一种ICT自检系统技术方案

本发明专利技术公开了一种ICT自检系统，包括：电源模块、数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块、显示屏检测模块、复位模块，电源模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块、显示屏检测模块和复位模块，复位模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块和显示屏检测模块，本发明专利技术可以优化ICT测试板内部的自检电路，去掉了不用的功能，优化了硬件成本，同时可以降低维修难度，方便快速定位问题点，节约人工成本；降低了出货或者维修人员的能力要求，可以快速高效的实现量产。的实现量产。的实现量产。

An ICT self checking system

【技术实现步骤摘要】
一种ICT自检系统


[0001]本专利技术涉及通信
，具体是一种ICT自检系统。

技术介绍

[0002]信息与通信技术(ICT，information and communications technology)是一个涵盖性术语，覆盖了所有通信设备或应用软件以及与之相关的各种服务和应用软件，例如视频会议和远程教学。
[0003]ICT系统的自检一般是设计在ICT系统里面，而且现有的自检也是半闭环方式，不能实现ICT系统的100％自检。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种ICT自检系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0006]一种ICT自检系统，包括：
[0007]电源模块，用于给待测ICT板供电以及自身的供电；
[0008]数字IO电路检测模块，用于利用待测ICT模块的输入和输出作为一个环路，检测输入输出的功能，判断通路导通情况；
[0009]电容检测模块，用于检测待测ICT电容测试值是否符合精度要求；
[0010]电阻检测模块，用于检测待测ICT板的矩阵切换已经电阻测试功能；
[0011]显示屏检测模块，用于检测待测ICT板的显示接口功能；
[0012]复位模块，用于复位ICT检测板的功能模块；
[0013]电源模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块、显示屏检测模块和复位模块，复位模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块和显示屏检测模块。
[0014]作为本专利技术的进一步技术方案：所述电源模块包括芯片U1、二极管D1、而IGD2、二极管D3、电容C1和电感L1，芯片U1的脚1连接电容C1、二极管D2的阴极和保险丝F1，保险丝F1的另一端连接24V电压，芯片U1的脚2连接电感L1和二极管D3的阴极，电感L1的另一端连接二极管D1的阳极和芯片U1的脚4，二极管D1的阴极连接电容C2，电容C1的另一端接地，电容C2的另一端接地，二极管D2的阳极接地，二极管D3的阳极接地。
[0015]作为本专利技术的进一步技术方案：所述数字IO电路检测模块由多组结构相同的检测电路组成，每个检测电路均包括串联而成的继电器、电阻和发光二极管。
[0016]作为本专利技术的进一步技术方案：所述电容检测模块包含三路检测电路，每个检测电路均包括串联而成的继电器、电阻和发光二极管，每个继电器的触点上连接有待检测电容，检测电容分别为0.1uF/1.0uF/10.0uF电容。
[0017]作为本专利技术的进一步技术方案：所述电阻检测模块包括串联组成的待检测电阻，待检测电阻包括0/10/22/50/100/220/510/1K/2.2K/3.3K/4.7K/5.1K/9.1K/10K/20K/33K/
47K/91K/100K/120K/200K/510K/1M电阻。
[0018]作为本专利技术的进一步技术方案：所述电源模块是由24V转换为24V/5V的双电源。
[0019]作为本专利技术的进一步技术方案：所述芯片U1的型号为LM2576。
[0020]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术可以优化ICT测试板内部的自检电路，去掉了不用的功能，优化了硬件成本，同时可以降低维修难度，方便快速定位问题点，节约人工成本；降低了出货或者维修人员的能力要求，可以快速高效的实现量产。
附图说明
[0021]图1为本专利技术的方框图。
[0022]图2为电源供电模块电路图。
[0023]图3为数字IO电路检测模块电路图。
