一种开关设备，其包括通过连接点所连接的多个输入和输出，所述连接点构成由控制元件驱动、用于将在所述输入被供给的信号切换到所述输出的开关矩阵，所述设备包括由所述控制元件所控制的集成测试装置，以便于测试所述连接点的操作，其特征在于所述集成测试装置包括： －用于在所述输入的第一部分上产生第一预先设定测试序列的第一发生器； －用于在所述输入的第二部分上产生第二预先设定测试序列的第二发生器，所述发生器由一个且相同的时钟信号所馈给； －用于探测所述第一或第二测试序列是否在所述输出的第一部分被正确地接收的第一探测器，以及 －用于探测所述第一或第二测试序列是否在所述输出的第二部分被正确地接收的第二探测器。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及被提供有集成RF测试装置、专用于高速传输的集成电路。更具体地，它涉及一种开关设备，所述开关设备包括通过连接点所连接的多个输入和输出，所述连接点构成由控制元件驱动、用于将在所述输入被供给的信号切换到所述输出的开关矩阵，所述设备包括由所述控制元件所控制的集成测试装置，以便于测试所述连接点的操作。本专利技术还涉及一种包括这种设备的集成电路。最终，它涉及一种采用光学连接且包括这种设备的传输系统的自动开关。在变化范围可能高达每秒几吉比特的高速率下操作的集成电路需要适当的测试工具。的确，在生产期间的测试水平中难以向电路中外加注入具有这样高频率的信号。在序号EP 229 433下所公布的欧洲申请说明了一种用于组合式逻辑电路及包括这种设备的集成电路的测试电路。所述设备被提供有集成测试装置，借助于所述集成测试装置，正在生产的电路可以得到测试，即测试开关矩阵每个连接点的操作。这些装置包括用于产生预先设定测试信号的测试信号发生器，以及用于探测在开关设备输入处所供给的测试信号是否在输出处被正确地接收的探测器。采用如上述应用所说明的发生器与探测器的单耦合具有某些缺点。一方面，测试信号从测试信号发生器到即将被测试电路的所选择输入以及另一方面从对应的输出到信号探测器所经过的路径，对于RF传输来说相当长。在大多数情况下，所经过的路径大约等同于沿着电路两个侧面(即电路的上游及下游)的三倍。这个路径长度对于RF传输来说相当大，且可能对于电路的性能来说在起源处便具有有害的损失。另一缺点是这个测试配置意味着必须平行地沿着彼此处于相反方向的路径，即电路的上游及下游走，直至由于路线限制有时它们彼此交叉为止。平行的传输线和相反方向的那些传输线，以及线交叉也具有在RF传输中引入干扰的趋势。这些干扰对于电路的性能是有害的。在测试模式的操作期间，所采取的措施可能由于这些干扰显著地被改变，这降低了所实现测试的可靠性。为此，提供在首段落所说明类型的设备，所述设备其特征在于所述集成测试装置包括-用于在所述输入的第一部分上产生第一预先设定测试序列的第一发生器；-用于在所述输入的第二部分上产生第二预先设定测试序列的第二发生器，所述发生器由一个且相同的时钟信号所馈给；-用于探测所述第一或第二测试序列是否在所述输出的第一部分被正确地接收的第一探测器，以及-用于探测所述第一或第二测试序列是否在所述输出的第二部分被正确地接收的第二探测器。所述测试装置的这个配置将输入与输出分离成两个部分。每个发生器提供输入的一部分且每个探测器接收输出的一部分。这些测试装置提供限制RF信号在测试路径中沿着开关矩阵两侧所经过的距离且避免路径彼此交叉或变成更长的可能性。通过非限制性实例，参考随后所说明的实施例，本专利技术的这些及其它方面将显而易见且将被加以阐明。优选实施例详述附图说明图1示出根据现有技术的开关设备的一个实例，其包括如由欧洲专利申请号229 483所表示的集成测试装置。所述设备包括一个开关矩阵10，所述开关矩阵10具有多个被水平地设置在矩阵两个相对侧面上的输入IN1和IN2及多个垂直地设置在矩阵另两个侧面上的输出OUT1和OUT2。所述多个输入和输出分别示意性地由矩阵侧面上的单引入箭头和引出箭头来表示。所述开关矩阵允许通过连接点(未示出)矩阵的每个输入到每个输出的连接。提供所述的集成测试装置以控制矩阵每个连接点的操作。