游程长度受限码产生方法、记录/再现装置及方法制造方法及图纸

一种游程长度受限码产生方法，其特征在于包括：　　　　产生（ＳＴ１３，ＳＴ２３）多个不同代码序列，其具有逐步变高的记录密度，作为要被记录在一个信息存储介质的测试数据区域上的多个连续子区中的多个不同代码序列。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及游程长度受限码产生方法，用于产生调节再现电路的代码，该再现电路从一个信息存储介质再现数字数据。本专利技术还涉及一种游程长度受限码记录/再现装置，其产生用于调节一个再现电路的代码，该再现电路从一个信息存储介质再现数字数据，并且对一个信息存储介质记录/再现该代码。另外，本专利技术涉及一种游程长度受限码记录/再现方法，用于产生调节从一个信息存储介质再现的数字数据的再现电路的代码，并且在一个信息存储介质上记录/再现该代码。
技术介绍
作为可以存储介质数字数据的记录介质，以DVD为代表的光盘是已知的。DVD-RAM(一种DVD)包括信息记录层。当该记录层被适当能量的激光束所照射时，其结晶状态改变。通过利用这样的特性，即，在结晶状态中的改变，数字数据可以被记录在记录层上。当用适当能量的激光照射该记录层时，以获得对应于记录层的结晶状态的反射光量。通过检测该反射光，可以再现记录在记录层上的数字数据。在最近几年，PRML(部分响应和最大近似度)技术被用于提高记录密度。例如日本专利申请公告9-17130等等公开PRML技术的
技术实现思路
。该技术的
技术实现思路
将在下文简单描述，以便于理解。部分响应(PR)是当通过正面地利用符号间干扰时再现数据的一种方法(再现信号之间的干扰对应于在相邻位置记录的数位)。根据在此时产生的符号间干扰，PR可以被进一步分类为多个不同的类。例如，在种类1的情况中，所记录数据“1”被再现为2位再现数据“11”，并且对后续的1个数位产生符号间干扰。维特比解码方法(ML)是一种所谓的最大值近似度序列估计方法，并且通过有效地使用一个再现电路波形的符号间干扰规则，根据信号幅度的信息多次再现数据。对于该处理，与从一个记录介质获得的再现波形同步的同步时钟被产生，并且该再现波形本身使用要被转换为幅度信息的时钟来采样。在此之后，该幅度信息受到适当的波形均衡，以转换为预定的PR响应波形，并且维特比解码器使用旧的和当前的采样数据输出最大近似数据序列作为再现数据。上述PR方法和维特比解码方法(最大近似度解码)的组合被称为PRML方法。为了把PRML技术投入使用，需要获得再现信号作为一个目标PR类的响应的高精度自适应均衡技术以及支持前一种技术的高精度时钟再现技术。下面将说明在PRML技术中所使用的游程长度受限码。PRML再现电路从一个记录介质再现的信号本身产生与该信号相同步地时钟。为了产生稳定的时钟，所记录信号的极性在预定时间周期内被翻转。与此同时，必须防止该记录信号的极性在预定时间周期中翻转，以减小所记录信号的最大频率。所记录信号的极性不翻转的最大数据长度被称为最大游程长度，并且极性不翻转的最小数据长度被称为最小游程长度。具有8位最大游程长度和2位最小游程长度的调制规则被称为(1，7)RLL，并且具有8位最大游程长度和3位最小游程长度的调制规则被称为(2，7)RLL。也就说，相同代码的最小化游程长度为(d+1)并且相同代码的最大游程长度为(k+1)的游程长度受限码序列被称为(d，k)游程长度受限码序列。作为一种典型的用于光盘中的调制/解调方法，已知有(1，7)RLL加EFM的方法(US 5,696,505)。通常，在一个光盘上记录数据之后，数据被记录/再现于一个专用记录校正区域，以调节记录激光功率和记录脉冲形状。即使当一同进行数据再现时，与数据记录相同，测试数据被暂时记录在一个专用区域，以确定在此时可与记录介质相匹配的再现电路的均衡特性，并且通过自适应地学习并且再现所记录信号，获得最佳的均衡特性。作为在这种情况中所用的测试数据(测试写入)模式，在日本专利申请公告2002-15479中公开的一种技术是已知的。