一种平板式半导体器件热阻测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种平板式半导体器件热阻测试装置，涉及半导体器件技术领域，包括底板，所述底板顶端的一侧安装有测试模块，且测试模块的顶端设置有输入控制面板，所述底板的顶端开设有两个通槽，且底板内部靠近输入控制面板的一侧安装有两个伸缩液压缸，所述伸缩液压缸的一端连接有活动板，且活动板的顶端连接有固定块。本实用新型专利技术通过转动杆和限位孔的螺纹连接关系，使得转动杆在转动过程中可以带动连接板整体进行水平移动，通过两个连接板的移动便可以调节两个防护板之间的间距，以此可以对不同尺寸的半导体器件进行固定，提高本装置的测试效率和测试质量。置的测试效率和测试质量。置的测试效率和测试质量。

A flat panel thermal resistance testing device for semiconductor devices

【技术实现步骤摘要】
一种平板式半导体器件热阻测试装置


[0001]本技术涉及半导体器件
，具体为一种平板式半导体器件热阻测试装置。

技术介绍

[0002]随着半导体技术的发展，越来越多的半导体器件逐渐出现，为了保证半导体器件的稳定工作，需要对半导体器件进行热阻测试，但是传统的半导体器件热阻测试装置在使用过程中，由于半导体器件的形状不一，缺少相应的固定调节结构，从而影响装置的测试效率和数据。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种平板式半导体器件热阻测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的缺少对半导体器件调节固定的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种平板式半导体器件热阻测试装置，包括底板，所述底板顶端的一侧安装有测试模块，且测试模块的顶端设置有输入控制面板，所述底板的顶端开设有两个通槽，且底板内部靠近输入控制面板的一侧安装有两个伸缩液压缸，所述伸缩液压缸的一端连接有活动板，且活动板的顶端连接有固定块，所述底板的顶端设置有安装板，且安装板内部底端的中间位置处开设有凹槽，所述凹槽的内部设置有加热板，所述安装板内部的两端设置有固定结构；
[0005]所述固定结构还包括限位孔，所述限位孔开设在安装板两端的中间位置处，且安装板的两端均设置有转动杆，所述转动杆的一端连接有转动把手，且转动杆的另一端贯穿限位孔内部一端并通过轴承连接有连接板，所述连接板的一端的安装有防护板。
[0006]优选的，所述安装板的顶端设置有冷却结构，所述冷却结构还包括顶板，所述顶板安装在安装板的顶端，且顶板的顶端开设有多个安装槽，所述安装槽的内部设置有微型风机。
[0007]优选的，所述安装槽的数量为九个，且九个安装槽等间距开设在顶板的顶端。
[0008]优选的，所述连接板的底端和安装板内部底端相接近，且连接板和防护板的形状大小相同。
[0009]优选的，所述转动杆的外侧设置有外螺纹，且限位孔的内壁开设有与转动杆外侧相匹配内螺纹。
[0010]优选的，所述防护板设置在连接板靠近加热板的一端，且两个防护板关于加热板竖向中心轴对称。
[0011]优选的，所述固定块的数量为两个，且两个固定块的顶端贯穿通槽内部顶端并与安装板相连接。
[0012]优选的，所述安装板的形状为C型，且安装板的底端和底板顶端滑动连接。
[0013]与相关技术相比较，本技术提供的一种平板式半导体器件热阻测试装置具有
如下有益效果：
[0014]本技术提供有，通过转动转动把手，在转动把手的转动下便可以带动转动杆进行转动，由于转动杆和限位孔的螺纹连接关系，并且在连接板的限制下，使得转动杆在转动过程中可以带动连接板整体进行水平移动，通过两个连接板的移动便可以调节两个防护板之间的间距，以此可以对不同尺寸的半导体器件进行固定，便于本装置的热阻测试的稳定进行，并且通过设置利用防护板和半导体器件进行接触，可以对半导体器件起到防护作用，防止挤压力过大导致半导体器件的损伤，通过此便可以稳定的对半导体器件进行固定安装，提高本装置的测试效率和测试质量。
附图说明
[0015]图1为本技术的俯视剖面结构示意图；
[0016]图2为本技术的正视剖面结构示意图；
[0017]图3为本技术的侧视剖面结构示意图；
[0018]图4为本技术的俯视结构示意图。
[0019]图中：1、限位孔；2、转动杆；3、连接板；4、底板；5、通槽；6、加热板；7、安装板；8、转动把手；9、防护板；10、输入控制面板；11、测试模块；12、凹槽；13、顶板；14、安装槽；15、微型风机；16、活动板；17、固定块；18、伸缩液压缸。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]实施例1：请参阅图1
