一种半导体加工用测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及半导体技术领域，且公开了一种半导体加工用测试装置，包括底座机构、移动机构、翻转机构和检测机构，所述移动机构位于底座机构上端的左右两侧，所述翻转机构位于移动机构的下方，所述检测机构位于移动机构的前端，所述移动机构包括固定块、连接盒、滑槽。该半导体加工用测试装置，通过推动电机带动电动推杆推动滑块，滑块再带动移动块进行滑动，避免了还需手动移动检测机构，提高了便捷性，转轴转动使得安装座和连接卡块进行翻转，再由固定垫将需要检测的半导体进行固定，遇到大小不同的半导体时，将旋转按钮旋转，使得螺杆带动防护垫向前挤压即可进行固定，适用于不同大小的半导体进行固定，且具有翻转效果，提高了检测效率。检测效率。检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体加工用测试装置


[0001]本技术涉及半导体
，具体为一种半导体加工用测试装置。

技术介绍

[0002]半导体现已广泛应用于我们的生活之中，半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明和大功率电源转换等领域都有应用，其在商业应用具有一定的影响力。
[0003]现有技术CN202120277694.9的中国专利文献公开了一种半导体检测用工作台，其通过放置座、防护层、检测台、螺纹孔、螺纹孔、摇盘、固定块、活动轴承和防护垫的相互配合使用，达到了该半导体检测用工作台固定效果好的目的，解决了一般的检测用工作台固定效果不是很好的问题，有效避免人们在对半导体检测的过程中仪器发生移动的现象，一定程度上保障了半导体检测的进度，同时给人们的工作带来了便利，进一步提高了人们的工作效率，从而满足了人们的使用需求，使人们在使用该半导体检测用工作台的过程中更加的省心。
[0004]上述专利固定效果好，在半导体加工检测工作时，需时常将需要检测的元件翻转，现有的检测设备一般不具备翻转调节本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体加工用测试装置，包括底座机构(1)、移动机构(2)、翻转机构(3)和检测机构(4)，其特征在于：所述移动机构(2)位于底座机构(1)上端的左右两侧，所述翻转机构(3)位于移动机构(2)的下方，所述检测机构(4)位于移动机构(2)的前端。2.根据权利要求1所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述移动机构(2)包括固定块(201)、连接盒(202)、滑槽(203)、滑块(204)、移动块(205)、电动推杆(206)和推动电机(207)，所述连接盒(202)固定安装在固定块(201)的上端，所述滑槽(203)固定设置在连接盒(202)上端的内部，所述滑块(204)活动安装在滑槽(203)的内部，所述移动块(205)固定安装在滑块(204)的上端。3.根据权利要求2所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述电动推杆(206)与滑块(204)固定连接，所述推动电机(207)固定安装在电动推杆(206)的后端。4.根据权利要求3所述的一种半导体加工用测试装置，其特征在于：所述底座机构(1)包括检测台(101)、绝缘板(102)、支撑杆(103)、支撑底座(104)、推拉抽屉(105)和把手(106)，所述绝缘板(102)固定安装在检测台(101)的上端，所述支撑杆(103)固定安装在检测台(101)的下端，所述支撑底座(104)固定安装在支撑杆(103)的下端。5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈煜明，何明锋，
申请(专利权)人：上海纪元微科电子有限公司，
类型：新型
国别省市：