【技术实现步骤摘要】
SOC测试板及电源电路
[0001]本专利技术涉及半导体集成电路领域,尤其涉及一种SOC测试板及电源电路。
技术介绍
[0002]现有的SOC测试板在芯片的工艺、电压、温度(Process、Voltage、Temperature,PVT)测试中需要测试芯片在多种电压和温度下的性能指标,多种条件的组合测试需要大量测试时间和人力,因此对于提供测试效率和准确性的方案就十分有必要。
[0003]但是,现有的SOC测试板的电源电路,存在着供电电压的调节便利性差的问题,影响了测试效率,且存在着准确性较差的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术解决的问题是提供一种电源电路,提高SOC测试时电源调节的便利性,以提高SOC测试的效率和准确性。
[0005]为解决上述问题,本专利技术提供了一种电源电路,包括:
[0006]电源芯片,具有供电电压输出端和反馈电压输入端,适于生成第一供电电压;
[0007]反馈电压生成单元,具有反馈电压输出端,且耦接于所述供电电压输出端与接地端之间,适于基于所述供电电压输出端和所述反馈电压输入端之间与所述反馈电压输入端和所述接地端之间的电阻比值,生成对应的反馈电压,并输出至所述反馈电压输入端;
[0008]反馈电压调整单元,适于通过控制相应的电阻接入或断开,对所述供电电压输出端和所述反馈电压输入端之间与所述反馈电压输入端和所述接地端之间的电阻比值进行调整;
[0009]所述电源芯片,还适于根据所述反馈电压输入端接收的反馈电压对所述第一供电 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电源电路,其特征在于,包括:电源芯片,具有供电电压输出端和反馈电压输入端,适于生成第一供电电压;反馈电压生成单元,具有供电电压输入端、反馈电压输出端和接地端,适于基于所述供电电压输入端和所述反馈电压输出端之间与所述反馈电压输出端和所述接地端之间的电阻比值,生成对应的反馈电压;反馈电压调整单元,适于通过控制相应的电阻接入或断开,对所述供电电压输入端和所述反馈电压输出端之间与所述反馈电压输出端和所述接地端之间的电阻比值进行调整;所述电源芯片,还适于根据所述反馈电压输入端接收的反馈电压对所述第一供电电压进行调整,生成相应的第二供电电压。2.根据权利要求1所述的电源电路,其特征在于,所述反馈电压生成单元包括第一电阻和第二电阻;所述第一电阻的第一端作为所述供电电压输入端或与所述供电电压输入端耦接,所述第一电阻的第二端与所述第二电阻的第二端耦接且作为所述反馈电压输出端或与所述反馈电压输出端耦接,所述第二电阻的第二端作为所述接地端或与所述接地端耦接。3.根据权利要求2所述的电源电路,其特征在于,所述反馈电压调整单元包括以下至少一项:第一调整模块,适于采用第一晶体管控制第三电阻接入所述供电电压输出端与所述反馈电压输入端之间或断开,以对所述供电电压输入端和所述反馈电压输出端之间电阻进行调整;第二调整模块,适于采用第二晶体管控制第四电阻接入所述反馈电压输出端与所述接地端之间或断开,以对与所述反馈电压输出端和所述接地端之间的电阻进行调整;第三调整模块,适于采用第三晶体管控制第五电阻接入所述供电电压输出端与所述反馈电压输入端之间或断开,对所述供电电压输入端与所述反馈电压输出端之间的电阻进行调整。4.根据权利要求3所述的电源电路,其特征在于,所述第一调整模块包括第一控制子模块、第一晶体管和所述第三电阻;所述第一控制子模块,具有控制信号输出端,适于生成第一控制信号;所述第一晶体管的栅端用于接收所述第一控制信号,所述第一晶体管的源端分别与所述第一电阻的第一端和所述第三电阻的第一端耦接,所述第一晶体管的漏端分别与所述第三电阻的第二端和所述供电电压输入端耦接。5.根据权利要求4所述的电源电路,其特征在于,所述第一控制子模块包括第一开关、第六电阻和第七电阻;所述第一开关的第一导通端与所述第六电阻的第一端耦接,所述第一开关的第二导通端与所述第七电阻的第一端耦接且作为所述第一控制子模块的控制信号输出端或与所述第一控制子模块的控制信号输出端耦接,所述第六电阻的第二端用于接收第一电源电压,所述第七电阻的第二端接地。6.根据权利要求3所述的电源电路,其特征在于,所述第二调整模块包括第二控制子模块、所述第二晶体管和所述第四电阻;所述第二控制子模块,具有控制信号输出端,适于生成第二控制信号;
所述第二晶体管的栅端用于接收所述第二控制信号,所述第二晶体管的源端与所述接地端耦接,所述第二晶体管的漏端与所述第四电阻的第一端耦接,所述第四电阻的第二端与所述反馈电压输出端耦接。7.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:张西锋,付俊,彭晶晶,
申请(专利权)人:晶晨半导体上海股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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