一种检测机构、系统以及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种检测机构、系统以及方法，其中，检测机构包括：底座；固定部，固定部设置于底座上，包括第一固定部与第二固定部，第一固定部用于将玻璃盘垂直固定在底座上，第二固定部用于将检测波发射盘垂直固定在底座上；检测波组件，检测波组件包括检测波发射盘，检测波发射盘上均匀且间隔设置有多个检测波检测孔，其中，第一固定部与第二固定部对应设置，以使检测波发射盘与玻璃盘相对设置。通过上述机构，本发明专利技术能够准确地检测出玻璃盘上多处底片的平整度，减少底片出现拒曝或曝虚等现象，从而提高封装基板的可靠性。从而提高封装基板的可靠性。从而提高封装基板的可靠性。

A detection mechanism, system and method

【技术实现步骤摘要】
一种检测机构、系统以及方法


[0001]本专利技术涉及封装基板的
，特别是涉及一种检测机构、系统以及方法。

技术介绍

[0002]封装基板是一种用于芯片保护及提供芯片与外部电路连通接口所用的电路板。封装基板的底片曝光机生产板件之前，需要将底片安装在玻璃盘上。而底片是一种用于将设计图形从软件系统的资料设计库中转移到板件上的胶片。生成底片后，需要将底片贴覆在玻璃盘上，以支撑并平整底片来实现底片的图形转移。
[0003]而底片和玻璃盘在实际生产中，常常容易出现底片的局部未与玻璃盘完整贴附平整的现象，使得底片在后续曝光过程中经常出现拒曝、曝虚等不良现象，导致封装基板的生产需要重新安装底片。浪费产能且易造成首件返工或报废。
[0004]目前行业内针对底片和玻璃盘的未贴附平整的现象暂无有效的检测方法进行平整度检测，因此，亟需一种能够全面地检测底片和玻璃盘的平整度的技术方案来减少底片出现拒曝和/或曝虚等不良现象。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种检测机构、系统以及方法，以解决现有技术中存在的难以全面地检测底片和玻璃盘的平整度的问题。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种检测机构，用于检测底片和玻璃盘之间的平整度，底片贴覆于玻璃盘上，包括：底座；固定部，固定部设置于底座上，包括第一固定部与第二固定部，第一固定部用于将玻璃盘垂直固定在底座上，第二固定部用于将检测波发射盘垂直固定在底座上；检测波组件，检测波组件包括检测波发射盘，检测波发射盘上均匀且间隔设置有多个检测波检测孔，其中，第一固定部与第二固定部对应设置，以使检测波发射盘与玻璃盘相对设置。
[0007]其中，当玻璃盘通过第一固定部垂直固定在底座上时，玻璃盘与检测波发射盘平行且间隔设置；其中，玻璃盘与检测波发射盘之间的距离固定。
[0008]其中，玻璃盘与检测波发射盘的中心连线与底座平面相平行。
[0009]其中，各检测波检测孔之间的距离范围为3
‑
10厘米，检测波检测孔的数量范围在24
‑
48内；各检测波检测孔用于向玻璃盘发射多束互相平行的检测波，多束检测波经玻璃盘垂直反射后，返回多个检测波检测孔内。
[0010]其中，每一检测波检测孔中设置有检测波发射器与检测波接收器，检测波发射器用于向玻璃盘发射检测波，检测波接收器用于接收经玻璃盘反射的检测波。
[0011]其中，检测波组件还包括：报警灯、蜂鸣器以及控制开关；控制开关与检测波发射盘耦接，用于控制检测波发射盘的开关；报警灯与蜂鸣器分别与检测波发射盘通讯连接，用于反馈检测机构的检测结果。
[0012]其中，第一固定部为至少两个凹槽，至少两个凹槽设置于同一条直线上，用于垂直
固定玻璃盘的底部，并使玻璃盘与检测波发射盘相对且平行设置；当玻璃盘的底部插设于凹槽内部时，凹槽内壁以及凹槽底部与玻璃盘贴合设置。
[0013]为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种检测系统，包括：检测波组件、处理器以及报警组件；检测波组件包括检测波发射盘，检测波发射盘用于获取玻璃盘上贴覆的底片与检测波发射盘之间的多组距离数据，并将多组距离数据发送至处理器；处理器，与检测波组件耦接，用于接收多组距离数据，并将多组距离数据分别与预设距离进行作差以获得多组差值数据；再将多组差值数据与预设差值进行对比以获得检测结果；报警组件，与处理器耦接，用于根据检测结果进行报警。
[0014]其中，检测波发射盘上均匀且间隔设置有多个检测波检测孔。
