【技术实现步骤摘要】
晶圆溶解治具和晶圆转移设备
[0001]本技术涉及晶圆治具
,具体而言,涉及一种晶圆溶解治具和晶圆转移设备。
技术介绍
[0002]现有晶圆(wafer)在加工后为了确保成品的良率,通常会进行必要的检测,检测时通常是在一个载具上涂布一层腊,利用腊的黏性将晶圆暂时地黏贴在该载具上。检测后,将黏贴有晶圆的载具一同浸入一个溶剂槽中进行下腊制程,当溶剂将腊去除后,原本黏贴在载具上的晶圆就会和该载具分离,以方便取出检测完成后的晶圆。
[0003]现有晶圆的下腊制程虽然可以将载具及晶圆分离,但是无法对不同尺寸的晶圆进行同时溶解,溶解效率低。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种晶圆溶解治具和晶圆转移设备,其能够同时溶解不同尺寸的晶圆,溶解效率高,适用范围广。
[0005]本技术的实施例是这样实现的:
[0006]第一方面,本技术提供一种晶圆溶解治具,包括载具本体,所述载具本体上设有晶圆放置槽,所述晶圆放置槽内设有第一承载台和第二承载台,所述第一承载台高于所述第二承载台且位于所述第一 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶圆溶解治具,其特征在于,包括载具本体,所述载具本体上设有晶圆放置槽,所述晶圆放置槽内设有第一承载台和第二承载台,所述第一承载台高于所述第二承载台且位于所述第一承载台的外围,所述第一承载台和所述第二承载台用于放置晶圆。2.根据权利要求1所述的晶圆溶解治具,其特征在于,所述晶圆放置槽的槽底设有浸润孔。3.根据权利要求1所述的晶圆溶解治具,其特征在于,所述晶圆放置槽的数量为一个或多个,若所述晶圆放置槽的数量为多个,多个所述晶圆放置槽间隔设置在所述载具本体上。4.根据权利要求1所述的晶圆溶解治具,其特征在于,所述载具本体上开设有第一分离孔,所述第一分离孔设于所述晶圆放置槽的外围。5.根据权利要求4所述的晶圆溶解治具,其特征在于,所述第一分离孔的数量为多个,多个所述第一分离孔关于所述载具本体的中心对称分布。6.根据权利要求4所述的晶圆溶解治具,其特征在于,所述载具本体上开设有第二分离孔,所述第二分离孔位于所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:何林,陈泽,
申请(专利权)人:甬矽半导体宁波有限公司,
类型:新型
国别省市:
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