中，所述方法还包括：采集至少一个距离下的双频深度图像；根据所述至少一个距离下的双频深度图像，确定所述至少一个距离下的最小误差图；采集至少一个距离下的测量特征图，其中，所述测量特征图至少包括测量幅度图、测量灰度图或者测量深度图；根据所述至少一个距离下的最小误差图以及对应的至少一个距离下的测量特征图进行拟合分析，确定最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系。
[0007]在一些实施例中，所述采集至少一个距离下的双频深度图像以及至少一个距离下的测量特征图，包括：
在静止场景下进行不同距离的图像采集，确定所述至少一个距离下的双频深度图像以及至少一个距离下的测量特征图。
[0008]在一些实施例中，所述根据所述至少一个距离下的双频深度图像，确定所述至少一个距离下的最小误差图，包括：根据所述至少一个距离下的双频深度图像分别进行最小融合误差计算，确定所述至少一个距离各自对应的最小误差图。
[0009]在一些实施例中，所述根据所述至少一个距离下的双频深度图像分别进行最小融合误差计算，确定所述至少一个距离各自对应的最小误差图，包括：根据第一距离下的双频深度图像，确定第一频率下的第一测量距离值和至少一个第一测量模糊次数以及在第二频率下的第二测量距离值和至少一个第二测量模糊次数；根据第一频率下的所述第一测量距离值和所述至少一个第一测量模糊次数，计算第一频率对应的至少一个第一候选距离；根据第二频率下的所述第二测量距离值和所述至少一个第二测量模糊次数，计算第二频率对应的至少一个第二候选距离；基于所述第一频率对应的至少一个第一候选距离和所述第二频率对应的至少一个第二候选距离，计算第一距离对应的所述最小误差图；其中，所述第一距离为所述至少一个距离中的任意一个。
[0010]在一些实施例中，所述基于所述第一频率对应的至少一个第一候选距离和所述第二频率对应的至少一个第二候选距离，计算第一距离对应的所述最小误差图，包括：对所述第一频率对应的至少一个第一候选距离和所述第二频率对应的至少一个第二候选距离进行作差计算得到若干个差值；根据所述若干个差值中的最小差值，得到所述第一距离对应的最小误差图。
[0011]在一些实施例中，所述根据所述至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图进行拟合分析，确定最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系，包括：根据所述至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图，构建第一分布图；其中，所述第一分布图用于反映最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系；基于所述第一分布图，确定至少一个测量特征值对应的最小融合误差阈值；根据所述至少一个测量特征值与对应的最小融合误差阈值进行拟合处理，确定所述最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系。
[0012]在一些实施例中，所述基于所述第一分布图，确定至少一个测量特征值对应的最小融合误差阈值，包括：基于所述第一分布图，确定第一测量特征值对应的最小误差值；计算所述第一测量特征值对应的最小误差值的预设分位数；将所述预设分位数确定为所述第一测量特征值对应的最小融合误差阈值；其中，所述第一测量特征值为所述至少一个测量特征值中的任意一个。
[0013]在一些实施例中，所述根据所述映射关系确定所述待识别图像中若干个像素点各自对应的最小融合误差阈值，包括：确定所述待识别图像中的若干个像素点各自对应的测量特征值；基于所述像素点各自对应的测量特征值以及所述映射关系，确定所述待识别图像
对应的最小融合误差阈值；其中，所待识别图像中的像素点与最小融合误差阈值之间具有对应关系。
[0014]在一些实施例中，所述根据所述最小融合误差阈值对所述待识别图像中若干个像素点进行异常像素识别，确定所述待识别图像中的异常像素点，包括：确定所述待识别图像中的像素点各自对应的最小融合误差；若所述像素点对应的最小融合误差值小于或者等于所述像素点对应的最小融合误差阈值，则确定所述像素点为正常像素点；若所述像素点对应的最小融合误差值大于所述像素点对应的最小融合误差阈值，则确定所述像素点为异常像素点。
[0015]第二方面，本申请实施例提供了一种异常像素识别装置，包括：获取单元，配置为获取待识别图像；映射单元，配置为确定所述待识别图像中最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系；其中，所述映射关系根据至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图分析得到；确定单元，配置为根据所述映射关系确定所述待识别图像中若干个像素点各自对应的最小融合误差阈值；识别单元，配置为根据所述最小融合误差阈值对所述待识别图像中若干个像素点进行异常像素识别，确定所述待识别图像中的异常像素点。
[0016]第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存储能够在处理器上运行的计算机程序；处理器，用于在运行所述计算机程序时，执行如第一方面中任一项所述的异常像素识别方法。
[0017]第四方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被至少一个处理器执行时实现如第一方面中任一项所述的异常像素识别方法。
[0018]本申请实施例所提供的一种异常像素识别方法、装置、设备以及计算机存储介质，获取待识别图像；确定待识别图像中最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系；其中，映射关系根据至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图分析得到；根据映射关系确定待识别图像中若干个像素点各自对应的最本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种异常像素识别方法，其特征在于，所述方法包括：获取待识别图像；确定所述待识别图像中最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系；其中，所述映射关系根据至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图分析得到；根据所述映射关系确定所述待识别图像中若干个像素点各自对应的最小融合误差阈值；根据所述最小融合误差阈值对所述待识别图像中若干个像素点进行异常像素识别，确定所述待识别图像中的异常像素点。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：采集至少一个距离下的双频深度图像；根据所述至少一个距离下的双频深度图像，确定所述至少一个距离下的最小误差图；采集至少一个距离下的测量特征图，其中，所述测量特征图至少包括测量幅度图、测量灰度图或者测量深度图；根据所述至少一个距离下的最小误差图以及对应的至少一个距离下的测量特征图进行拟合分析，确定最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述采集至少一个距离下的双频深度图像，包括：在静止场景下进行不同距离的图像采集，确定所述至少一个距离下的双频深度图像。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个距离下的双频深度图像，确定所述至少一个距离下的最小误差图，包括：根据所述至少一个距离下的双频深度图像分别进行最小融合误差计算，确定所述至少一个距离各自对应的最小误差图。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个距离下的双频深度图像分别进行最小融合误差计算，确定所述至少一个距离各自对应的最小误差图，包括：根据第一距离下的双频深度图像，确定第一频率下的第一测量距离值和至少一个第一测量模糊次数以及在第二频率下的第二测量距离值和至少一个第二测量模糊次数；根据第一频率下的所述第一测量距离值和所述至少一个第一测量模糊次数，计算第一频率对应的至少一个第一候选距离；根据第二频率下的所述第二测量距离值和所述至少一个第二测量模糊次数，计算第二频率对应的至少一个第二候选距离；基于所述第一频率对应的至少一个第一候选距离和所述第二频率对应的至少一个第二候选距离，计算第一距离对应的所述最小误差图；其中，所述第一距离为所述至少一个距离中的任意一个。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一频率对应的至少一个第一候选距离和所述第二频率对应的至少一个第二候选距离，计算第一距离对应的所述最小误差图，包括：对所述第一频率对应的至少一个第一候选距离和所述第二频率对应的至少一个第二候选距离进行作差计算得到若干个差值；根据所述若干个差值中的最小差值，得到所述第一距离对应的最小误差图。
7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图进行拟合...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪峰，莫苏苏，吴昊，王抒昂，
申请(专利权)人：武汉市聚芯微电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：