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本申请实施例公开了一种异常像素识别方法、装置、设备以及计算机存储介质，该方法包括：获取待识别图像；确定待识别图像中最小融合误差阈值与测量特征值之间的映射关系；其中，映射关系根据至少一个距离下的最小误差图以及对应的测量特征图分析得到；根据映射...
该专利属于武汉市聚芯微电子有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉市聚芯微电子有限责任公司授权不得商用。

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