一种基于图像传感器的坏点检测及补偿方法技术

本发明专利技术公开了一种基于图像传感器的坏点检测及补偿方法，该方法步骤包括：插入备用像素列、坏点检测与识别、坏点位置信息存储、坏点替换、无效像素点的去除。本发明专利技术还公开了坏点补偿系统，包括坏点检测模块、存储模块、坏点替换模块、无效像素点去除模块。该坏点检测及补偿方法，能够提高数据的可靠性，实时地对坏点进行检测与补偿。进行检测与补偿。

【技术实现步骤摘要】
一种基于图像传感器的坏点检测及补偿方法


[0001]本专利技术涉及图像处理
，具体而言，涉及一种基于图像传感器的坏点检测及补偿方法。

技术介绍

[0002]由于制造工艺水平的原因，使得图像传感器不可避免地会出现部分不正常的感光单元，一般称之为坏点。另外，随着图像传感器设备的使用年限的增加相应地也会产生更多的坏点。坏点的产生会影响画质质量，甚至使得图像中部分重要信息丢失。
[0003]目前常见的图像坏点补偿方法是采用邻近的实际像素点来替换。这种采用近似值补偿的方式，在对数据的可靠性要求较高的应用场景时，比如安防、车载等领域，这种方法因邻近像素点的亮度值不能够表征该坏点的实际亮度，而导致数据的可靠性不能满足应用需求。此外，现有一些图像坏点检测算法存在误检率较高的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是：目前图像坏点检测存在误检率较高且坏点补偿后可靠性不能满足需求的问题。目的在于提供一种基于图像传感器的图像坏点检测及补偿方法，通过将待检测点的亮度与相邻像素点的亮度的差值与寄存器设定的阈值进行比较，实现基于实际场景变化实时检测并识别出坏点，从而提高坏点检出率。此外，通过插入备用像素以实际的像素亮度值来替换坏点像素，从而提高了数据的可靠性。
[0005]本专利技术通过下述技术方案实现：第一方面，本专利技术提供一种基于图像传感器的坏点检测方法，包括以下步骤：S1、计算待检测点水平方向上相邻的两个像素点的亮度值的平均值；S2、图像坏点的判断：当待检测点的亮度值与相邻两像素点的亮度平均值的差值的绝对值大于阈值TH时，判定该待检测点C为坏点；当待检测点的亮度值与相邻两像素点的亮度平均值的差值的绝对值小于阈值TH时，判定该待检测点C为正常点；所述阈值TH用来表征待检测点的亮度值与相邻像素点亮度值的差值的幅度。
[0006]按照上述步骤S1、S2的顺序，依次循环检测每一个像素点从而识别出所有坏点。
[0007]第二方面，本专利技术提供一种基于图像传感器的坏点补偿方法，包括以下步骤：T1、以像素列的形式插入备用像素点，形成备用像素列；作为对本专利技术的进一步描述，所述备用像素列均匀地分布在普通像素间。
[0008]作为对本专利技术的进一步描述，所述备用像素列集中分布在普通像素的两侧。
[0009]T2、采用上述坏点检测的方法，识别出坏点；T3、存储坏点位置信息；作为对本专利技术的进一步描述，所述坏点位置信息包括坏点的横坐标信息，该坐标
信息在每一行开始时进行复位。
[0010]T4、根据距离最近原则进行坏点的替换；作为对本专利技术的进一步描述，所述坏点的替换包括以下步骤：4.1、根据坏点与备用像素列的水平距离，选出可使用的备用像素列；4.2、将与坏点在同一水平位置的相邻像素点至步骤4.1所选出的可使用的备用像素列的对应像素点的整段像素，沿水平方向向坏点位置平移。
[0011]T5、无效像素点的去除；所述无效像素点包括被替换的坏点、未被启用的备用像素点。
[0012]作为对本专利技术的进一步描述，所述无效像素点的去除包括以下步骤：5.1、将所有像素信息按数据输出顺序写入SRAM；所述像素信息包括所有像素点的亮度值、无效像素点的位置；5.2、像素信息的读出；先将无效像素点信息读出，然后再按顺序读出像素数据；在SRAM读出后增设缓冲器FIFO，写入缓冲器FIFO时，无效像素点将不被写入，这样就能够去除无效的像素点。
[0013]第三方面，本专利技术还提供一种基于图像传感器的图像坏点补偿系统，该系统包括：坏点检测模块，用于根据待检测点的亮度值与相邻像素点亮度值的差值的幅度判断并识别出坏点；存储模块，用于存储坏点的位置信息；坏点替换模块，用于将筛选出来的备用像素点替换坏点；无效像素点去除模块，用于在像素读出时将被替换的坏点、未被启用的备用像素点的信息去除。
[0014]作为对本专利技术的进一步描述，所述坏点检测模块包括：阈值设定单元，用于根据场景的明暗变化设置阈值TH；计算与判断单元，用于计算待检测点的亮度值与相邻像素点平均亮度值的差值，并将该计算值与阈值TH进行比较，判断待检测点是否为坏点；所述坏点替换模块包括：坏点与备用像素列的距离计算单元，用于计算坏点与备用像素列的水平距离。
