一种基于光线反射的换向器槽检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电机加工设备技术领域，具体是一种基于光线反射的换向器槽检测装置，包括光线发射模块，用于向换向器的铜片和云母片发射光线；光线接收模块，用于接收所述换向器的铜片和云母片反射的光线；光信号处理模块，用于对所述光线接收模块接收的光线信号进行采集处理；所述光线接收模块与所述光信号处理模块连接；所述光线发射模块、所述光线接收模块和所述光信号处理模块安装于同一底座上。本装置可对待加工换向器进行精确定位，促进铣槽加工过程的精准度。加工过程的精准度。加工过程的精准度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光线反射的换向器槽检测装置


[0001]本技术涉及电机加工设备
，尤其涉及一种基于光线反射的换向器槽检测装置。

技术介绍

[0002]电子换向器是电机电枢的一个重要部件，在电机转动时起到换向的作用，维持电机持续转动；换向器表面有很多竖向绝缘槽，铣槽主要是对换向器的绝缘槽进行铣槽加工，由于较小的换向器在铣槽时难以精确定位槽的位置，每个槽外部分并不是全等分处理，若采用每次转动固定角度，则后续槽口会出现偏移情况，严重的会损坏切刀与工件。已有的加工方式还有采用螺丝将换向器锁在芯轴上进行开槽，每加工完一个槽就需要拆装一次螺丝，这种方式非常耗费人力。
[0003]因此，急需一种技术来解决该问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于克服上述现有技术的问题，提供了一种基于光线反射的换向器槽检测装置，作为辅助定位装置，通过光线照射在换向器的铜片及云母片上会进行反射的原理，通过管线结构模块对反射的光线进行接收，并通过光线号处理模块的处理，实现对加工位的精准定位，本装置可对待加工换向器进行精确定位，促进铣槽加工过程的精准度。
[0005]上述目的是通过以下技术方案来实现：
[0006]一种基于光线反射的换向器槽检测装置，包括：
[0007]光线发射模块，用于向换向器的铜片和云母片发射光线；
[0008]光线接收模块，用于接收所述换向器的铜片和云母片反射的光线；
[0009]光信号处理模块，用于对所述光线接收模块接收的光线信号进行采集处理；
[0010]所述光线接收模块与所述光信号处理模块连接；所述光线发射模块、所述光线接收模块和所述光信号处理模块安装于同一底座上。
[0011]进一步地，所述光线发射模块为光发射器，通过设置于所述底座的夹具进行夹持。
[0012]进一步地，所述光线接收模块包括顺序安装于镜筒内的聚光片、滤光片和光电传感器；所述光电传感器与所述光信号处理模块连接。
[0013]进一步地，所述光信号处理模块包括顺序连接的第一运放器u1、第二运放器u2、第三运放器u3和电磁隔离芯片u4和CPu处理芯片，在所述第一运放器与所述光电传感器之间连接有用于将传感器电流信号转换成电压信号的第一电阻R1、用于滤波的第一滤波电容C3、和由第一二极管D2、第二电阻R2、第二电容C4构成的稳压电路；所述第一运放器u1的反向输入端与输出端连接构成信号跟随电路；所述第一运放器u1的输出端与所述第二运放器u2的同相输入端连接，所述第二运放器u2的反向输入端与输出端之间连接有第三电阻R4和第四电阻R5构成模拟量放大电路；在所述第二运放器u2的输出端与所述第三运放器u3的反
向输入端之间连接有第五电阻R6和第三电容C6构成的RC滤波电路；在所述第三运放器u3的同相输入端与输出端之间连接有第六电阻R7、第七电阻R8和第八电阻R9，构成比较电路；在所述第三运放器u3的输出端与CPu的引脚之间还连接有所述电磁隔离芯片u4、第九电阻R11、第十电阻R12和第四电容C7，构成隔离电路。
[0014]进一步地，所述第八电阻R9作为迟滞电阻，所述第九电阻R11作为上拉电阻。
[0015]进一步地，所述第十电阻R12和所述第四电容C7构成滤波电路。
[0016]进一步地，所述光信号处理模块通过一个屏蔽壳封装，所述屏蔽壳安装于所述底座上。
[0017]进一步地，还包括一个与所述光信号处理模块连接的显示模块，用于将处理结果进行显不。
[0018]进一步地，所述显示模块为液晶显示器。
[0019]有益效果
[0020]本技术所提供的一种基于光线反射的换向器槽检测装置，作为辅助定位装置，通过光线照射在换向器的铜片及云母片上会进行反射的原理，通过管线结构模块对反射的光线进行接收，并通过光线号处理模块的处理，实现对加工位的精准定位，本装置可对待加工换向器进行精确定位，促进铣槽加工过程的精准度。还包括如下优点：
