物体表面数据侦测方法、装置、系统和电子装置制造方法及图纸

本申请涉及一种物体表面数据侦测方法、装置、系统和电子装置，其中，该物体表面数据侦测方法包括：获取每个侦测辅助设备和定位设备之间的第一变换关系；其中，侦测辅助设备为至少两个；在对待扫描区域进行扫描时，获取待扫描区域内侦测辅助设备对应的第一扫描数据，基于第一变换关系将第一扫描数据进行坐标转换，得到第二扫描数据；第一扫描数据在侦测辅助设备的跟踪坐标系下，第二扫描数据在定位设备的全局坐标系下；根据第二扫描数据得到该待扫描区域内的物体表面数据侦测结果。通过本申请，解决了物体表面数据侦测的准确性低的问题，实现了大工件大场景下的高效率高精度物体表面数据侦测。据侦测。据侦测。

【技术实现步骤摘要】
物体表面数据侦测方法、装置、系统和电子装置


[0001]本申请涉及视觉测量
，特别是涉及物体表面数据侦测方法、装置、系统和电子装置。

技术介绍

[0002]物体表面数据的侦测技术在零部件尺寸及位置测量、机器人导引、工业设计、瑕疵检测、逆向工程等领域都有广泛的应用，主要是对物体空间外形和结构及色彩进行扫描，以获得物体表面的空间坐标。在相关技术中，通常通过激光跟踪测量系统跟踪扫描设备上装的靶球，定位扫描仪的全局位置进行物体表面数据侦测，因此扫描过程中无法扫描各个角度，且容易跟踪失败而需要重新跟踪定位，导致物体表面数据侦测的准确性较低。
[0003]目前针对相关技术中物体表面数据侦测的准确性低的问题，尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种物体表面数据侦测方法、装置、系统和电子装置，以至少解决相关技术中物体表面数据侦测的准确性低的问题。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种物体表面数据侦测方法，所述方法包括：
[0006]获取每个侦测辅助设备和定位设备之间的第一变本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物体表面数据侦测方法，其特征在于，所述方法包括：获取每个侦测辅助设备和定位设备之间的第一变换关系；其中，所述侦测辅助设备为至少两个；在对待扫描区域进行扫描时，获取所述待扫描区域内所述侦测辅助设备对应的第一扫描数据，基于所述第一变换关系将所述第一扫描数据进行坐标转换，得到第二扫描数据；其中，所述第一扫描数据在所述侦测辅助设备的跟踪坐标系下，所述第二扫描数据在所述定位设备的全局坐标系下；根据所述第二扫描数据得到所述待扫描区域内的物体表面数据侦测结果。2.根据权利要求1所述的物体表面数据侦测方法，其特征在于，所述获取每个侦测辅助设备和定位设备之间的第一变换关系包括：根据标定物上的第一标识符和第二标识符获取所述第一变换关系；其中，所述第一标识符配合所述定位设备使用，所述第二标识符配合所述侦测辅助设备使用。3.根据权利要求2所述的物体表面数据侦测方法，其特征在于，所述根据标定物上的第一标识符和第二标识符获取所述第一变换关系包括：根据所述第一标识符和所述第二标识符获取所述第一变换关系，并根据多个所述标定物相对应的多个所述第一变换关系，拟合得到每个所述侦测辅助设备和所述定位设备之间的第二变换关系；其中，多个所述标定物在所述待扫描区域内对应位于多个摆放位置；所述获取所述待扫描区域内所述侦测辅助设备对应的第一扫描数据，基于所述第一变换关系将所述第一扫描数据进行坐标转换，得到第二扫描数据包括：获取所述第一扫描数据，基于所述第二变换关系将所述第一扫描数据进行坐标转换，得到所述第二扫描数据。4.根据权利要求2所述的物体表面数据侦测方法，其特征在于，所述根据标定物上的第一标识符和第二标识符，获取每个侦测辅助设备和定位设备之间的第一变换关系包括：获取所述第一标识符在所述全局坐标系下的第一坐标，以及所述第二标识符在所述跟踪坐标系下的第二坐标；根据所述第一标识符和所述第二标识符之间的位置关系，以及所述第一坐标和所述第二坐标之间的约束关系，得到所述第一变换关系。5.根据权利要求1所述的物体表面数据侦测方法，其特征在于，所述定位设备为摄影测量设备；所述获取每个侦测辅助设备和定位设备之间的第一变换关系包括：通过所述摄影测量设备获取背景标定点在所述全局坐标系下的第三坐标；通过每个所述侦测辅助设备获取所述背景标定点在对应的所述跟踪坐标系下的第四坐标；根据所述第三坐标和所述第四坐标获取所述第一变换关系。6.根据权利要求1所述的物体表面数据侦测方法，其特征在于，所述获取待扫描区域内所述侦测辅助设备对应的第一扫描数据，基于所述第一变换关系将所述第一扫描数据进行坐标转换，得到第二扫描数据包括：基于预设选取策略，选取所有所述侦测辅助设备中的最优设备；获取所述最优设备对应的所述第一扫描数据作为最优...

【专利技术属性】
技术研发人员：王江峰，周强，
申请(专利权)人：杭州思锐迪科技有限公司，
类型：发明
国别省市：