[0015]本专利技术与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：1、采用实际的像素亮度值来替换坏点像素的亮度值，在保持数据的真实性方面具有一定优势，尤其是在安防、车载等对数据的可靠性要求较高的场景时，能够保证补偿后数据的可靠性。
[0016]2、本申请能够实现在图像传感器的使用过程中，实时地进行坏点检测，并进行实时补偿。
[0017]3、本申请能够实现对每行的像素点进行单独的检测及补偿，各行之间互不关联，与常见的整列像素进行替换的做法相比，由于只是单个像素点的替换，节约了备用像素，增大了补偿的范围。
[0018]4、本申请提供的坏点检测方法，能够根据场景变化实时进行动态的调整，提高了坏点识别的准确率。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术示例性实施方式的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0020]图1为本专利技术实施例1提供的图像坏点检测与判断示意图；图2为本专利技术实施例1提供的图像坏点检测及补偿的方法流程图；图3为本专利技术实施例1提供的备用像素的配置示意图；图4为本专利技术实施例1提供的备用像素替换坏点的电路工作时序；图5为本专利技术实施例1提供的多个坏点进行备用像素替换的电路工作时序；图6为本专利技术实施例1提供的图像坏点替换的示意图。
具体实施方式
[0021]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。
[0022]在整个说明书中，对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”或“示例”的提及意味着：结合该实施例或示例描述的特定特征、结构或特性被包含在本专利技术至少一个实施例中。因此，在整个说明书的各个地方出现的短语“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”或“示例”不一定都指同一实施例或示例。此外，可以以任何适当的组合和、或子组合将特定的特征、结构或特性组合在一个或多个实施例或示例中。此外，本领域普通技术人员应当理解，在此提供的示图都是为了说明的目的，并且示图不一定是按比例绘制的。这里使用的术语“和/或”包括一个或多个相关列出的项目的任何和所有组合。
[0023]实施例1为解决现有技术存在的不足，提高图像坏点检测的准确性，以及坏点补偿的可靠性。本实施例提供了一种基于图像传感器的图像坏点检测及补偿方法。
[0024]具体地，该图像坏点检测方法包括：S1、计算待检测点水平方向上相邻的两个像素点的亮度值的平均值；如图1所示，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于图像传感器的坏点检测方法，其特征在于，该坏点检测方法包括：S1、计算待检测点水平方向上相邻的两个像素点的亮度值的平均值；S2、图像坏点的判断；当待检测点的亮度值与相邻两像素点的亮度平均值的差值的绝对值大于阈值TH时，判定该待检测点C为坏点；所述阈值TH用来表征待检测点的亮度值与相邻像素点亮度值的差值的幅度；按照上述步骤S1、S2的顺序，依次循环检测每一个像素点从而识别出所有坏点。2.一种基于图像传感器的坏点补偿方法，其特征在于，该坏点补偿方法包括：T1、以像素列的形式插入备用像素点，形成备用像素列；T2、采用如权利要求1所述的坏点检测方法，识别出坏点；T3、存储坏点位置信息；T4、根据距离最近原则进行坏点的替换；所述坏点的替换包括以下步骤：4.1、根据坏点与备用像素列的水平距离，选出可使用的备用像素列；4.2、将与坏点在同一水平位置的相邻像素点至所述步骤4.1所选出的可使用的备用像素列的对应像素点的整段像素，沿水平方向向坏点位置平移；T5、无效像素点的去除；所述无效像素点包括被替换的坏点、未被启用的备用像素点。3.根据权利要求2所述的坏点补偿方法，其特征在于，所述步骤T1中备用像素列均匀地分布在普通像素间或备用像素列集中分布在普通像素的两侧。4.根据权利要求2所述的坏点补偿方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ五一IntClH零四N一七零零，
申请(专利权)人：四川创安微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：