测试用工装与产品测试生产线制造技术

技术编号:34332875 阅读:26 留言:0更新日期:2022-07-31 02:25
本实用新型专利技术涉及老化测试技术领域,本实用新型专利技术提供一种测试用工装与产品测试线,其中测试用工装包括:基座,用于放置待测产品;供电组件,设于所述基座上,用于向所述待测产品供电;以及,测试组件,包括设于所述基座上的性能测试元件、老化测试元件以及切换开关,所述性能测试元件用于测试待测产品的性能,所述老化测试元件用于对待测产品进行老化测试,所述切换开关与所述性能测试元件以及所述老化测试元件均电连接,所述切换开关用于在与待测产品电连接时切换待测产品的测试项目。本实用新型专利技术提供的测试用工装,旨在解决传统技术中产品老化测试设备操作复杂、且测试效率较低的问题。且测试效率较低的问题。且测试效率较低的问题。

Testing tooling and product testing production line

【技术实现步骤摘要】
测试用工装与产品测试生产线


[0001]本技术涉及老化测试
,尤其涉及一种测试用工装与产品测试生产线。

技术介绍

[0002]产品老化寿命实验是产品可靠性测试中非常重要的一个环节,一般常见的老化寿命实验项目包括老化测试,通常老化测试都包括模拟芯片在高温或高压环境下工作的状态,加速其老化过程,迫使故障在更短的时间内出现,然后测试芯片的故障率得到产品可靠性信息,然而传统技术中的老化测试生产线以及老化测试设备的测试效率以及测试安全性都较低,不利于老化测试的进行。

技术实现思路

[0003]本技术提供一种测试用工装与产品测试生产线,用以解决传统技术中产品老化测试设备操作复杂、且测试效率较低的问题。
[0004]针对现有技术存在的问题,本技术实施例提供一种测试用工装,包括:
[0005]基座,用于放置待测产品;
[0006]供电组件,设于所述基座上,用于向所述待测产品供电;以及,
[0007]测试组件,包括设于所述基座上的性能测试元件、老化测试元件以及切换开关,所述性能测试元件用于测试待测产品的性能,所述老化测试元件用于对待测产品进行老化测试,所述切换开关与所述性能测试元件以及所述老化测试元件均电连接,所述切换开关用于在与待测产品电连接时切换待测产品的测试项目。
[0008]根据本技术提供的一种测试用工装,所述切换开关具有多个微动开关,各所述微动开关均包括第一触点、第二触点以及第三触点,所述第一触点用于与待测产品电连接,所述第二触点用于与老化测试元件电连接,所述第三触点用于与性能测试元件电连接。
[0009]根据本技术提供的一种测试用工装,各所述微动开关包括原始状态与工作状态,在所述原始状态,所述第一触点与所述第二触点导通,在所述工作状态,所述第一触点与所述第三触点导通。
[0010]根据本技术提供的一种测试用工装,所述切换开关还包括USB插头线,所述USB插头线用于插接于待测产品的USB插孔,以使所述切换开关与待测产品电连接。
[0011]根据本技术提供的一种测试用工装,所述老化测试元件包括设于所述基座上的老化负载模块、信号转换器以及信号片,所述信号片与所述信号转换器电连接,所述信号转换器与所述老化负载模块电连接,所述老化负载模块与所述切换开关电连接。
[0012]根据本技术提供的一种测试用工装,所述信号片包括两个,两个所述信号片均与所述信号转换器电连接,一个所述信号片上形成信号输入端,另一个所述信号片上形成有信号输出端。
[0013]根据本技术提供的一种测试用工装,所述性能测试元件包括设于所述基座上
的性能测试器,所述性能测试器与所述切换开关电连接,所述性能测试器上具有多个性能测试触点。
[0014]根据本技术提供的一种测试用工装,所述供电组件包括设于所述基座上的导电插座以及导电片,所述导电插座与所述导电片电连接,所述导电插座用于与待测产品通过插头电连接,所述导电片用于与供电源连接。
[0015]根据本技术提供的一种测试用工装,所述基座上开设有定位槽,所述定位槽的形状与待测产品的形状相适配,用于固定待测产品。
[0016]本技术还提供了一种产品测试生产线,包括如上任一项所述的测试用工装。
[0017]本技术提供的测试用工装包括性能测试元件、老化测试元件以及切换开关,所述性能测试元件用于测试待测产品的性能,所述老化测试元件用于对待测产品进行老化测试,所述切换开关用于在与待测产品电连接时切换待测产品的测试项目,通过切换开关的设置,能够方便进行产品的老化测试与性能测试的切换,提高产品测试的效率以及安全性。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是本技术提供的测试用工装的俯视图结构示意图。
[0020]附图标记:
[0021]100:测试用工装;
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101:基座;
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102:供电组件;
[0022]103:测试组件;
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104:定位槽;
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105:导电插座;
[0023]106:导电片;
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107:性能测试元件;
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1071:性能测试器;
[0024]108:老化测试元件;
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1081:老化负载模块; 1082:信号转换器;
[0025]1083:信号片;
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109:切换开关。
具体实施方式
[0026]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本技术中的附图,对本技术中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0027]在本技术实施例的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术实施例和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术实施例的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0028]在本技术实施例的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本技术实施例中的具体含义。
[0029]在本技术实施例中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0030]在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试用工装,其特征在于,包括:基座,用于放置待测产品;供电组件,设于所述基座上,用于向所述待测产品供电;以及,测试组件,包括设于所述基座上的性能测试元件、老化测试元件以及切换开关,所述性能测试元件用于测试待测产品的性能,所述老化测试元件用于对待测产品进行老化测试,所述切换开关与所述性能测试元件以及所述老化测试元件均电连接,所述切换开关用于在与待测产品电连接时切换待测产品的测试项目。2.根据权利要求1所述的测试用工装,其特征在于,所述切换开关具有多个微动开关,各所述微动开关均包括第一触点、第二触点以及第三触点,所述第一触点用于与待测产品电连接,所述第二触点用于与老化测试元件电连接,所述第三触点用于与性能测试元件电连接。3.根据权利要求2所述的测试用工装,其特征在于,各所述微动开关包括原始状态与工作状态,在所述原始状态,所述第一触点与所述第二触点导通,在所述工作状态,所述第一触点与所述第三触点导通。4.根据权利要求3所述的测试用工装,其特征在于,所述切换开关还包括USB插头线,所述USB插头线用于插接于待测产品的USB插孔,以使所述切换开关与待测产品电连接。5.根据权利要求2所述的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员:林海峰
申请(专利权)人:天津突破电气技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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