【技术实现步骤摘要】
一种降低高压测试机电源功耗电路及方法
[0001]本专利技术涉及一种降低高压测试机电源功耗电路及方法,属于半导体高压测试
技术介绍
[0002]目前市面上常见的分立测试机高压测试电路一般采用如图1所示的线性电路,该电路采用一个独立高压电源V1提供半导体测试所需电压,为使得测试机可兼容不同种类、型号的半导体器件测试,高压直流电源V1的输出电压往往可达到大几百伏乃至上千伏。此种电路在测量高压半导体器件时能达到较高的效率。然市面上多数的半导体器件在测试时一般只需提供几十乃至小几百伏的测试电压条件即可,采用此种电路测试上述半导体器件,电源V1直流输出需经过多个功率管消耗输出的额外电压以满足器件测试所需条件,大量电压负载在功率管上将导致其发热严重,不仅系统整体效率低下,而且存在容易损坏、影响测试等问题。
[0003]以图1为例,假设电源V1输出电压1600V,采用该电路测量某稳压二极管,设置测试条件V=300V(分立测试机低压模块输出一般小于100V),I=10mA(一般高压板最大输出电流)。
[0004]此 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种降低高压测试机电源功耗电路,其特征在于:包括高压电压源单元、电流控制开关单元、控制电路单元,其中:所述高压电压源单元包括n个DC电压源模块、(n
‑
1)个二极管以及(n
‑
1)个电阻,n个DC电压源模块分别记为第1个DC电压源模块V1、第2个DC电压源模块V2、
…
、第n个DC电压源模块V
n
,(n
‑
1)个二极管分别记为第1个二极管D1、第2个二极管D2、
…
、第(n
‑
1)个二极管D
n
‑1,(n
‑
1)个电阻分别记为第1个电阻R1、第2个电阻R2、
…
、第(n
‑
1)个电阻R
n
‑1,第1个DC电压源模块V1、第2个DC电压源模块V2、
…
、第n个DC电压源模块V
n
之间由负极到正极的顺序依次连接;所述电流控制开关单元包括(n
‑
1)个电流控制开关,(n
‑
1)个电流控制开关分别记为第1个电流控制开关K1、第2个电流控制开关K2、
…
、第(n
‑
1)个电流控制开关K
n
‑1;(n
‑
1)个电流控制开关的初始状态为闭合状态;第i个电阻R
i
的一端连接在第i个DC电压源模块V
i
的正极上,第i个电阻R
i
的另一端连接在第i个电流控制开关K
i
的引脚二上,第i个电流控制开关K
i
的引脚一连接在第(i+1)个DC电压源模块V
i+1
的正极上,第i个电流控制开关K
i
的引脚四与第(i+1)个电流控制开关K
i+1
的引脚三连接,第i个电流控制开关K
i
的引脚三连接在第i个二极管D
i
的负极端,i=1,2,
…
,n
‑
2;第(n
‑
1)个电阻R
n
‑1的一端连接在第(n
‑
1)个DC电压源模块V
n
‑1的正极上,第(n
‑
1)个电阻R
n
‑...
【专利技术属性】
技术研发人员:李凌志,包智杰,
申请(专利权)人:南京宏泰半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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