一种开关测试负载模拟算法及数学模型制造技术

本发明专利技术涉及器具开关测试技术领域，具体涉及一种开关测试负载模拟算法及数学模型，设有i组子负载，i=1～N，首先根据公式计算出该子组负载电流I_sub1，然后添加新的子组负载电流I_sub2，，再根据公式I_subtotal=I_sub1*Q+I_sub2*S计算出各组的负载电流I_subtotal，最后根据公式I_total=I_subtotal*L计算出总的负载电流I_total。本发明专利技术的开关测试负载模拟算法及数学模型用模拟负载实现了各种负载特性，便于实现负载特性的数字控制和模拟，提升了各种负载的使用率，提高了检测过程的一致性。高了检测过程的一致性。

A load simulation algorithm and mathematical model for switch test

【技术实现步骤摘要】
一种开关测试负载模拟算法及数学模型


[0001]本专利技术涉及器具开关测试
，具体涉及一种开关测试负载模拟算法及数学模型。

技术介绍

[0002]在器具开关检测认证过程中，根据控制对象的不同，其负载特性各有不同，如果采用各种实际负载进行检测，一是费用较高，再是不易获取，三是实际负载的一致性难以达到要求，如何在检测过程中模拟各种负载特性、提供满足一致性要求的负载模拟系统，正是本技术要解决的问题。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术中存在的缺点和不足，本专利技术的目的在于提供一种开关测试负载模拟算法及数学模型。
[0004]本专利技术的目的通过下述技术方案实现：一种开关测试负载模拟算法，包括依次进行的以下步骤：步骤1，设有i组子负载，i=1～N，根据公式（1）计算出该子组负载电流I_sub1，具体步骤如下：A. 每组子负载均可调节阻抗值和功率因数，设每组子负载yi=fi(x)有m组调节因子，即：y1=f1(x)=f1(x1,x2,
…
,xm)y2=f2(x)=f2(x1,x2,
…
,xm)
…
yi=fi(x)=fi(x1,x2,
…
,xm)；B.因负载特性与负载通过的电流和时间t有关，令负载电流Ai=f(yi,ti)，则：A1=f(y1,t1)A2=f(y2,t2)
…
Ai=f(yi,ti)；其中，ti≥0，1/yi≥0，Ai≥0；C.令第j个子周期的负载电流为Ij，则：；D.若该周期特性需要重复cj次，共有P个子周期，
则该子组负载电流：
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（1）；步骤2，参照步骤1，添加新的子组负载电流I_sub2，有R个子周期，即：
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（2）；步骤3，计算出各组的负载电流I_subtotal，具体依据公式（3）计算：I_subtotal=I_sub1*Q+I_sub2*S
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（3）；式中：Q为子组负载电流I_sub1需要嵌套重复的次数，S为新的子组负载电流I_sub2需要嵌套重复的次数；步骤4，根据公式（4）计算出总的负载电流I_total，I_total=I_subtotal*L
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（4）；式中：L为各组负载电流需要重复的次数；所述步骤1中的子负载组数i、调节因子组数m、子周期数P以及所述步骤2中的子周期数R均为正整数。
[0005]所述步骤3中的重复周期Q、S以及所述步骤5中的重复周期L均为正整数，也可以为零，表示不重复。
[0006]本专利技术的另一目的通过下述技术方案实现：一种采用上述所述的开关测试负载模拟算法构建的数学模型。
[0007]本专利技术的有益效果在于：本专利技术的开关测试负载模拟算法及数学模型能够模拟器具开关实际应用过程中需要遇到的各种负载特性，方便各种负载特性模拟测试，控制灵活，使用方便，显著提升测试负载的一致性。
[0008]本专利技术的开关测试负载模拟算法及数学模型用模拟负载实现了各种负载特性，便于实现负载特性的数字控制和模拟，提升了各种负载的使用率，提高了检测过程的一致性。
具体实施方式
[0009]为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例对本专利技术作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本专利技术的限定。
[0010]实施例1一种开关测试负载模拟算法，包括依次进行的以下步骤：步骤1，设有i组子负载，i=1～N，根据公式（1）计算出该子组负载电流I_sub1，具体步骤如下：A. 每组子负载均可调节阻抗值和功率因数，设每组子负载yi=fi(x)有m组调节因子，即：y1=f1(x)=f1(x1,x2,
…
,xm)y2=f2(x)=f2(x1,x2,
…
,xm)
…
yi=fi(x)=fi(x1,x2,
…
,xm)；
B.因负载特性与负载通过的电流和时间t有关，令负载电流Ai=f(yi,ti)，则：A1=f(y1,t1)A2=f(y2,t2)
…
Ai=f(yi,ti)；其中，ti≥0，1/yi≥0，Ai≥0；C.令第j个子周期的负载电流为Ij，则：；D.若该周期特性需要重复cj次，共有P个子周期，则该子组负载电流：
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（1）；步骤2，参照步骤1，添加新的子组负载电流I_sub2，有R个子周期，即：
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（2）；步骤3，计算出各组的负载电流I_subtotal，具体依据公式（3）计算：I_subtotal=I_sub1*Q+I_sub2*S
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（3）；式中：Q为子组负载电流I_sub1需要嵌套重复的次数，S为新的子组负载电流I_sub2需要嵌套重复的次数；步骤4，根据公式（4）计算出总的负载电流I_total，I_total=I_subtotal*L
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（4）；式中：L为各组负载电流需要重复的次数。
[0011]所述步骤1中的子负载组数i、调节因子组数m、子周期数P以及所述步骤2中的子周期数R均为正整数。
[0012]所述步骤3中的重复周期Q、S以及所述步骤5中的重复周期L均为正整数，也可以为零，表示不重复。
[0013]一种采用上述所述的开关测试负载模拟算法构建的数学模型。
[0014]本专利技术的开关测试负载模拟算法及数学模型用模拟负载实现了各种负载特性，便于实现负载特性的数字控制和模拟，提升了各种负载的使用率，提高了检测过程的一致性。
[0015]上述实施例为本专利技术较佳的实现方案，除此之外，本专利技术还可以其它方式实现，在不脱离本专利技术构思的前提下任何显而易见的替换均在本专利技术的保护范围之内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开关测试负载模拟算法，其特征在于：包括依次进行的以下步骤：步骤1，设有i组子负载，i=1～N，根据公式（1）计算出该子组负载电流I_sub1，具体步骤如下：A. 每组子负载均可调节阻抗值和功率因数，设每组子负载yi=fi(x)有m组调节因子，即：y1=f1(x)=f1(x1,x2,
…
,xm)y2=f2(x)=f2(x1,x2,
…
,xm)
…
yi=fi(x)=fi(x1,x2,
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,xm)；B.因负载特性与负载通过的电流和时间t有关，令负载电流Ai=f(yi,ti)，则：A1=f(y1,t1)A2=f(y2,t2)
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Ai=f(yi,ti)；其中，ti≥0，1/yi≥0，Ai≥0；C.令第j个子周期的负载电流为Ij，则：；D.若该周期特性需要重复cj次，共有P个子周期，则该子组负载电流：
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【专利技术属性】
技术研发人员：杨斌，陈朝晖，
申请(专利权)人：德丰电创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：