利用该测试模式，2T、2T、4T的游程，即，模式的游程被记录在测试数据区域。通过再现该信号，记录功率被调节，并且同时调节用于维特比解码的比较电平。按照这种方式，记录功率和维特比解码器可以被适当地调节。在根据(1，7)RLL进行调制之后，所记录标记长度落在2T至8T的范围内。但是，由于在上述日本专利公告2002-15479从公开的测试数据模式使用2T、2T、4T的测试模式，具有短记录标志长度(许多高频成分)的模式比率较高。在一个再现信号中所包含的高频成分随着记录密度的提高而被相当大地衰减。因此，当波形均衡器的自适应学习不足时，难以获得稳定、高精度的再现时钟。相应地，由于时钟不稳定，因此自适应学习不能够良好工作。如果最佳波形均衡条件已知，则不存在问题。但是，在交换记录介质的光盘中，必须从非最佳均衡条件开始自适应学习。
技术实现思路
本专利技术的一个实施例可以提供一种游程长度受限码产生方法，其可以产生适用于获得最佳均衡性能的游程长度受限码。本专利技术的另一个目的是提供一种游程长度受限码记录/再现装置和游程长度受限码记录/再现方法，其产生和记录适用于获得最佳均衡特性的游程长度受限码。根据本专利技术的游程长度受限码产生方法包括产生多个不同代码序列，其具有逐步变高的记录密度，作为要被记录在一个信息存储介质的测试数据区域上的多个连续子区中的多个不同代码序列。根据本专利技术一个实施例的游程长度受限码记录/再现装置包括产生单元，用于产生具有逐步变高的记录密度的多个不同代码序列；以及记录单元，用于在一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上记录由该产生单元所产生的多个不同代码序列。根据本专利技术一个实施例的游程长度受限码记录/再现方法，包括产生多个不同代码序列，其具有逐步变高的记录密度；以及把多个所产生的不同代码序列记录在一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上。本专利技术的其他实施例和优点将在下文的描述中给出，并且从该描述中部分地变为显而易见，或者可以通过对本专利技术的实践而获得。本专利技术的实施例和优点可以通过在下文特别指出的装置和组合来实现和获得。附图说明被包含并且构成说明书的一部分的附图说明本专利技术的优选实施例，并且与在上文给出的一般描述和下文给出的对优选实施例的详细描述一同用于说明本专利技术的原理。图1为示出在一个信息存储介质上的测试数据扇区的格式和测试模式的第一例子的示意图；图2为示出根据本专利技术一个实施例的记录/再现装置的结构的示意方框图；图3为示出自适应均衡器和自适应学习电路的结构的示意方框图；图4为示出通过(1，7)RLL规则调制随机数据而获得的各个游程长度的调制数据的出现频率的曲线图；图5为示出在一个信息存储介质上的测试数据扇区的格式和一种测试模式的第二例子的示意图；图6为示出当使用与图1或5所示不同的一个任意测试模式进行自适应均衡时该自适应均衡器的各个系数的学习处理的曲线图；图7为示出当使用图1或5中所示的测试模式进行自适应均衡时该自适应均衡器的各个系数的学习处理的曲线图；图8为示出图1中所示的测试模式的记录处理的流程图；图9为示出图5中所示的测试模式的记录处理的流程图；以及图10为根据通过图8或9中所示的记录处理所记录的测试模式的再现结果，用于调节一个再现电路的调节处理的流程图。具体实施例方式下面参照附图描述本专利技术的实施例。图1示出在一个信息存储介质上的测试数据扇区的示意格式。图1表示通过改变游程长度限制而产生的测试模式。也就是说，图1示出根据逐步减小相同代码的最小游程长度的多个不同的游程长度限制所产生的多个不同代码序列。换句话说，图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：山川秀之，小川昭人，柏原裕，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：