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本发明涉及器具开关测试技术领域，具体涉及一种开关测试负载模拟算法及数学模型，设有i组子负载，i=1～N，首先根据公式计算出该子组负载电流I_sub1，然后添加新的子组负载电流I_sub2，，再根据公式I_subtotal=I_sub1*Q+...
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