一种检测光耦输出状态的隔离反馈电路制造技术

本发明专利技术公开了一种检测光耦输出状态的隔离反馈电路，应用于与负载连接的光耦模块，该电路包括主控模块、隔离反馈模块、电流检测模块、电流上限比较模块、电流下限比较模块、电压检测模块和电压比较模块；光耦模块还分别与主控模块和电流检测模块连接；电流检测模块分别与电流上限比较模块和电流下限比较模块连接；电压检测模块与负载并联，电压检测模块与电压比较模块连接；电流上限比较模块、电流下限比较模块和电压比较模块均与隔离反馈模块连接；隔离反馈模块与主控模块连接。本发明专利技术能够实时清楚知道光耦模块输出端的输出状态，以便于及时获悉光耦模块输出端的异常，从而可以减少对信号正常输出的影响，以及避免引发安全问题。以及避免引发安全问题。以及避免引发安全问题。

【技术实现步骤摘要】
一种检测光耦输出状态的隔离反馈电路


[0001]本专利技术涉及半导体集成电路
，尤其涉及一种检测光耦输出状态的隔离反馈电路。

技术介绍

[0002]光耦合器(Optical Coupler Equipment，英文缩写为OCEP)，亦称光电隔离器或光电耦合器，简称光耦。光耦是以光为媒介来传输电信号的器件，由于它对输入、输出电信号有良好的隔离作用，它在各种电路中得到了广泛的应用。
[0003]目前，光耦的隔离作用使得光耦的输入端并不能直接知道光耦的输出端的输出状态，例如当光耦的输入端输入一个控制信号时，光耦的输入端无法知道光耦的输出端是否有按照控制信号去执行相应的动作，这样有可能导致光耦的输出端出现了故障异常也无从得知，从而不仅影响信号的正常输出，并且很可能还会引发安全问题。
[0004]因此，需要对现有技术进行改进。
[0005]以上信息作为背景信息给出只是为了辅助理解本公开，并没有确定或者承认任意上述内容是否可用作相对于本公开的现有技术。