所述测试装置包括一个RF测试信号发生器11和一个信号探测器12，它们被设置在接近开关矩阵的两个相对角上且借助于RF传输路径被连接到输入和输出上。提供所述发生器11以在所述矩阵的输入处产生一个根据预先设定程序选择的预先设定测试序列。控制设备(未示出)提供对测试序列进行编程且选择对应于即将被测试的每个连接点的输入与输出的可能性。提供所述探测器12以探测所述测试序列是否在所选择的输出处被(正确地)接收。图1示出对于即将被测试每个连接点，RF测试信号所要经过的传输路径长度之和大约与开关矩阵的周长相同。此外，路径可能在要经过路径的重要部分上彼此交叉且变得更长，当RF信号在以吉赫兹数量级的高频下被传输时，通过引入干扰或噪声，其能够干扰矩阵操作。图2示出根据本专利技术的设备的一个实施例，借助于此公知设备的缺点可以得到补救。图2以非常示意性的方式示例出开关设备的一个实例，所述开关设备包括一个2n×2n类型的正方形开关矩阵20，其中n是整数，所述设备被提供有多个被表示为IN1至INn的输入及被表示为OUT1至OUT2n的输出。本专利技术还可适用于矩形的矩阵。根据所考虑的应用，每个输入与输出可以包括2个差分元件。所述设备包括集成测试装置，所述集成测试装置包括发生器21和探测器22的第一耦合及发生器23和探测器24的第二耦合，其由例如VCO(电压控制的振荡器)类型的提供周期时钟信号的时钟发生装置来互连。提供所述时钟发生装置VCO以将至少两个发生器按照同一时间基础同步化，这样在每个时钟前沿，所产生的信号根据预先设定的测试序列改变状态。从两个发生器被同步化的时刻开始，预先设定的测试序列可以从发生器到发生器而不同。提供所述第一耦合发生器21以将预先设定的RF测试序列仅供给可能的输入的一部分，即例如输入IN1至INn，以便于将即将经过的RF路径长度限制到沿着矩阵一侧的一倍长度。提供第一耦合探测器22以探测仅由输出的一部分即例如输出OUT1至OUTn所接收的信号，所述输出独立于在此已经提供接收信号的输入。探测器的作用是验证所考虑的连接点是否在有用的频率，例如12.5gbit/s下正确地运行。为此，所述探测器探测在所选择的对应于即将被测试连接点的输出处接收的序列是否与在对应输入处所供给的序列相同。优选地，这个已知序列在探测器水平被本地再生，并且随后与所接收的序列相比较，以便于确定所述序列是否相同并且推断所考虑的连接点是否正常运行。在对称方式下，提供第二耦合的发生器23和探测器24以分别产生和探测在分别被表示为INn+1至IN2n和OUTn+1至OUT2n的输入与输出的另一部分处所供给和接收的信号。已知耦合的每个发生器和每个探测器可以供给或接收打算送给或来自与发生器和探测器的同一耦合或与另一耦合相关的任何输入或输出的信号。实际上，探测器可以接收由任何一个RF信号发生器产生的信号。这是两个发生器为什么必须被同步化的原因。控制装置(未示出)允许预先设定的测试序列被编程且允许选择对应于即将被测试的每个连接点的输入与输出。由发生器21和23所产生的RF测试信号可以是PRBS类型(伪随机位流)的伪随机信号。这些信号以及其产生的方法是众所周知的。例如可以使用从7触发器寄存器及一个异或门所产生的27-1(127)个状态的伪随机序列。这些信号的详情已经在文献中加以说明。图3以详细方法示例出在图2示意性示出的根据本专利技术设备的一个实施例。所述设备包括一个开关矩阵30，所述开关矩阵30包括由即将被测试的开关31所表示的连接点。在图中仅示出矩阵的偶数输入和奇数输出。所述设备还包括用于RF信号的一个发生器32和探测器33的耦合，其旨在测试矩阵连接点的操作。分别对应于偶数输入和奇数输出的RF信号发生器和探测器的单耦合被示例于图3。所述信号发生器32通过上游传输路径34被连接到由IN0、IN2...IN2n表示的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：G·格洛尔格恩，O·博格，B·法斯，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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