【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光元件
[0001]本专利技术涉及半导体光电器件的
,特别是涉及一种具有改善激子极化激元激射的n型包覆层的半导体激光元件。
技术介绍
[0002]激光器广泛应用于显示、通讯、医疗、武器、制导、测距、切割、焊接等领域。激光器的各类很多,分类方式也多样,主要有固体、气体、液体、半导体和染料等类型激光器;与其他类型激光器相比,半导体激光器具有体积小、重量轻、寿命长、结构简单等优点。激光器与氮化物半导体发光二极管存在较大的区别,1)激光是由载流子发生受激辐射产生,光谱半高宽较小,亮度很高,单颗激光器输出功率可在W级,而氮化物半导体发光二极管则是自发辐射,单颗发光二极管的输出功率在mW级;2)激光器的使用电流密度达KA/cm2,比氮化物发光二极管高2个数量级以上,从而引起更强的电子泄漏、更严重的俄歇复合、极化效应更强、电子空穴不匹配更严重,导致更严重的效率衰减Droop效应;3)发光二极管自发跃迁辐射,无外界作用,从高能级跃迁到低能级的非相干光,而激光器为受激跃迁辐射,感应光子能量应等于电子跃迁的能级之差,产生光子与感应光子的全同相干光;4)原理不同:发光二极管为在外界电压作用下,电子空穴跃迁到量子阱或p
‑
n结产生辐射复合发光,而激光器需要激射条件满足才可激射,必须满足有源区载流子反转分布,受激辐射光在谐振腔内来回振荡,在增益介质中的传播使光放大,满足阈值条件使增益大于损耗,并最终输出激光。氮化物半导体激光器存在以下问题:1)内部晶格失配大、应变大引起极化效应强,QCSE量子限制Stark ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光元件,其特征在于,从下至上依次包括衬底、n型包覆层、下波导层,有源层、上波导层、电子阻挡层、p型包覆层和p型半导体,所述n型包覆层具有激子极化激元激射结构和增益波导结构,其中有源层为In
b
Ga1‑
b
N/In
c
Al
d
Ga1‑
c
‑
d
N组成的周期结构,其中阱层为In
b
Ga1‑
b
N,垒层为In
c
Al
d
Ga1‑
c
‑
d
N;n型包覆层至少具有3层Al梯度层Al
e
Ga1‑
e
N/Al
f
In
g
Ga1‑
f
‑
g
N/Al
h
Ga1‑
h
N,所述n型包覆层之间具有Al组分梯度且与有源层的垒层In
c
Al
d
Ga1‑
c
‑
d
N间亦形成Al组分梯度:Al组分e>h>f≥d。2.如权利要求1所述的一种半导体激光元件,其特征在于,所述n型包覆层至少具有3层Al梯度层Al
e
Ga1‑
e
N/Al
f
In
g
Ga1‑
f
‑
g
N/Al
h
Ga1‑
h
N,Al离子强度梯度20≥e/h≥4,200≥e/f≥50,50≥g/f≥10。3.如权利要求2所述的一种半导体激光元件,其特征在于,所述n型包覆层至少具有3层Al梯度层Al
e
Ga1‑
e
N/Al
f
In
g
Ga1‑
f
‑
g
N/Al
h
Ga1‑
h
N,Al离子强度梯度分别为1E20~5E20(a.u.),5E17~5E18(a.u.),1E19~5E19(a.u.)。4.如权利要求3所述的一种半导体激光元件,其特征在于,所述n型包覆层至少具有3层Al梯度层Al
e
Ga1‑
e
N/Al
f
In
g
Ga1‑
f
‑
g
N/Al
h
Ga1‑
h
N,其中Al
f
In
g
Ga1‑
f
‑
g
N层In组分为g,所述上波导层为In
y
Ga1‑
y
N,下波导层为In
z
Ga1‑
z
N,所述n型包覆层中的Al
f
In
g
Ga1‑
f
‑
g
N与有源层的阱层In
b
Ga1‑
b
N、上波导层、下波层形成In组分梯度:b≥g≥z≥y。5.如权利要求3所述的一种半导体激光元件,其特征在于,所述n型包覆层至少具有3层Al梯度层Al
e
Ga1‑
e
N/A...
【专利技术属性】
技术研发人员:阚钦,
申请(专利权)人:安徽格恩半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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