[0021]简化检测电路：利用光学反射原理检测换向器槽位置可以大大减少检测电路的设计，现只需采用光线接收二极管(光电传感器)再配合一些简单的信号处理电路就可将换向器槽的位置和换向器铜片的位置区分开来。
[0022]提高抗干扰能力：工作过程主要涉及光学和电学两部分，光线反射传输部分和待加工件表面反光度有关，电磁干扰对其不会产生作用；电学部分电路放入金属屏蔽壳进行抗干扰处理，提高电路工作的稳定性，减少电磁干扰，利用滤波电路和隔离电路配合提高信号的稳定性，从而提高了系统检测的抗干扰能力，使检测信号更加准确。
附图说明
[0023]图1为本技术所述一种基于光线反射的换向器槽检测装置的结构示意图；
[0024]图2为本技术所述一种基于光线反射的换向器槽检测装置中光线接收模块的剖视图；
[0025]图3为本技术所述一种基于光线反射的换向器槽检测装置中光信号处理模块的电路图；
[0026]图4为本技术所述一种基于光线反射的换向器槽检测装置的换向器结构示意图；
[0027]图5为本技术所述一种基于光线反射的换向器槽检测装置的工作示意图。
[0028]图示标记：
[0029]1‑
光线发射模块、2一光线接收模块、3一光信号处理模块、4一换向器、5一铜片、6一云母片、7一底座、8一夹具、9一镜筒、10一聚光片、11一滤光片、12一光电传感器、13一屏蔽壳。
具体实施方式
[0030]下面根据附图和实施例对本技术作进一步详细说明。所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]如图1和4所示，一种基于光线反射的换向器槽检测装置，包括：
[0032]光线发射模块1，用于向换向器4的铜片5和云母片6发射光线；
[0033]光线接收模块2，用于接收所述换向器4的铜片5和云母片6反射的光线；
[0034]光信号处理模块3，用于对所述光线接收模块2接收的光线信号进行采集处理；
[0035]所述光线接收模块2与所述光信号处理模块3连接；所述光线发射模块1、所述光线接收模块2和所述光信号处理模块3安装于同一底座7上。
[0036]如图5所示，工作原理：利用线光源照射换向器的转子轴承，转子轴承上分布有转子槽，转子槽包括铜片和云母片，根据光学反射原理转子槽反射光较少，槽外部分表面较为光滑反射光能力更强，根据此差别来检测出转子槽的位置；然后利用聚光片对反射光线进行聚焦；最后利用光电传感器12将反射聚焦后的光信号转化成模拟量电压信号，将此模拟量电压信号进行放大、比较处理转化为数字量信号后，利用CPu引脚进行采集处理。
[0037]在本实施例中，所述光线发射模块1为光发射器，通过设置于所述底座7的夹具8进行夹持。
[0038本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光线反射的换向器槽检测装置，其特征在于，包括：光线发射模块，用于向换向器的铜片和云母片发射光线；光线接收模块，用于接收所述换向器的铜片和云母片反射的光线；光信号处理模块，用于对所述光线接收模块接收的光线信号进行采集处理；所述光线接收模块与所述光信号处理模块连接；所述光线发射模块、所述光线接收模块和所述光信号处理模块安装于同一底座上。2.根据权利要求1所述的一种基于光线反射的换向器槽检测装置，其特征在于，所述光线发射模块为光发射器，通过设置于所述底座的夹具进行夹持。3.根据权利要求1所述的一种基于光线反射的换向器槽检测装置，其特征在于，所述光线接收模块包括顺序安装于镜筒内的聚光片、滤光片和光电传感器；所述光电传感器与所述光信号处理模块连接。4.根据权利要求3所述的一种基于光线反射的换向器槽检测装置，其特征在于，所述光信号处理模块包括顺序连接的第一运放器U1、第二运放器U2、第三运放器U3和电磁隔离芯片U4和CPU处理芯片，在所述第一运放器与所述光电传感器之间连接有用于将传感器电流信号转换成电压信号的第一电阻R1、用于滤波的第一滤波电容C3、和由第一二极管D2、第二电阻R2、第二电容C4构成的稳压电路；所述第一运放器U1的反向输入端与输出端连接构成信号跟随电路；所述第一运放器U1的输出端与所述第二运...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟，余晓雨，李永凯，周华平，
申请(专利权)人：无锡信捷电气股份有限公司，
类型：新型
国别省市：