彩色滤光基板、液晶盒及其制造方法技术

彩色滤光基板、液晶盒及其制造方法，所述彩色滤光基板包括：玻璃基板；红色区域、绿色区域、蓝色区域；黑色矩阵；在彩色滤光基板非显示区内设置测量区，所述测量区包括一个或多个特殊测试图案组合，所述特殊测试图案组合在其测试图案组合周围设置挡墙，所述挡墙适于阻挡或抑制其包围的测试图案组合边缘的间隔柱材料向周围流淌。本发明专利技术既能够采用常规间隔柱掩膜测试图案组合来评价各间隔柱顶端高度均一性，即能够同时对不同间隔柱尺寸条件下的柱高均一性进行检测/评价，同时又避免了间隔柱掩膜测试图案边缘处的间隔柱因材料流淌性造成的高度变异对检测/评价准确性所带来的负面影响，提高了检测/评价液晶盒中各间隔柱顶端高度均一性时的准确性。度均一性时的准确性。度均一性时的准确性。

【技术实现步骤摘要】
彩色滤光基板、液晶盒及其制造方法


[0001]本专利技术涉及显示器件
，特别是涉及一种彩色滤光基板、液晶盒及其制造方法。

技术介绍

[0002]液晶显示屏(Liquid Crystal Display，LCD)是一种常用的平面显示器，在电场的作用下，利用液晶分子的排列方向发生变化，使外光源透光率改变，完成电——光变换，再利用R、G、B(红、绿、蓝)三基色信号的不同激励，通过R、G、B三基色滤光膜，完成时域和空间域的彩色重显。
[0003]液晶显示屏具有耗电量低、体积小、辐射低等诸多优势，已广泛应用于日常生活和各行各业中，例如常用于电视机或计算机的屏幕显示等。
[0004]在液晶显示屏中，背光源发出白光，经过液晶盒(Cell)后，形成需要的图像。其中，液晶盒主要由薄膜晶体管阵列(Thin Film Transistor，TFT)和彩色滤光基板(Color Filter，CF)组成，彩色滤光基板上红色区域(R)、绿色区域(G)和蓝色区域(B)对背光源发出的白光进行过滤形成单色光。
[0005]液晶盒还包括间隔柱(PS)，间隔柱位于薄膜晶体管阵列和彩色滤光基板之间，起到支撑作用。各间隔柱顶端高度应当一致，这样有利于其上方所支撑的薄膜晶体管阵列平整。因此，在液晶盒的制造过程中，需要对各间隔柱顶端高度的均一性进行检测/评价。
[0006]现有技术中，部分方案采用在彩色滤光基板非显示区内设置测量区的方式来检测/评价间隔柱顶端高度的均一性，所述测量区包括一个或多个测试图案组合，但上述方案存在准确度不高的缺陷，检测得到的测量区的间隔柱的高度往往无法准确反应显示区间隔柱的实际高度；另一部分方案则无法同时对不同间隔柱尺寸(PS Size)条件下的柱高均一性进行检测/评价，即不同间隔柱尺寸的间隔柱要分别检测/评价，效率低。

