一种可辅助接线的金手指测试片制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可辅助接线的金手指测试片，包括绝缘胶体、定位安装孔、螺丝固定孔、外铍铜片、内铍铜片、内硬质合金、外硬质合金、短测试接片、短端尾部接线辅助孔、长测试接片和长端尾部接线辅助孔，在内铍铜片和外铍铜片位于绝缘胶体内部的部位连接短测试接片和长测试接片，以兼容各类测试设备的安装，上侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接内硬质合金，下侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接外硬质合金，内硬质合金和外硬质合金共同组成硬质合金部件，通过该部件连接外部检测产品或设备，有效提高使用寿命，且测试过程更加稳定，取消以往的单一铍铜测试，具备多组测试接口同时测试使用，有效降低成本，并缩短了操作人员更换的时间。换的时间。换的时间。

【技术实现步骤摘要】
一种可辅助接线的金手指测试片


[0001]本技术涉及金手指测试片
，具体为一种可辅助接线的金手指测试片。

技术介绍

[0002]金手指是电脑硬件如内存条上与内存插槽之间、显卡与显卡插槽或PCB板等部件之间的连接部位，所有的信号都是通过金手指进行输送的，金手指由众多金黄色的导电触片组成，因其表面镀金而且导电触片排列如手指状，所以称为“金手指”，在产品加工的过程中，通常采用金手指测试片对各加工产品的金手指部位进行测试，现有技术的的金手指测试片通常采用最简单的铍铜测试IC产品，且测试端采用铍铜材质，在高电流或高频率测试下铍铜耐磨性能差，导致末端安装部位脆弱，进而导致更换频率快，从而提高了成本。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种可辅助接线的金手指测试片，通过在绝缘胶体左侧设置多组内铍铜片和外铍铜片，且在内铍铜片和外铍铜片位于绝缘胶体内部的部位连接短测试接片和长测试接片，以兼容不同类型的测试设备的安装，上侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接内硬质合金，下侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接外硬质合金，内硬质合金和外硬质合金共同组成硬质合金部件，通过该部件连接外部检测产品或设备，有效将使用寿命提高3
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4倍，且测试过程更加稳定，同时取消以往的单一铍铜测试，具备多组测试接口同时测试使用，有效降低成本，并缩短了操作人员更换的时间，可以解决现有技术中的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0005]一种可辅助接线的金手指测试片，包括绝缘胶体、定位安装孔、螺丝固定孔、外铍铜片、内铍铜片、内硬质合金、外硬质合金、内夹头、外夹头、短测试接片、短端尾部接线辅助孔、长测试接片和长端尾部接线辅助孔，所述绝缘胶体的内部前后两端的左侧设有定位安装孔，所述绝缘胶体的内部前后两端的右侧设有螺丝固定孔，所述绝缘胶体的左侧中心处设有内铍铜片，所述绝缘胶体的左侧外部设有外铍铜片，上侧所述内铍铜片和外铍铜片的末端设有内硬质合金，所述内硬质合金的上侧设有内夹头，下侧所述内铍铜片和外铍铜片的末端设有外硬质合金，所述外硬质合金的上侧设有外夹头，所述绝缘胶体的右侧上端设有短测试接片，所述短测试接片的末端内侧设有短端尾部接线辅助孔，所述绝缘胶体的右侧下端设有长测试接片，所述长测试接片的末端内侧设有长端尾部接线辅助孔。
[0006]优选的，所述外铍铜片和内铍铜片均设有上下两组，上侧的外铍铜片和内铍铜片穿过绝缘胶体并与短测试接片连接，下侧的外铍铜片和内铍铜片穿过绝缘胶体并与长测试接片连接。
[0007]优选的，所述内硬质合金分别焊接于上侧的外铍铜片和内铍铜片末端，外硬质合金分别焊接于下侧的外铍铜片和内铍铜片末端。
[0008]优选的，所述绝缘胶体共设有三层。
[0009]优选的，所述外铍铜片、内铍铜片、短测试接片和长测试接片的厚度均为0.4mm。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0011]本技术可辅助接线的金手指测试片，通过在绝缘胶体左侧设置多组内铍铜片和外铍铜片，且在内铍铜片和外铍铜片位于绝缘胶体内部的部位连接短测试接片和长测试接片，以兼容不同类型的测试设备的安装，上侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接内硬质合金，下侧内铍铜片和外铍铜片的左侧末端焊接外硬质合金，内硬质合金和外硬质合金共同组成硬质合金部件，通过该部件连接外部检测产品或设备，有效将使用寿命提高3
