【技术实现步骤摘要】
一种降低Grinding过程Dimple率的自净化方法
[0001]本专利技术涉及半导体制造
,具体为一种降低Grinding过程Dimple率的自净化方法。
技术介绍
[0002]随着IC工业的飞速发展,芯片尺寸不断加大,集成电路设计线宽不断减小,对硅材料晶体内部及硅片表面的质量要求也越来越高,随着器件特征尺寸的减小,对硅材料表面的要求越来越苛刻,表面好坏,直接影响到器件的加工质量和成品率,在光刻工艺中,对于0.18微米以下线宽的器件,可以发现在光刻后,CD的变化趋势与硅片表面纳米形貌的变化是一致的,这就很好的说明,纳米形貌对光刻质量有着很直接的影响,在米粒大的硅片上,已能集成16万个晶体管,这是科学技术进步的又一个里程碑,地壳中含量达25.8%的硅元素,为单晶硅的生产提供了取之不尽的源泉。由于硅元素是地壳中储量最丰富的元素之一,对太阳能电池这样注定要进入大规模市场(massmarket)的产品而言,储量的优势也是硅成为光伏主要材料的原因之一。
[0003]其中现有的硅片制造Grinding会发生Dimple ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种降低Grinding过程Dimple率的自净化方法,其特征在于:其自净化方法包括以下步骤:S1、首先准备好需要进行加工的硅片材料备用,并且通过Table释放真空产生吸力,将需要加工的硅片吸附到其表面上,并且通过采用磨轮从上面进行实时研磨净化硅片。S2、然后在研磨净化的过程中,可根据实际研磨净化的需要,通过人员对Table转速进行实时调节,使得Table的转速调整降至最低,进而有效的降低离心力的影响,避免因为边缘无陶瓷孔,边缘杂质不容易被排除且边缘Dimple问题对后道影响更大,导致后道更难修复。S3、最后将Table的外圈气量进行实时调大、将Table的水量进行实时调...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘姣龙,蒋文斌,李苏峰,邓欢,武卫,刘建伟,
申请(专利权)人:中环领先半导体材料有限公司,
类型:发明
国别省市:
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