[0024]图4为电容检测模块电路图。
[0025]图5为电阻检测模电路图。
[0026]图6为显示屏接口检测模块电路图。
具体实施方式
[0027]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0028]实施例1：请参阅图1
‑
图6，一种ICT自检系统，包括：
[0029]电源模块，用于给待测ICT板供电以及自身的供电；
[0030]数字IO电路检测模块，用于利用待测ICT模块的输入和输出作为一个环路，检测输入输出的功能，判断通路导通情况；
[0031]电容检测模块，用于检测待测ICT电容测试值是否符合精度要求；
[0032]电阻检测模块，用于检测待测ICT板的矩阵切换已经电阻测试功能；
[0033]显示屏检测模块，用于检测待测ICT板的显示接口功能；
[0034]复位模块，用于复位ICT检测板的功能模块；
[0035]电源模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块、显示屏检测模块和复位模块，复位模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块和显示屏检测模块。
[0036]其中，电源供电模块如图2所示，包括芯片U1、二极管D1、而IGD2、二极管D3、电容C1和电感L1，芯片U1的脚1连接电容C1、二极管D2的阴极和保险丝F1，保险丝F1的另一端连接24V电压，芯片U1的脚2连接电感L1和二极管D3的阴极，电感L1的另一端连接二极管D1的阳极和芯片U1的脚4，二极管D1的阴极连接电容C2，电容C1的另一端接地，电容C2的另一端接地，二极管D2的阳极接地，二极管D3的阳极接地，芯片U1的型号为LM2576。
[0037]数字IO电路检测模块如图3所示，由多组结构相同的检测电路组成，每个检测电路均包括串联而成的继电器、电阻和发光二极管。
[0038]电容检测模块如图4所示，包含三路检测电路，每个检测电路均包括串联而成的继
电器、电阻和发光二极管，每个继电器的触点上连接有待检测电容，检测电容分别为0.1uF/1.0uF/10.0uF电容。
[0039]电阻检测模块如图5所示，包括串联组成的待检测电阻，待检测电阻包括0/10/22/50/100/220/510/1K/2.2K/3.3K/4.7K/5.1K/9.1K/10K/20K/33K/47K/91K/100K/120K/200K/510K/1M电阻。
[0040]工作原理如下：ICT通过发送指令给每一个输出口动作，经过ICT自检板后联通到ICT板的输入里面，ICT板可以通过是否有输入可以判断输出和输入是否正常；电容测试原理，ICT自检板上有三个标准电容，通过切换给到ICT板的电容测试口上，ICT板可以检测到对应电容的测试值，通过对比标准值来判断ICT板电容测试是否正常；电阻测试原理，ICT自检板上有多个标准电阻，ICT板通过矩阵接入到ICT板的电阻测试接口，通过矩阵切换不同通路，可以检测到不同的阻值，ICT板通过这个电路可以检测自身的矩本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ICT自检系统，其特征在于，包括：电源模块，用于给待测ICT板供电以及自身的供电；数字IO电路检测模块，用于利用待测ICT模块的输入和输出作为一个环路，检测输入输出的功能，判断通路导通情况；电容检测模块，用于检测待测ICT电容测试值是否符合精度要求；电阻检测模块，用于检测待测ICT板的矩阵切换已经电阻测试功能；显示屏检测模块，用于检测待测ICT板的显示接口功能；复位模块，用于复位ICT检测板的功能模块；电源模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块、显示屏检测模块和复位模块，复位模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块和显示屏检测模块。2.根据权利要求1所述的一种ICT自检系统，其特征在于，所述电源模块包括芯片U1、二极管D1、而IGD2、二极管D3、电容C1和电感L1，芯片U1的脚1连接电容C1、二极管D2的阴极和保险丝F1，保险丝F1的另一端连接24V电压，芯片U1的脚2连接电感L1和二极管D3的阴极，电感L1的另一端连接二极管D1的阳极和芯片U1的脚4，二极管D1的阴极连接电容C2，电容C1的另一端接地，电容...

【专利技术属性】
技术研发人员：尚俊凯，何国强，颜建国，肖春鹏，依楠，杨明剑，
申请(专利权)人：湖南赫莫尼科技有限公司，
类型：发明
国别省市：