技术实现思路

[0007]本专利技术解决的技术问题是：如何准确且高效的检测/评价液晶盒中各间隔柱顶端高度的均一性。
[0008]为了解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种彩色滤光基板，包括：
[0009]玻璃基板；
[0010]一个或多个红色区域、绿色区域、蓝色区域；
[0011]一个或多个黑色矩阵；
[0012]彩色滤光基板具有显示区和非显示区，在彩色滤光基板非显示区内设置测量区，所述测量区包括一个或多个特殊测试图案组合，所述特殊测试图案组合在其测试图案组合周围设置挡墙，所述挡墙适于阻挡或抑制其包围的测试图案组合边缘的间隔柱材料向周围流淌。
[0013]可选的，所述黑色矩阵位于相邻的红色区域与绿色区域之间/相邻的红色区域与
蓝色区域之间/相邻的绿色区域与蓝色区域之间，且黑色矩阵与其两侧相邻的红色区域/绿色区域/蓝色区域具有重叠区域。
[0014]可选的，所述挡墙位于黑色矩阵基底边缘。
[0015]可选的，所述挡墙的高度小于或等于该液晶盒显示区和非显示区内的间隔柱高度。
[0016]可选的，所述挡墙由光阻堆叠而成。
[0017]可选的，根据不同产品的光阻膜厚规格，来确定光阻的线宽、光阻堆叠部分的厚度、光阻堆叠部分的面积。
[0018]可选的，所述彩色滤光基板还包括：一个或多个黄色区域和/或白色区域。
[0019]为了解决上述技术问题，本专利技术实施例还提供一种液晶盒，包括：
[0020]薄膜晶体管阵列；
[0021]彩色滤光基板，所述彩色滤光基板为如上所述的彩色滤光基板；
[0022]液晶，位于薄膜晶体管阵列和彩色滤光基板之间；
[0023]一个或多个间隔柱，位于薄膜晶体管阵列和彩色滤光基板之间，适于支撑其两端的薄膜晶体管阵列和彩色滤光基板。
[0024]为了解决上述技术问题，本专利技术实施例还提供一种液晶盒的制造方法，所述液晶盒包括如上所述的彩色滤光基板，在液晶盒的制造过程中，检测/评价各间隔柱顶端高度均一性是否合格。
[0025]可选的，所述检测/评价各间隔柱顶端高度均一性是否合格具体是，采用间隔柱掩膜测试图案组合来检测/评价各间隔柱顶端高度均一性是否合格。
[0026]与现有技术相比，本专利技术的技术方案具有以下有益效果：
[0027]彩色滤光基板具有显示区和非显示区，在彩色滤光基板非显示区内设置测量区，所述测量区包括一个或多个特殊测试图案组合，所述特殊测试图案组合在其测试图案组合周围设置挡墙，所述挡墙适于阻挡或抑制其包围的测试图案组合边缘的间隔柱材料向周围流淌，从而既能够采用常规测试图案组合来评价各间隔柱顶端高度均一性，即能够同时对不同间隔柱条件下的柱高均一性进行检测/评价，同时又避免了间隔柱掩膜测试图案边缘处的间隔柱因材料流淌性造成的高度变异对检测/评价准确性所带来的负面影响，提高了检测/评价液晶盒中各间隔柱顶端高度均一性时的准确性。
[0028]进一步的，该方案同时也增加了间隔柱开口图案的数量，使得检测/评价各间隔柱顶端高度均一性的过程中可供选择的间隔柱开口图案更多，即选择余地更大。
[0029]进一步的，根据不同产品的光阻膜厚规格，来确定光阻的线宽、光阻堆叠部分的厚度、光阻堆叠部分的面积，从而能够适应各种不同间隔柱尺寸的产品。
[0030]进一步的，依据不同Mask开口与间隔柱高度的关系，能够方便的获得不同间隔柱材料的柱高均一性的差异，同时也能够方便的掌握不同间隔柱材料的最小Mask开口的设计值。
附图说明
[0031]图1为现有技术中彩色滤光基板结构示意图；
[0032]图2为本专利技术实施例中彩色滤光基板非显示区结构示意图(俯视图)；
[0033]图3为本专利技术实施例中彩色滤光基板非显示区结构示意图(剖视图)；
[0034]其中：101——玻璃基板；102——红色区域；103——绿色区域；104——蓝色区域；105——黑色矩阵；106——间隔柱；107——显示区；108——非显示区；109——测试图案组合。
具体实施方式
[0035]根据
技术介绍
部分的分析可知，液晶盒包括间隔柱(PS)，间隔柱位于薄膜晶体管阵列和彩色滤光基板之间，起到支撑作用。各间隔柱顶端高度应当一致，这样有利于其上方所支撑的薄膜晶体管阵列平整。因此，在液晶盒的制造过程中，需要对各间隔柱顶端高度的均一性进行检测/评价。
[0036]但现有技术中部分方案采用在彩色滤光基板非显示区内设置测量区的方式来检测/评价间隔柱顶端高度的均一性，所述测量区包括一个或多个测试图案组合，但上述方案存在准确度不高的缺陷，检测得到的测量区的间隔柱的高度往往无法准确反应显示区间隔柱的实际高度；另一部分方案则无法同时对不同间隔柱尺寸(PS Size)条件下的柱高均一性进行检测/评价，即不同间隔柱尺寸的间隔柱要分别检测/评价，效率低。
[0037]专利技术人经研究后发现，就现有技术中采用测试图案组合(Test Element Group，TEG)来评价各间隔柱顶端高度均一性的方案而言，因产品排布原因，设定的测试图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种彩色滤光基板，其特征在于，包括：玻璃基板；一个或多个红色区域、绿色区域、蓝色区域；一个或多个黑色矩阵；彩色滤光基板具有显示区和非显示区，在彩色滤光基板非显示区内设置测量区，所述测量区包括一个或多个特殊测试图案组合，所述特殊测试图案组合在其测试图案组合周围设置挡墙，所述挡墙适于阻挡或抑制其包围的测试图案组合边缘的间隔柱材料向周围流淌。2.如权利要求1所述的彩色滤光基板，其特征在于，所述黑色矩阵位于相邻的红色区域与绿色区域之间/相邻的红色区域与蓝色区域之间/相邻的绿色区域与蓝色区域之间，且黑色矩阵与其两侧相邻的红色区域/绿色区域/蓝色区域具有重叠区域。3.如权利要求1所述的彩色滤光基板，其特征在于，所述挡墙位于黑色矩阵基底边缘。4.如权利要求1所述的彩色滤光基板，其特征在于，所述挡墙的高度小于或等于该液晶盒显示区和非显示区内的间隔柱高度。5.如权利要求1所述的彩色滤光基板，其特征在于，所述挡墙由光阻堆叠而成。6.如权利要求5所...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐广军，范刚洪，唐文静，李响，
申请(专利权)人：上海仪电显示材料有限公司，
类型：发明
国别省市：