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4，一种平板式半导体器件热阻测试装置，包括底板4，底板4顶端的一侧安装有测试模块11，且测试模块11的顶端设置有输入控制面板10，底板4的顶端开设有两个通槽5，且底板4内部靠近输入控制面板10的一侧安装有两个伸缩液压缸18，伸缩液压缸18的一端连接有活动板16，且活动板16的顶端连接有固定块17，底板4的顶端设置有安装板7，且安装板7内部底端的中间位置处开设有凹槽12，凹槽12的内部设置有加热板6，安装板7内部的两端设置有固定结构；
[0022]固定块17的数量为两个，且两个固定块17的顶端贯穿通槽5内部顶端并与安装板7相连接；
[0023]安装板7的形状为C型，且安装板7的底端和底板4顶端滑动连接；
[0024]请参阅图1
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4，一种平板式半导体器件热阻测试装置还包括固定结构，固定结构还包括限位孔1，限位孔1开设在安装板7两端的中间位置处，且安装板7的两端均设置有转动杆2，转动杆2的一端连接有转动把手8，且转动杆2的另一端贯穿限位孔1内部一端并通过轴承连接有连接板3，连接板3的一端的安装有防护板9；
[0025]连接板3的底端和安装板7内部底端相接近，且连接板3和防护板9的形状大小相同；
[0026]转动杆2的外侧设置有外螺纹，且限位孔1的内壁开设有与转动杆2外侧相匹配内
螺纹；
[0027]防护板9设置在连接板3靠近加热板6的一端，且两个防护板9关于加热板6竖向中心轴对称；
[0028]具体地，如图1、图2、图3和图4所示，为了使得本装置便于对半导体器件进行固定，使用者可以通过转动转动把手8，在转动把手8的转动下便可以带动转动杆2进行转动，由于转动杆2和限位孔1的螺纹连接关系，并且在连接板3的限制下，使得转动杆2在转动过程中可以带动连接板3整体进行水平移动，通过两个连接板3的移动便可以调节两个防护板9之间的间距，以此可以对不同尺寸的半导体器件进行固定，便于本装置的热阻测试的稳定进行。
[0029]实施例2：安装板7的顶端设置有冷却结构，冷却结构还包括顶板13，顶板13安装在安装板7的顶端，且顶板13的顶端开设有多个安装槽14，安装槽14的内部设置有微型风机15；
[0030]安装槽14的数量为九个，且九个安装槽14等间距开设在顶板13的顶端；
[0031]具体地，如图1和图2所示，在本装置通过伸缩液压缸18的伸缩带动安装板7整体进行移动，从而可以将固定后的半导体器件通过测试模块11进行测试，通过设置有微型风机15的存在，可以在本装置测试结束后能够快速的对半导体器件进行降温，便于使用者取出，加快本装置的测试效率，并且还可以防止因加热板6温度过高导致半导体器件失控升温，对半导体器件起到一定的控温效果。
[0032]需要说明的是，在本文中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平板式半导体器件热阻测试装置，包括底板(4)，其特征在于：所述底板(4)顶端的一侧安装有测试模块(11)，且测试模块(11)的顶端设置有输入控制面板(10)，所述底板(4)的顶端开设有两个通槽(5)，且底板(4)内部靠近输入控制面板(10)的一侧安装有两个伸缩液压缸(18)，所述伸缩液压缸(18)的一端连接有活动板(16)，且活动板(16)的顶端连接有固定块(17)，所述底板(4)的顶端设置有安装板(7)，且安装板(7)内部底端的中间位置处开设有凹槽(12)，所述凹槽(12)的内部设置有加热板(6)，所述安装板(7)内部的两端设置有固定结构；所述固定结构还包括限位孔(1)，所述限位孔(1)开设在安装板(7)两端的中间位置处，且安装板(7)的两端均设置有转动杆(2)，所述转动杆(2)的一端连接有转动把手(8)，且转动杆(2)的另一端贯穿限位孔(1)内部一端并通过轴承连接有连接板(3)，所述连接板(3)的一端的安装有防护板(9)。2.根据权利要求1所述的一种平板式半导体器件热阻测试装置，其特征在于：所述安装板(7)的顶端设置有冷却结构，所述冷却结构还包括顶板(13)，所述顶板(13)安装在安装板(7)的顶端，且顶板(13)的顶端开设有多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵红武，崔志刚，范磊，
申请(专利权)人：武汉芯致半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：