技术实现思路

[0006]本专利技术提供一种检测光耦输出状态的隔离反馈电路，以解决现有技术的不足。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供以下的技术方案：
[0008]一种检测光耦输出状态的隔离反馈电路，应用于光耦模块，所述光耦模块的第一输入端与负载连接，所述电路包括主控模块、输出检测模块和隔离反馈模块；其中，
[0009]所述输出检测模块包括电流检测模块、电流上限比较模块、电流下限比较模块、电压检测模块和电压比较模块；
[0010]所述光耦模块的第二输入端与所述主控模块的输出端连接，所述光耦模块的输出端与所述电流检测模块的输入端连接；
[0011]所述电流检测模块的输出端分别与所述电流上限比较模块的输入端和所述电流下限比较模块的输入端连接；
[0012]所述电压检测模块的输入端与所述负载并联，所述电压检测模块的输出端与所述电压比较模块的输入端连接；
[0013]所述电流上限比较模块的输出端与所述隔离反馈模块的第一输入端连接，所述电流下限比较模块的输出端与所述隔离反馈模块的第二输入端连接，所述电压比较模块的输出端与所述隔离反馈模块的第三输入端连接；
[0014]所述隔离反馈模块的输出端与所述主控模块的输入端连接；
[0015]所述电流检测模块用于检测所述光耦模块的输出端的负载电流，并把所述负载电流给到所述电流上限比较模块和所述电流下限比较模块；
[0016]所述电流上限比较模块用于将所述负载电流与设定的电流上限进行比较，判断所
述负载电流是否超过所述电流上限，以得到电流上限比较结果；
[0017]所述电流下限比较模块用于将所述负载电流与设定的电流下限进行比较，判断所述负载电流是否达到所述电流下限，以得到电流下限比较结果；
[0018]所述电压检测模块用于检测所述光耦模块的输出端的负载电压，并把所述负载电压给所述电压比较模块；
[0019]所述电压比较模块用于将所述负载电压与设定的短路电压进行比较，判断所述负载电压是否达到所述短路电压，以得到电压比较结果；
[0020]所述主控模块用于输出导通信号使所述光耦模块导通，并读取所述隔离反馈模块输入的电流上限比较结果、电流下限比较结果和电压比较结果，从而得知所述光耦模块的输出端是否导通；以及，用于输出截止信号使所述光耦模块截止，并读取所述隔离反馈模块输入的电流上限比较结果、电流下限比较结果和电压比较结果，从而得知所述光耦模块的输出端是否截止。
[0021]进一步地，所述检测光耦输出状态的隔离反馈电路中，所述电流检测模块包括第一运算放大器U3、第一电阻R1和第三电阻R3；
[0022]所述第一运算放大器U3的正输入端与所述光耦模块连接，所述第一运算放大器U3的负输入端通过所述第一电阻R1接地，所述第一运算放大器U3的输出端与所述电流上限比较模块连接；
[0023]所述第三电阻R3的一端与所述第一运算放大器U3的输出端连接，所述第三电阻R3的另一端连接在所述第一运算放大器U3的负输入端与所述第一电阻R1之间。
[0024]进一步地，所述检测光耦输出状态的隔离反馈电路中，所述电流上限比较模块包括第一电压比较器U5、第十四电阻R14、第十五电阻R15和第一电压基准源VREF1；
[0025]所述第十四电阻R14的一端与所述第一电压比较器U5的供电端连接，所述第十四电阻R14的另一端与所述第十五电阻R15的一端连接；所述第十五电阻R15的另一端接地；
[0026]所述第一电压比较器U5的正输入端与所述第一电压基准源VREF1连接后连接在所述第十四电阻R14与所述第十五电阻R15之间；
[0027]所述第一电压比较器U5的负输入端与所述第一运算放大器U3的输出端连接；
[0028]所述第一电压比较器U5的输出端与所述隔离反馈模块的第一输入端连接。
[0029]进一步地，所述检测光耦输出状态的隔离反馈电路中，所述电流下限比较模块包括第二电压比较器U6、第十六电阻R16、第十七电阻R17和第二电压基准源VREF2；
[0030]所述第十六电阻R16的一端与所述第二电压比较器U6的供电端连接，所述第十六电阻R16的另一端与所述第十七电阻R17的一端连接；所述第十七电阻R17的另一端接地；
[0031]所述第二电压比较器U6的正输入端与所述第二电压基准源VREF2连接后连接在所述第十六电阻R16与所述第十七电阻R17之间；
[0032]所述第二电压比较器U6的负输入端与所述第一运算放大器U3的输出端连接；
[0033]所述第二电压比较器U6的输出端与所述隔离反馈模块的第二输入端连接。
[0034]进一步地，所述检测光耦输出状态的隔离反馈电路中，所述电压检测模块包括第二运算放大器U4、第二十六电阻R26、第二十七电阻R27、第二十八电阻R28和第二十九电阻R29；
[0035]所述第二运算放大器U4的正输入端通过所述第二十七电阻R27与所述负载的第一
端连接，所述第二运算放大器U4的负输入端通过所述第二十六电阻R26与所述负载的第二端连接，所述第二运算放大器U4的输出端与所述电压比较模块的输入端连接；
[0036]所述第二十八电阻R28的一端连接在所述第二运算放大器U4与所述第二十六电阻R26之间，所述第二十八电阻R28的另一端与所述第二运算放大器U4的输出端连接；
[0037]所述第二十九电阻R29的一端连接在所述第二运算放大器U4与所述第二十七电阻R27之间，所述第二十九电阻R29的另一端接地。