[0015]为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种检测方法，检测方法通过如上述任一项的检测系统得以实现，包括：获取玻璃盘上贴覆的底片与检测波发射盘之间的多组距离数据；将多组距离数据分别与预设距离进行作差以获得多组差值数据；判断多组差值数据是否超过预设差值；当任意一组差值数据超过预设差值时，确定底片的平整度不合格。
[0016]本专利技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本专利技术的检测机构包括：底座；固定部，固定部设置于底座上，包括第一固定部与第二固定部，第一固定部用于将玻璃盘垂直固定在底座上，第二固定部用于将检测波发射盘垂直固定在底座上；检测波组件，检测波组件包括检测波发射盘，检测波发射盘上均匀且间隔设置有多个检测波检测孔；其中，第一固定部与第二固定部对应设置，以使检测波发射盘与玻璃盘相对设置。通过上述机构，本专利技术能够准确地检测出玻璃盘上多处底片的平整度，减少底片出现拒曝或曝虚等现象，提高底片贴覆的合格率，减少产能浪费。
附图说明
[0017]图1是本专利技术提供的检测机构一实施例的结构示意图；
[0018]图2是图1实施例中检测波发射盘的正面结构示意图；
[0019]图3是本专利技术提供的检测机构另一实施例的结构示意图；
[0020]图4是图3实施例中检测波发射盘正面的结构示意图；
[0021]图5是本专利技术提供的检测系统一实施例的结构示意图；
[0022]图6是本专利技术提供的检测方法一实施例的流程示意图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本专利技术保护的范围。
[0024]需要说明，若本专利技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0025]另外，若本专利技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技
术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0026]请参阅图1
‑
图2，图1是本专利技术提供的检测机构一实施例的结构示意图。图2是图1实施例中检测波发射盘的正面结构示意图。
[0027]本实施例的检测机构10包括：底座11、固定部12、检测波组件13。固定部12设置于底座11上，包括第一固定部121和第二固定部122。检测波组件13包括检测波发射盘131。第一固定部121用于将玻璃盘14垂直固定在底座11上，第二固定部122用于将检测波发射盘131垂直固定在底座11上。当玻璃盘14与检测波发射盘131分别被固定在检测机构10上时，玻璃盘14与检测波发射盘131之间的距离固定，且为预设距离。检测波发射盘131的正面上均匀且间隔设置有多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测机构，用于检测底片和玻璃盘之间的平整度，所述底片贴覆于所述玻璃盘上，其特征在于，所述检测机构包括：底座；固定部，所述固定部设置于所述底座上，包括第一固定部与第二固定部，所述第一固定部用于将所述玻璃盘垂直固定在所述底座上，所述第二固定部用于将检测波发射盘垂直固定在所述底座上；检测波组件，所述检测波组件包括所述检测波发射盘，所述检测波发射盘上均匀且间隔设置有多个检测波检测孔，其中，所述第一固定部与所述第二固定部对应设置，以使所述检测波发射盘与所述玻璃盘相对设置。2.根据权利要求1所述的检测机构，其特征在于，当所述玻璃盘通过所述第一固定部垂直固定在所述底座上时，所述玻璃盘与所述检测波发射盘平行且间隔设置；其中，所述玻璃盘与所述检测波发射盘之间的距离固定。3.根据权利要求2所述的检测机构，其特征在于，所述玻璃盘与所述检测波发射盘的中心连线与所述底座平面相平行。4.根据权利要求1所述的检测机构，其特征在于，各所述检测波检测孔之间的距离范围为3
‑
10厘米，所述检测波检测孔的数量范围在24
‑
48内；各所述检测波检测孔用于向所述玻璃盘发射多束互相平行的检测波，多束所述检测波经所述玻璃盘垂直反射后，返回多个所述检测波检测孔内。5.根据权利要求1所述的检测机构，其特征在于，每一所述检测波检测孔中设置有检测波发射器与检测波接收器，所述检测波发射器用于向所述玻璃盘发射检测波，所述检测波接收器用于接收经所述玻璃盘反射的所述检测波。6.根据权利要求1所述的检测机构，其特征在于，所述检测波组件还包括：报警灯、...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨海龙，许静平，余波涛，
申请(专利权)人：深南电路股份有限公司，
类型：发明
国别省市：