能减少失真和噪声及增加绝缘度的开关电容结构制造技术

技术编号:3422867 阅读:124 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种开关电容级,所述开关电容级包括一个缓冲晶体管和一个采样电容,串连在第一个和第二个采样开关之间,这两个开关在运行的采样模式中闭合,并包括第一个和第二个转移开关在运行的转换模式中闭合,并分别连接到所述缓冲晶体管的控制端和电流端;所述改进包括: 第二个缓冲晶体管,含有一个控制端,接收输入信号;和一个电流端,连接到所述第一个采样开关,以将所述输入信号传递给所述第一个采样开关。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:S·G·巴兹利R·K·库马拉贡特勒
申请(专利权)人:模拟设备股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1