本实用新型专利技术提供了一种测试装置，涉及均温板性能测试技术领域，该测试装置包括支撑组件、旋转组件和压紧组件；支撑组件包括支撑架，旋转组件包括工作台；工作台与支撑架铰接，并可绕铰接轴线转动预设角度；工作台的台面上固设有多个不同规格的加热器，多个加热器用于与放置于其上的待测试元件的不同位置相对应，并用于加热待测试元件；压紧组件配置成能够于测试工况下，将待测试元件压紧于加热器。通过该测试装置，缓解了现有技术中均温板性能模拟测试困难的技术问题，且操作简单方便。且操作简单方便。且操作简单方便。
【技术实现步骤摘要】
测试装置
[0001]本技术涉及均温板性能测试
，尤其是涉及一种测试装置。
技术介绍
[0002]随着芯片技术的快速发展，市面上大功率高发热的电子元器件越来越多，同时电子元器件的体积越来越小，相应地，其热流密度越来越大，如此则导致电子元器件应用时的温度明显上升，从而严重影响设备的可靠性和使用寿命。在这种情况下，具备高效传热能力的均温板成为电子元器件散热的理想传热器件。
[0003]均温板为一体化结构，其具有高效的均温效果与传热能力，并能够满足三维方向的传热需求，以迅速将集中发热的单点或多点热源的热量扩热至均温板的整个导热背板，以增加换热面积，从而迅速实现电子元器件或单机的均温化与降温，满足电子元器件或载荷单机局部热源的扩热、均温以及散热的需求。
[0004]为了保证均温板能够达到上述效果，需要对其性能进行测试。但由于实际应用时均温板通常需要面对多个热源模块，且多个热源模块之间的功率相差几倍乃至几十倍，而且均温板还会被以不同倾角布置，如此使得均温板的模拟测试颇为困难。
技术实现思路
[0005]本技术的目的在于提供一种测试装置，以缓解现有技术中均温板性能模拟测试困难的技术问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本技术采取的技术手段为：
[0007]本技术提供的测试装置包括：支撑组件、旋转组件和压紧组件；
[0008]所述支撑组件包括支撑架，所述旋转组件包括工作台；
[0009]所述工作台与所述支撑架铰接，并可绕铰接轴线转动预设角度；
[0010]所述工作台的台面上固设有多个不同规格的加热器，多个所述加热器用于与放置于其上的待测试元件的不同位置相对应，并用于加热待测试元件；
[0011]所述压紧组件配置成能够于测试工况下，将待测试元件压紧于所述加热器。
[0012]进一步地，所述支撑架由两块间隔且平行分布的支撑板组成，所述支撑板与所述工作台通过铰接结构连接。
[0013]进一步地，所述铰接结构包括铰接轴、第一通孔和设有第二通孔的后支耳；
[0014]所述第一通孔和所述后支耳两者中的一者设置于所述支撑板，另一者设置于所述工作台；
[0015]所述铰接轴穿过所述第一通孔和所述第二通孔。
[0016]进一步地，所述工作台与所述支撑板之间还通过滑动结构滑动连接；
[0017]所述工作台的滑动路径呈圆弧形，且所述圆弧形的角度与所述预设角度相等。
[0018]进一步地，所述滑动结构包括弧形槽和可沿所述弧形槽的延伸路径滑动的转动轴；
[0019]所述支撑板和所述工作台两者中的一者设置所述弧形槽，另一者设置前支耳，且所述前支耳设有与所述弧形槽相匹配的第三通孔；
[0020]所述转动轴穿过所述弧形槽和所述第三通孔，并与所述支撑板和所述工作台螺纹连接。
[0021]进一步地，所述加热器包括支架、加热铜块和加热棒；
[0022]所述支架固定于所述工作台；
[0023]所述加热铜块安装于所述支架，且所述加热铜块与所述支架之间设有隔热层；所述加热铜块设有盲腔，所述加热棒固定于所述盲腔。
[0024]进一步地，所述压紧组件包括压紧块；
[0025]所述压紧块与所述工作台活动连接，以使所述压紧块可向靠近或远离所述加热器的方向运动，以对应压紧或松脱待测试元件。
[0026]进一步地，所述压紧组件还包括连接支架；
[0027]所述压紧块固定连接于所述连接支架，所述连接支架与所述工作台滑动连接，所述连接支架的滑动路径垂直于所述台面。
[0028]进一步地，所述工作台自所述台面向远离所述台面的方向垂直延伸形成一对滑动支撑杆，所述滑动支撑杆上设有沿其长度方向延伸的滑槽；
[0029]所述连接支架设有与所述滑槽相适配的凸起，所述凸起卡接于所述滑槽，并可沿所述滑槽的延伸方向滑动。
[0030]进一步地，所述工作台自所述台面向远离所述台面的方向垂直延伸形成螺柱；
[0031]所述连接支架设有固定孔，并通过所述固定孔套设于所述螺柱；
[0032]螺母旋接于所述螺柱并用于与所述连接支架抵接，以使所述连接支架固定于所述螺柱。