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4倍，且测试过程更加稳定，取消以往的单一铍铜测试，具备多组测试接口同时测试使用，有效降低成本，并缩短了操作人员更换的时间，且采用硬质合金焊接铍铜的方式，有效提高使用寿命。
附图说明
[0012]图1为本技术的立体结构示意图；
[0013]图2为本技术的A处的放大结构示意图；
[0014]图3为本技术的俯视结构示意图；
[0015]图4为本技术的侧面结构示意图。
[0016]图中：1、绝缘胶体；2、定位安装孔；3、螺丝固定孔；4、外铍铜片；5、内铍铜片；6、内硬质合金；7、外硬质合金；8、内夹头；9、外夹头；10、短测试接片；11、短端尾部接线辅助孔；12、长测试接片；13、长端尾部接线辅助孔。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0018]请参阅图1
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图4，一种可辅助接线的金手指测试片，包括绝缘胶体1、定位安装孔2、螺丝固定孔3、外铍铜片4、内铍铜片5、内硬质合金6、外硬质合金7、内夹头8、外夹头9、短测试接片10、短端尾部接线辅助孔11、长测试接片12和长端尾部接线辅助孔13，绝缘胶体1共设有三层，绝缘胶体1的内部前后两端的左侧设有定位安装孔2，绝缘胶体1的内部前后两端的右侧设有螺丝固定孔3，绝缘胶体1的左侧中心处设有内铍铜片5，绝缘胶体1的左侧外部设有外铍铜片4，上侧内铍铜片5和外铍铜片4的末端设有内硬质合金6，内硬质合金6的上侧设有内夹头8，下侧内铍铜片5和外铍铜片4的末端设有外硬质合金7，内硬质合金6分别焊接于上侧的外铍铜片4和内铍铜片5末端，外硬质合金7分别焊接于下侧的外铍铜片4和内铍铜片5末端，外硬质合金7的上侧设有外夹头9，绝缘胶体1的右侧上端设有短测试接片10，短测试接片10的末端内侧设有短端尾部接线辅助孔11，绝缘胶体1的右侧下端设有长测试接片12，外铍铜片4和内铍铜片5均设有上下两组，上侧的外铍铜片4和内铍铜片5穿过绝缘胶体1并与短测试接片10连接，下侧的外铍铜片4和内铍铜片5穿过绝缘胶体1并与长测试接片12连接，外铍铜片4、内铍铜片5、短测试接片10和长测试接片12的厚度均为0.4mm，长测试接片
12的末端内侧设有长端尾部接线辅助孔13。
[0019]本技术与现有技术的区别：现有技术的的金手指测试片通常采用最简单的铍铜测试IC产品，且测试端采用铍铜材质，在高电流或高频率测试下铍铜耐磨性能差，导致末端安装部位脆弱，进而导致更换频率快，从而提高了成本，本技术可辅助接线的金手指测试片，通过在绝缘胶体1左侧设置多组内铍铜片5和外铍铜片4，且在内铍铜片5和外铍铜片4位于绝缘胶体1内部的部位连接短测试接片10和长测试接片12，以兼容不同类型的测试设备的安装，上侧内铍铜片5和外铍铜片4的左侧末端焊接内硬质合金6，下侧内铍铜片5和外铍铜片4的左侧末端焊接外硬质合金7，内硬质合金6和外硬质合金7共同组成硬质合金部件，通过该部件连接外部检测产品或设备，有效将使用寿命提高3
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4倍，同时使测试过程更加稳定。
[0020]综上所述：本技术可辅助接线的金手指测试片，通过在绝缘胶体1左侧设置多组内铍铜片5和外铍铜片4，且在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可辅助接线的金手指测试片，包括绝缘胶体(1)、定位安装孔(2)、螺丝固定孔(3)、外铍铜片(4)、内铍铜片(5)、内硬质合金(6)、外硬质合金(7)、内夹头(8)、外夹头(9)、短测试接片(10)、短端尾部接线辅助孔(11)、长测试接片(12)和长端尾部接线辅助孔(13)，其特征在于：所述绝缘胶体(1)的内部前后两端的左侧设有定位安装孔(2)，所述绝缘胶体(1)的内部前后两端的右侧设有螺丝固定孔(3)，所述绝缘胶体(1)的左侧中心处设有内铍铜片(5)，所述绝缘胶体(1)的左侧外部设有外铍铜片(4)，上侧所述内铍铜片(5)和外铍铜片(4)的末端设有内硬质合金(6)，所述内硬质合金(6)的上侧设有内夹头(8)，下侧所述内铍铜片(5)和外铍铜片(4)的末端设有外硬质合金(7)，所述外硬质合金(7)的上侧设有外夹头(9)，所述绝缘胶体(1)的右侧上端设有短测试接片(10)，所述短测试接片(10)的末端内侧设有短端尾部接线辅助孔(11)，所述绝缘...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐伟晋，徐群武，朱燕燕，周德华，梁家瑞，周小峰，
申请(专利权)人：东莞市锦越五金科技有限公司，
类型：新型
国别省市：