[0038]进一步地，所述检测光耦输出状态的隔离反馈电路中，所述电压比较模块包括第三电压比较器U7、第二十电阻R20、第二十一电阻R21和第三电压基准源VREF3；
[0039]所述第二十电阻R20的一端与所述第三电压比较器U7的供电端连接，所述第二十电阻R20的另一端与所述第二十一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测光耦输出状态的隔离反馈电路，应用于光耦模块，所述光耦模块的第一输入端与负载连接，其特征在于，所述电路包括主控模块、输出检测模块和隔离反馈模块；其中，所述输出检测模块包括电流检测模块、电流上限比较模块、电流下限比较模块、电压检测模块和电压比较模块；所述光耦模块的第二输入端与所述主控模块的输出端连接，所述光耦模块的输出端与所述电流检测模块的输入端连接；所述电流检测模块的输出端分别与所述电流上限比较模块的输入端和所述电流下限比较模块的输入端连接；所述电压检测模块的输入端与所述负载并联，所述电压检测模块的输出端与所述电压比较模块的输入端连接；所述电流上限比较模块的输出端与所述隔离反馈模块的第一输入端连接，所述电流下限比较模块的输出端与所述隔离反馈模块的第二输入端连接，所述电压比较模块的输出端与所述隔离反馈模块的第三输入端连接；所述隔离反馈模块的输出端与所述主控模块的输入端连接；所述电流检测模块用于检测所述光耦模块的输出端的负载电流，并把所述负载电流给到所述电流上限比较模块和所述电流下限比较模块；所述电流上限比较模块用于将所述负载电流与设定的电流上限进行比较，判断所述负载电流是否超过所述电流上限，以得到电流上限比较结果；所述电流下限比较模块用于将所述负载电流与设定的电流下限进行比较，判断所述负载电流是否达到所述电流下限，以得到电流下限比较结果；所述电压检测模块用于检测所述光耦模块的输出端的负载电压，并把所述负载电压给所述电压比较模块；所述电压比较模块用于将所述负载电压与设定的短路电压进行比较，判断所述负载电压是否达到所述短路电压，以得到电压比较结果；所述主控模块用于输出导通信号使所述光耦模块导通，并读取所述隔离反馈模块输入的电流上限比较结果、电流下限比较结果和电压比较结果，从而得知所述光耦模块的输出端是否导通；以及，用于输出截止信号使所述光耦模块截止，并读取所述隔离反馈模块输入的电流上限比较结果、电流下限比较结果和电压比较结果，从而得知所述光耦模块的输出端是否截止。2.根据权利要求1所述的检测光耦输出状态的隔离反馈电路，其特征在于，所述电流检测模块包括第一运算放大器U3、第一电阻R1和第三电阻R3；所述第一运算放大器U3的正输入端与所述光耦模块连接，所述第一运算放大器U3的负输入端通过所述第一电阻R1接地，所述第一运算放大器U3的输出端与所述电流上限比较模块连接；所述第三电阻R3的一端与所述第一运算放大器U3的输出端连接，所述第三电阻R3的另一端连接在所述第一运算放大器U3的负输入端与所述第一电阻R1之间。3.根据权利要求2所述的检测光耦输出状态的隔离反馈电路，其特征在于，所述电流上限比较模块包括第一电压比较器U5、第十四电阻R14、第十五电阻R15和第一电压基准源
VREF1；所述第十四电阻R14的一端与所述第一电压比较器U5的供电端连接，所述第十四电阻R14的另一端与所述第十五电阻R15的一端连接；所述第十五电阻R15的另一端接地；所述第一电压比较器U5的正输入端与所述第一电压基准源VREF1连接后连接在所述第十四电阻R14与所述第十五电阻R15之间；所述第一电压比较器U5的负输入端与所述第一运算放大器U3的输出端连接；所述第一电压比较器U5的输出端与所述隔离反馈模块的第一输入端连接。4.根据权利要求3所述的检测光耦输出状态的隔离反馈电路，其特征在于，所述电流下限比较模块包括第二电压比较器U6、第十六电阻R16、第十七电阻R17和第二电压基准源VREF2；所述第十六电阻R16的一端与所述第二电压比较器U6的供电端连接，所述第十六电阻R16的另一端与所述第十七电阻R17的一端连接；所述第十七电阻R17的另一端接地；所述第二电压比较器U6的正输入端与所述第二电压基准源VREF2连接后连接在所述第十六电阻R16与所述第十七电阻R17之间；所述第二电压比较器U6的负输入端与所述第一运算放大器U3的输出端连接；所述第二电压比较器U6的输出端与所述隔离反馈模块的第二输入端连接。5.根据权利要求4所述的检测光耦输出状态的隔离反馈电路，其特征在于，所述电压检测模块包括第二运算放大器U4、第二十六电阻R26、第二十七电阻R27、第二十八电阻R28和第二十九电阻R29；所述第二运算放大器U4的正输入端通过所述第二十七电阻R27与所述负载的第一端连接，所述第二运算放大器U4的负输入端通过所述第二十六电阻R26与所述负载的第二端连接，所述第二运算放大器U4的输出端与所述电压比较模块的输入端连接；所述第二十八电阻R28的一端连接在所述第二运算放大器U4与所述第二十六电阻R26之间，所述第二十八电阻R28的另一端与所述第二运算放大器U4的输出端连接；所述第二十九电阻R29的一端连接在所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志荣，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：