[0033]与现有技术相比，本技术提供的测试装置所具有的技术优势为：
[0034]在本申请中，工作台与支撑架铰接，并可绕铰接轴线转动预设角度，则固设于工作台的加热器可随工作台同步转动，如此当待测试元件通过压紧组件固定于加热器上时，可以实现对处于不同倾角下的待测试元件的性能测试，而且由于加热器具有多个且规格不同，则可以实现对面对多个热源模块且多个热源模块之间的功率相差几倍乃至几十倍的待测试元件的性能测试。由此可以看出，通过该测试装置，可以对多热源模块分布下的均温板进行真实测试，解决了现有技术中均温板性能模拟测试困难的技术问题。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或相关技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1为本技术实施例提供的测试装置的结构示意图；
[0037]图2为本技术实施例提供的测试装置的旋转组件的结构示意图；
[0038]图3为本技术实施例提供的测试装置的加热器的结构示意图；
[0039]图4为本技术实施例提供的测试装置的加热器的剖视图；
[0040]图5为本技术实施例提供的测试装置的压紧组件的结构示意图。
[0041]图标：
[0042]100
‑
支撑组件；110
‑
支撑架；120
‑
底座；111
‑
弧形槽；
[0043]200
‑
旋转组件；210
‑
工作台；220
‑
铰接轴；230
‑
转动轴；240
‑
滑动支撑杆；250
‑
螺柱；211
‑
后支耳；212
‑
前支耳；241
‑
滑槽；
[0044]300
‑
压紧组件；310
‑
压紧块；320
‑
连接支架；321
‑
凸起；322
‑
固定孔；
[0045]400
‑
加热器；410
‑
支架；420
‑
加热铜块；430
‑
加热棒；
[0046]500
‑
待测试元件。
具体实施方式
[0047]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：支撑组件(100)、旋转组件(200)和压紧组件(300)；所述支撑组件(100)包括支撑架(110)，所述旋转组件(200)包括工作台(210)；所述工作台(210)与所述支撑架(110)铰接，并可绕铰接轴(220)线转动预设角度；所述工作台(210)的台面上固设有多个不同规格的加热器(400)，多个所述加热器(400)用于与放置于其上的待测试元件(500)的不同位置相对应，并用于加热待测试元件(500)；所述压紧组件(300)配置成能够于测试工况下，将待测试元件(500)压紧于所述加热器(400)。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述支撑架(110)由两块间隔且平行分布的支撑板组成，所述支撑板与所述工作台(210)通过铰接结构连接。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述铰接结构包括铰接轴(220)、第一通孔和设有第二通孔的后支耳(211)；所述第一通孔和所述后支耳(211)两者中的一者设置于所述支撑板，另一者设置于所述工作台(210)；所述铰接轴(220)穿过所述第一通孔和所述第二通孔。4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述工作台(210)与所述支撑板之间还通过滑动结构滑动连接；所述工作台(210)的滑动路径呈圆弧形，且所述圆弧形的角度与所述预设角度相等。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述滑动结构包括弧形槽(111)和可沿所述弧形槽(111)的延伸路径滑动的转动轴(230)；所述支撑板和所述工作台(210)两者中的一者设置所述弧形槽(111)，另一者设置前支耳(212)，且所述前支耳(212)设有与所述弧形槽(111)相匹配的第三通孔；所述转动轴(230)穿过所述弧形槽(111)和所述第三通孔，并与所述支撑板和所述工作台(210)螺纹连接。6...
【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：上海博创空间热能技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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